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We construct a system of magnetic tweezers and apply it to study the interaction between histones and DNA. The condensation of DNA by purified histones at low ionic strengths is directly monitored by recording the length of the DNA as a function of elapsed time. It is found that DNA condensates in a dynamic manner. The binding of hist, ones to DNA is energetically favoured, but the ten,sion applied on DNA tends to unravel the DNA-histone complex, The competition between the two processes determiners the rate of the DNA condensation. 相似文献
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应用X射线异常散射技术研究了[Ni70Co30(25A)/Cu(20A)]20多层膜的界面结构, 结果表明, 退火前后Cu/Ni70Co30和Ni70Co30/Cu界面的温度行为不同.对于制备态样品, 界面结构是非对称的, 在Cu/Ni70Co30界面, 存在一个8A厚的CuNi3过渡层和一个4A厚的NiCo层. 然而, Ni70Co30/Cu界面却不存在任何扩散. 285\textcelsius 2h退火后,Ni70Co30/Cu界面开始发生扩散, 产生了一个12A厚的CuNi2Co过渡层. X射线能量分别在Co, Ni, Cu K吸收边附近的X射线漫散射实验, 揭示了在Ni70Co30/Cu多层膜的界面处,
Cu与Ni和Co具有不同的横向关联长度, 显示了不均匀的横向分布. 相似文献
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Magnetic multilayers[Co(1.5 nm)/Pd(x nm)]40 grown by rf sputtering were studied by X-ray diffraction,vibrating sample magnetometer,torque magnetomet er and magnetoresistance measurements.The dependences of the interfacial roughne ss and the structure perfectness of Co/Pd multilayers on the spacer Pd layer thi ckness have been revealed from X-ray diffraction data.An oscillatory variation of saturation magnetization versus the thickness of the Pd spacer was observed.A similar oscillatory behavior in the dependence of its magnetic anisotropy on the thickness of the Pd spacer was observed.It is suggested from these two phenomen a that the magnetic polarization of Pd spacers oscillates between ferromagnetic and antiferromagnetic polarization with the increase of Pd spacer thickness under a RKKY-like interaction.Evidence is found for the antiferromagnetic polarization of the inner part of the Pd spacer.The antiferromagnetic coupling between two Co layers and giant magnetoresistance effect in Co/Pd multilayer system were not observed.The relationship among structure,interlayer coupling and magnetic polarization effect of the Pd spacer was discussed. 相似文献
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用X射线双晶衍射摇摆曲线以及双晶X射线形貌对两个SrTiO3基片的单晶质量进行了对比研究,并用X射线掠入射镜面反射及漫散射研究了它们的表面粗糙结构.结果表明,两个SrTiO3基片中都存在镶嵌缺陷,其中一个样品的晶体质量相对较高.两个样品的表面粗糙结构相差很大,包括均方根粗糙度σ和横向相关长度ξ.σ分别为(0.5±0.1)和(1.3±0.1)nm,ξ分别为(1200±200)和(300±20)nm.样品的表面粗糙将增加X射线的漫散射强度而降低镜面反射的强度.晶体质
关键词: 相似文献
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