CdSe薄膜的制备及性能表征

室温下,以CdSO4H1SeO3和Na2SO4为原料,采用二电极体系,利用电化学法在ITO玻璃基底上沉积了CdSe薄膜.采用高分辨x射线衍射仪(HRXRD)、场发射扫描电镜(FESEM)、原子力显微镜(AFM)、紫外.可见.近红外(UV-VIS-NIR)分光光度计、荧光分光光度计(PL)对不同沉积电压下所制备的薄膜的晶体结构、形貌及光学性能进行分析表征.结果表明:所制备的薄膜为立方相CdSe,呈纳米颗粒状,部分粒子表现出不均匀团聚.紫外吸收光谱的吸收峰较体相CdSe有较大的蓝移,且导致禁带宽度发生改变,表现出量子尺寸效应.样品发射光谱表现出荧光现象,且单色性好.适当的沉积电压对CdSe薄膜的形貌和质量起关键作用,同时讨论了其反应机理.     

微波水热时间对CuS微晶形貌及光学性能的影响

采用微波水热法,以Cu(NO3)2·3H2O和SC(NH2)2为原料,在无模板剂的条件下,对靛铜矿CuS微晶进行了形貌的可控制备.利用X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)和紫外可见吸收光谱(UV-vis)分别对产物的物相,形貌和光学性能进行了表征.结果表明:微波水热条件下,反应温度为150℃时,反应时间仅为5 min即可得到CuS微晶,随着反应时间的延长,产物的结晶性逐渐提高,同时其形貌由纳米片形成的花球形逐渐转变为卷曲的棒状结构.所制备的CuS微晶具有较强的可见光吸收特性,同块体材料相比有明显的红移,其光学禁带宽度显著降低.此外,伴随产物形貌随时间的变化,其禁带宽度也发生相应改变,表明通过改变微波加热时间(10 ～40min),可对所得产物的光学性质进行控制.     

汶川地震地表破裂影响带调查与建筑场地避让宽度探讨

5.12汶川Ms8.0级地震沿龙门山中央断裂带形成长度约270km的地表破裂带,破裂带垂直和水平位移一般为1.0～5.0m,最大可达9.8m。在地表破裂带附近,建筑物破坏严重。笔者系统调查了龙门山中央断裂带地表破裂的垂直和水平位移以及地震地表破裂影响带宽度,并采用物探测试方法对部分影响带宽度进行了验证。统计结果表明,汶川地震地表破裂影响带宽度主要集中在16～60m,影响带宽度（D）与垂直位移（H）具有较好的线性关系,即D=10.11H+16.0。对于逆冲性质为主的地震地表破裂而言,上盘影响带宽度与下盘的比值一般为3：1～2：1,据此可确定地表破裂带上、下盘的避让带宽度。笔者根据现场调查并借鉴国外经验提出,上盘避让宽度下限一般不应低于15m,下盘避让宽度下限不应低于10m。本项研究对于汶川地震灾后重建场地选址具有重要的实际意义。
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使用广义粗网有限差分方法加速中子输运特征线方法

提出广义粗网有限差分方法(GCMFD),可以使用三维任意几何形状的粗网格来加速中子输运特征线方法(MOC),同时给出确定广义粗网有限差分方法中宽度因子的方法.将广义粗网有限差分方法应用到三维特征线方法程序TCM中,若干基准题的验证表明,广义粗网有限差分方法可以使用任意形状粗网格来加速特征线方法,使用自动调整宽度因子的方法后,广义粗网格有限差分方法可以得到较好的加速效果.     

激光法测定硝唑尼特结晶介稳区间

用激光法测定了不同温度下硝唑尼特在N,N-二甲基甲酰胺（DMF）、二甲基亚砜（DMSO）、甲醇和丙酮4种溶剂体系中的溶解度与超溶解度,得到硝唑尼特在不同溶剂和不同温度下的介稳区宽度。 结果表明,硝唑尼特在4种溶剂体系中的溶解度、超溶解度和介稳区宽度随温度升高逐渐增大。 在相同温度下,硝唑尼特在DMF、DMSO、甲醇和丙酮中介稳区宽度关系为：丙酮＜DMSO＜甲醇＜DMF。     

分散液膜气/液/固三相线界面区宽度在金属大气腐蚀中的作用(英文)

使用接触角测量和电化学技术研究了三相线界面区(TPB)宽度在分散液膜下金属腐蚀过程中的作用.研究发现,阴极极限电流和腐蚀电流密度随TPB宽度增加而线性增大,表明TPB宽度对气/液/固多相体系腐蚀过程具有重要影响.因此,可根据TPB宽度评价分散液膜厚度对大气腐蚀速率之影响.     

