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In this paper a detailed simulation and theoretical analysis based on model-solid theory and the(→κ)·(→ρ)methodare presented to investigate the dependence of the band structure on the strain deformation in a noveltype-Ⅱ quantum well(QW)heterostructure InAs1_ySby/GaxIn1-xSb under the uniaxial approximation,and subsequently the optical transition and the gain in the interband cascade lasers containing it havebeen evaluated with unchanged injection current densities.The simulation results show that the straineffect on the transition in this heterostructure will not behave as a simple monotonic trend with the latticemismatch of InAs1_ySby/GaxIn1_xSb interface,but as a function of the complex strain chain includingthe whole active region.It is important to the subsequent device design and optimization. 相似文献
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采用NbCl5作为先驱物,利用溶胶-凝胶法在Si(100)衬底上成功获得高度择优取向的铁电铌酸锶钡(SBN)薄膜.与用Nb(OC2H5)5作为先驱物的SBN薄膜相比,NbCl5配制的薄膜前驱溶液中含有一定数量的K离子.K离子的含量对SBN薄膜取向的影响存在一个最优值.二次离子质谱测试发现,K离子对SBN晶胞的溶入和对Si衬底的渗透能够同时使SBN晶胞和Si晶胞产生微小扭曲,从而起到调整薄膜与衬底的匹配关系,并最终促使SBN薄膜c轴高度择优取向的生长.测试了薄膜的光学特性.
关键词:
铌酸锶钡
溶胶-凝胶方法
择优取向 相似文献
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We investigate the Goos-Hgnchen effect of a Gaussian light beam reflected by the thin-film Fabry-Perot filter. It is shown that the Goos-Hanchen shift can be either negative or positive, The Gaussian-beam analysis and stationary phase method are introduced to calculate the lateral shift between the incident beam and the reflected beam at different wavelengths and to analyse the Goos-Hgnchen effect in the thin-film Fabry-Perot filter, The effect of the incident beam diameter is also discussed, 相似文献
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确定薄膜厚度和光学常数的一种新方法 总被引:20,自引:7,他引:13
借助于不同的色散公式,运用改进的单纯形法拟合分光光度计测得的透过率光谱曲线,来获得薄膜的光学常数和厚度。用科契公式分别对电子束蒸发的TiO2和反应磁控溅射的Si3N4,以及用德鲁特公式对电子束蒸发制备的ITO薄膜进行了测试,结果表明测得的光学常数和厚度,与已知的光学常数以及台阶仪测得的结果具有很好的一致性。这种方法不仅简便,而且不需要输入任何初始值,具有全局优化的能力,对厚度较薄的薄膜也可行。采用不同的色散公式可以获得各种不同薄膜的光学常数和厚度,这在光学薄膜、微电子和微光机电系统中具有实际的应用价值。 相似文献
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投影光学系统中的偏振像差分析 总被引:2,自引:0,他引:2
当光束斜入射时,光学薄膜存在一定的偏振效应。在飞利浦棱镜系统中,当一定大小孔径角的照明光束斜入射到分色合色薄膜后,S偏振分量和P偏振分量存在一定的相位差,使得线偏振光变成椭圆偏振光。利用琼斯矩阵偏振光线追迹的方法,分析了投影光学系统中由于两偏振分量相位差引起的偏振像差,以及它与暗态泄漏光强和系统衬比度的关系。得出了系统出瞳面上的光波偏振特性,以及在不同大小孔径角的照明光束入射下偏振像差的变化。分析了膜厚监控误差对光学系统偏振像差的影响,发现膜厚监控误差对偏振像差和系统衬比度有很大的影响。所使用的分析方法可以应用于其他大口径光学系统。 相似文献