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21.
本文报道了高压液相色谱分离,荧光检测,以三氯甲烷为溶剂直接进样测定植物油中α-生育酚含量的方法。采用Zorbax SIL色谱柱,流动相为正己烷:二噁烷:乙醇=97.6:2:0.4。对几种食用植物油中α-生育酚的测定结果表明,变异系数为5.7—7.9%。  相似文献   
22.
研究了用金属有机物气相外延(MOVPE)法在蓝宝石衬底上生长的In组分浓度保持不变的InGaN/GaN单量子阱结构在室温下的发光特性和光吸收特性.实验结果表明,在InGaN厚度<3nm时,随着样品InGaN势阱层宽度的增加(1nm),光致发光(PL)谱的发光峰值波长出现明显的红移33nm现象,而且发光强度下降8%,谱线半峰全宽(FWHM)展宽,通过对样品的透射、反射光谱研究发现,量子阱层窄(1.5nm)的样品在波长接近红外区时出现无吸收的现象,即R+T达到了100%,而在阱层较宽的样品中没有发现这一现象,对引起这些现象的原因进行了讨论.这些结果有助于开发和优化三族氮化物半导体光电器件的进一步研究工作.  相似文献   
23.
固体基质室温燐光法(SS-RTP)的检出限依赖于固体基质的RTP背景的高低。本文考察了七种国产滤纸在重原子存在时和不存在时的RTP背景。研究了各种降低滤纸背景的处理方法。研究结果表明,采用NaOH、β-环糊精、EDTA、乙醇和丙酮浸泡或煮沸滤纸,都能不同程度的降低滤纸背景,最大降低率为88%。KI、NaAc、Pb(Ac)_2、TlNO_3和Cscl等重原子可使滤纸背景有较大幅度的增强,而经处理的滤纸,RTP背景较未处理滤纸背景降低一倍以上,最大可降低94.5%。用NaOH溶液处理滤纸,不仅能有效地降低背景,而且能提高分析物的RTP信号。研究表明纤维素伴生物质——木素,可能是产生燐光背景的杂质之一。  相似文献   
24.
研究了以无水乙腈为溶剂,通过芳酰异硫氰酸酯与磺胺嘧啶的加成反应合成12个新的1-芳酰基-3-(4-苯磺酰胺嘧啶)硫脲、生物测试指出化合物对大肠杆菌、枯草杆菌、变型杆菌有很强的抑制作用.此外,1-苯酰基-3-(4-苯磺酰胺嘧啶)硫脲和1-(P-氯代苯酰基 )-3-(4-苯磺酰胺嘧啶)硫脲对金黄色葡萄球菌也有很强的抑制作用.  相似文献   
25.
介绍了一种无机阻燃剂的成分分析过程,通过化学定性分析判断其成分组成;通过容量分析和重量分析确定成分含量,并辅以原子吸收光谱法加以佐证。  相似文献   
26.
环糊精诱导室温燐光法(CD-RTP)中的重原子微扰剂,文献报道仅限于1,2-二溴乙烷(DBE)和1,2-二溴丙烷(DBP)。本文首次发现了一种新的微扰剂——环氧溴丙烷(EBH)应用于β-CD-RTP 法测定痕量苊。详细比较了 EBH 和 DBP 的重原子效应,结果表明,二者性能类似,而 EBH 较 DBP 的实验条件宽容。  相似文献   
27.
MOCVD生长InxGa1-xN合金微观结构和光学特性   总被引:1,自引:1,他引:0  
利用发光光谱、X射线衍射(XRD)、原子力显微(AFM)等实验方法对MOCVD生长的InxGa1-xN合金进行了研究。原子力显微图样表明样品表面出现纳米尺度为微岛状结构。样品PL和PLE谱表明,其主要吸收峰位于波长为365,474nm,发光峰的位置位于波长为545,493nm处,其中545nm发光峰半高宽较493nm发光峰宽,这两个峰分别起源于In(Ga)N浸润层和InGaN层发光,浸润层局域化激子和岛状微观结构弛豫特性是产生发光峰Stokes移动的重要原因。  相似文献   
28.
利用永磁磁轮产生的感应磁场与原来的磁场方向相反的排斥力来实现磁悬浮。永磁轮磁体按照海尔贝克阵列排列。利用AnsoftMaxwell 16.0软件对永磁轮磁场进行了模拟,对感应磁场进行仿真分析,进一步制作了无轨磁悬浮小车模型,实现了无磁质轨道悬浮,并且研究了气隙高度、以及电机工作电压与悬浮力的关系。  相似文献   
29.
研究了在制备TbCu7型SmFe9Nx各向同性粘结磁粉过程中氮原子的扩散行为,分析并讨论了氮化温度、氮化时间、颗粒尺寸与样品氮含量的关系,以及氮原子在SmFe9合金粉末颗粒内部的分布情况。氮化前后XRD表明,氮化过程中氮原子经扩散进入SmFe9合金1∶7相晶格间隙,生成了TbCu7型SmFe9Nx间隙化合物;通过氮化后样品热磁曲线分析及Fick扩散第二定律理论计算,表明氮化后颗粒内部氮含量非均匀分布,越靠近颗粒中心,氮含量越低;计算得出了氮原子在SmFe9合金中的扩散频率因子(D0=9.565×10-4m2.s-1)和扩散激活能(Q=147.3 kJ.mol-1)。  相似文献   
30.
微构件材料力学性能测试方法   总被引:7,自引:0,他引:7  
随着MEMS的商业化进程,微构件材料力学性能的研究成为越来越重要的一个课题。微小试件的制备、安装、夹持、微驱动、高分辨率的载荷和位移测量等技术问题都是对微构件材料力学性能测试的很大挑战,很多传统的测试方法和装置已经不再适用了。近十几年,国内外学者发展了一些微构件材料力学性能的研究方法,来测量微构件的弹性模量、屈服强度、断裂强度、残余应力和疲劳强度等。本文从实验系统的集成度出发,将这些测试方法大致分为片外测试和片上测试两类。本文对单轴拉伸法、纳米压痕法、鼓膜法、微梁弯曲法和衬底曲率法等典型的片外测试方法和一些典型的片上测试方法进行了介绍,并比较了各自的优缺点。  相似文献   
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