功率型白光LED的非线性混合调光方法

分析脉冲宽度调制(PWM)双通道输出白光LED的混合调光方法,建立PWM与混合光源输出的光通量和色温之间变化关系的非线性数学模型。基于Zig Bee无线通信模块CC2530作为双路PWM输出,控制以SN3350为核心的LED恒流驱动电源,完成占空比可调的暖白和冷白两路白光LED的色温和光通量混合调光控制系统设计,并通过高精度快速光谱辐射计HAAS-2000测试系统进行测试。实验结果表明,双路PWM能够较好地实现对LED色温和光通量的输出大小进行控制,混合光源相关色温在3 250~15 000 K范围内连续可调。理论计算与系统控制的光通量和色温存在的相对误差分别小于1.70%和8.50%。     

闪烁体衰减常数对辐射源边界测量影响数值模拟

在辐射成像系统测量辐射源边界中,有闪烁体时间弥散效应得到的边界值与没有闪烁体时的真实边界值存在差别,影响辐射源尺寸变化计算。研究构建了一类辐射源强时间宽度、半径扩散速率与边界相对强度不同的辐射源,应用卷积和图像强度梯度法,对选用BC408,LaBr3和LSO闪烁体得到的边界与真实边界的偏差进行了数值模拟计算。结果表明,拍摄时间为20 ns时,由BC408闪烁体得到的边界值偏差最小;若偏差小于1 mm认为闪烁体适合测量,BC408,LaBr3和LSO测量的强度时间宽度最小值分别为33 ns,133 ns和266 ns; 拍摄全积分图像时偏差大小不受闪烁体不同的影响;最终得出的偏差计算公式较好地反映了真实偏差的变化趋势。     

小磁岛转动引起的沿磁力线电流对撕裂模的影响

利用离子香蕉轨道中心坐标和香蕉轨道平均算符,讨论了磁岛转动引起的沿磁力线电流分布及其对新经典撕裂模演进的影响。结果显示,考虑此电流的影响,当磁岛旋转频率ω=ω_*i 时,被离子香蕉轨道宽度效应削弱的自举电流驱动项基本恢复;当ω=ω_*e时,离子香蕉轨道宽度效应对自举电流驱动项的削弱则加剧。这意味着磁岛转动方向不同时,此沿力线电流能显著增大或减弱离子香蕉轨道宽度效应对自举电流驱动项的削弱作用。     

波包宽度对弹核碎裂反应截面的影响

运用改进的量子分子动力学(ImQMD)模型嫁接GEMINI统计衰变模型对波包宽度与弹核碎裂反应截面之间的关系进行了理论分析,分析了不同的波包宽度对400 AMeV 36Ar+C,20Ne与C,Al,Cu,Sn弹核碎裂反应截面的影响,分析了同位素36Ar,40Ar与Al反应在不同的波包宽度下的同位素分布。分析结果表明:波包宽度的选择影响着弹核碎裂的反应截面,并且与核反应体系有关。当σ2_r = 2 fm2时的计算结果与实验结果一致;而σ_r =(0.88+0.09 A1/3) fm的计算结果与体系有很大的关系,对弹核碎裂的反应截面影响明显。不的波包宽度对丰中子核40Ar的弹核碎裂反应截面的影响要小于对36Ar的弹核碎裂反应截面的影响,而且随体系分布的波包宽度计算的同位素要比σ2_r =2 fm2时计算的同位素多。The relations between wave packet width and projectile fragmentation cross sections are studied in theory by using the improved quantum molecular dynamics (ImQMD) and GEMINI models. The effect of different wave packet width for projectile fragmentation cross sections is analyzed for the reaction 36Ar on C, 20Ne on C, Al, Cu, Sn at 400 AMeV, the isotope distributions with different wave packet width are studied for reactions 36Ar, 40Ar on Al. The results show that the projectile fragmentation cross sections are affected by the choice of the wave packet width, and are related to the system of nuclear reaction. The calculation results of σ2_r =2 fm2are in agreement with the experimental results, but the results of σ_r = (0.88+0.09A1/3) fm have a strong relation with reaction system and the projectile fragmentation cross sections are affected obviously. The influence of wave packet width for 40Ar projectile fragmentation cross sections is smaller than that for 36Ar.Moreover isotope distributions with system-size-dependent wave packet width are larger than with σ2_r =2 fm2.