基于量子粒子群优化的正交小波加权多模盲均衡算法

针对常数模盲均衡算法(CMA)均衡高阶正交振幅调制信号(QAM)存在收敛速度慢、稳态误差大的缺点, 提出了基于量子粒子群优化的正交小波加权多模盲均衡算法(QPSO-WTWMMA). 该算法根据高阶QAM信号星座图分布特点, 将量子粒子群优化算法(QPSO) 和正交小波变换融入于加权多模盲均衡算法(WMMA)中. 因而, 利用QPSO对均衡器权向量进行了优化, 利用正交小波变换降低了输入信号的自相关性, 利用WMMA选择了合适的误差模型匹配QAM星座图. 理论分析及水声信道仿真结果表明, QPSO-WTWMMA算法可以获得更快的收敛速度和更低的稳态误差, 在水声通信中具有重要的参考价值.     

量子势阱粒子群优化算法的改进研究

为提高量子势阱粒子群优化算法的优化能力, 通过分析目前量子势阱粒子群优化算法的设计过程, 提出了改进的量子势阱粒子群优化算法. 首先, 分别基于Delta势阱、谐振子和方势阱 提出了改进的量子势阱粒子群优化算法, 并提出了基于统计量均值的控制参数设计方法. 然后, 在势阱中心的设计方面, 为强调全局最优粒子的指导作用, 提出了基于自身最优粒子加权平均和动态随机变量的两种设计策略. 实验结果表明, 三种势阱粒子群优化算法性能比较接近, 都优于原算法, 且Delta势阱模型略优于其他两种.     

超-超引射器多目标优化设计

推导出了超-超引射器性能计算和优化设计模型,借助Pareto优胜、Pareto最优解和Pareto前端等概念,采用基于多目标进化/分解算法（MOEA/D）的多目标优化方法,计算得到超-超引射器多目标优化问题的Pareto前端,解决了超-超引射器多目标优化设计问题,并与常规参数分析方法进行了比较。结果表明:超-超引射器性能影响参数相互关系复杂,增压比和引射系数作为引射器主要性能参数相互冲突,通过常规分析难以得到较清晰的设计准则,利用多目标优化设计方法可有效地辅助多属性决策和系统优化设计。     

分离扇回旋加速器的等时场在线优化

针对兰州重离子加速器冷却储存环（HIRFL-CSR）的分离扇回旋加速器（SSC）的等时场优化问题,依托HIRFL-CSR的主数据库系统Oracle,设计了系统控制界面,该界面不仅能够读取和给定电源电流值,而且能够实时更新束流相位信息。根据束流相位的实时数据,利用Kb-Kr方法以及Lagrange插值算法建立的等时场,实现了对SSC束流等时场的在线优化。优化后的等时场可以有效控制束流相位的漂移,提高束流品质。     

一种实用的使用铁磁材料匀场的开放式超导MRI磁体的优化方法(英文)

磁共振成像(MRI)系统是一种重要的医学诊断设备。作者提出了一种针对使用铁磁材料匀场的开放式超导MRI主磁场匀场的优化方法。在这种方法中,为了使这种包含非线性铁磁轭结构的MRI磁体产生高均匀度的磁场,集成了改进的多输入多输出负反馈控制理论和有限元方法,来计算匀场区非线性铁磁材料的形状。特别要指出的是,这种方法对初始值的要求不高,一定可以收敛,如果配置得当,可以快速收敛。另外,由于收敛速度快,这种方法也可以应用于大型的非轴对称三维模型优化分析。在文中,作者在一个二维轴对称磁体模型上测试了该方法,表现良好。     

基于蚁群优化的IP over WDM光网络动态生存性映射算法

随着光网络规模的不断扩大以及网络体系结构的扁平化过程加速,网络传输的可靠性和实时性以及生存性路面算法本身面临新的挑战本文在单点割集的松弛生存性约束条件下,结合动态业务下的IP over WDM光网络的特点.借助蚁群优化算法的强鲁棒性和记忆能力,通过改变与调整蚁群优化算法结构中的信息素结构与其更新机制,在动态路由选择过程中,引入网络可生存性约束信息改进路由选择概率计算机制,来实现IP over WDM光网络动态生存性映射的路由策略,与其他同类算法相比,该算法不再存储网络备用路由集和物理拓扑自身庞大的割集关系,在保证网络生存性效果的前提下,通过割集松弛条件有效降低了计算的时间复杂度,提高算法收敛速度,适应网络实时性要求,仿真结果表明:与传统最短路算法比较,该算法能有效提高动态光网络的可生存性映射性能和网络的资源利用效率,并降低业务阻塞率.     

初中物理演示实验教学的优化

实验是物理学科的基础,所以在初中物理教学中,实验占有不可小觑的一席之地。实验教学当中,演示实验过程属于较为重要的部分,有助于培养学生物理的学习能力和素质。初中物理的新课程,已经从课堂走向了实际生活,更多的充满趣味和探索性,同时也兼顾了人文情怀和科技因素。     

Two-step pose estimation method based on five reference points

A two-step method for pose estimation based on five co-planar reference points is studied.In the first step, the pose of the object is estimated by a simple analytical solving process.The pixel coordinates of reference points on the image plane are extracted through image processing.Then,using affine invariants of the reference points with certain distances between each other,the coordinates of reference points in the camera coordinate system are solved.In the second step,the results obtained in the first step are used as initial values of an iterative solving process for gathering the exact solution.In such a solution,an unconstrained nonlinear optimization objective function is established through the objective functions produced by the depth estimation and the co-planarity of the five reference points to ensure the accuracy and convergence rate of the non-linear algorithm.The Levenberg-Marquardt optimization method is utilized to refine the initial values.The coordinates of the reference points in the camera coordinate system are obtained and transformed into the pose of the object.Experimental results show that the RMS of the azimuth angle reaches 0.076°in the measurement range of 0°-90°;the root mean square(RMS) of the pitch angle reaches 0.035°in the measurement range of 0°-60°:and the RMS of the roll angle reaches 0.036°in the measurement range of 0°-60°.     

Precision position measurement of single atom

Atom localization in a five-level atomic system under the effect of three driving fields and one standing wave field is suggested. A spontaneously emitted photon from the proposed system is measured in a detector. Precision position measurement of an atom is controlled via phase and vacuum field detuning without considering the parity violation.     

In situ aberration measurement technique based on multi-illumination settings and principal component analysis of aerial images

The impact of lens aberrations becomes severe when the critical dimensions (CDs) shrink. The accurate measurement of both low- and high-order Zernike aberrations is important during a photolithographic process. Based on the multi-illumination settings and principal component analysis of aerial images, a novel in situ aberration measurement technique that can accurately measure all the Zernike aberrations, except for the sinusoidal 2-θ and sinusoidal 4-θ terms (under polar coordinates, and Z 1 to Z 4 are not considered) is proposed in this letter. The estimated maximum error of the Zernike aberrations ranges from 0.43 to 0.78 mλ when the amplitudes of the Zernike coefficients range from -20 to 20 mλ. The standard and root mean square errors are both in the range from 0.14 to 0.4 mλ.