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The impact of lens aberrations becomes severe when the critical dimensions (CDs) shrink. The accurate measurement of both low- and high-order Zernike aberrations is important during a photolithographic process. Based on the multi-illumination settings and principal component analysis of aerial images, a novel in situ aberration measurement technique that can accurately measure all the Zernike aberrations, except for the sinusoidal 2-θ and sinusoidal 4-θ terms (under polar coordinates, and Z 1 to Z 4 are not considered) is proposed in this letter. The estimated maximum error of the Zernike aberrations ranges from 0.43 to 0.78 mλ when the amplitudes of the Zernike coefficients range from -20 to 20 mλ. The standard and root mean square errors are both in the range from 0.14 to 0.4 mλ. 相似文献
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提出了一种基于空间像自适应降噪的投影物镜波像差检测方法。通过对空间像进行统计分析,获取空间像的噪声模型和噪声标准差模型。以噪声标准差为权重因子,利用加权最小二乘法对空间像进行主成分分解,可以实现对空间像的自适应、无损降噪,从而得到更为精确的主成分系数和泽尼克系数。使用光刻仿真软件PROLITH的仿真结果表明,在相同的噪声水平下,0.1λ像差幅值内,与基于空间像主成分分析的波像差检测技术相比,精度提高30%以上。在使用光刻实验平台测量Z8调整量的实验中,该方法的精度更高。 相似文献
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提出一种基于阶梯相位环空间像主成分分析的光刻投影物镜波像差检测方法。通过对相位环空间像进行主成分分析和多元线性回归分析,构建了空间像光强分布与波像差之间的线性模型,并基于该模型实现了波像差检测。与使用孤立空检测标记的传统方法相比,使用新检测标记能够消除不同种类波像差之间的串扰问题,提高像差检测精度。同时,分析了空间像的离焦误差对波像差检测精度的影响,并提出了一种迭代算法用于确定实测空间像的离焦误差,其测量精度优于1nm。光刻仿真软件Dr.LiTHO的仿真结果表明,该法有能力检测12项泽尼克系数(Z5~Z16),最大系统误差约为1×10-3λ,检测速度可提高一倍以上。 相似文献
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