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用衍射仪和Guinier聚焦照相机收集了铌酸锶钡钠系统一系列化合物的X射线粉末衍射图谱(CuKα辐射)。给出了Ba2NaNb5O15,SrBaNaNb5O15和Sr2.05Na0.90Nb5O15详细指标化了的粉末衍射数据,可代替原有的JCPDSX射线粉末衍射标准数据卡(卡片号为23-654,27-1408,27-1409和27-787)的数据。
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氟化锂晶体具有较好的机械性能,容易加工,解理面具有高的X射线衍射强度和良好的色散本领,所以是电子探针微区x射线谱仪和荧光X射线谱仪的主要分光晶体之一.分光晶体质量的好坏直接影响仪器的性能.因此对分光晶体的质量进行检测是十分必要的. 氟化锂作为一种典型的晶体许多人进行过研究.很早 Gilman和Johston[1]等曾用化学浸蚀法.Yoshimatsu Newkirk等[2,5]曾用X射线形貌术研究过位错和亚晶界.Birks和 Seal[6]曾用X射线方法研究过研磨、淬火和弯曲等工艺对LiF分光晶体衍射峰值强度和半高宽的影响. 本文提出用X射线衍射形貌技术和X射线… 相似文献
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具有层状结构特别是又具多型性的化合物的晶体中通常出现一种一维无序的排列,典型的如碳化硅、云母、石墨以及一些合金的晶体。碳化硅是多型性物质的典型代表,已发现的多型体达110种之多;同时碳化硅的结构可以看成是硅、碳密堆积层按不同的排列方式周期堆垛而成,因此SiC晶体中存在着一维无序是必然的现象。 Jagodzinski等曾用X射线振动法研究了碳化硅晶体中的无序现象,发现约40%的 相似文献
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本文提出了用X射线劳埃法鉴定SiC六方多型体类型的方法。在详细地研究了xH类型与基本类型6H,15R和4H的倒易阵点间相互配置关系的基础上,推导出了这些具体关系,这种关系对于xH—6H来说仅有十二种,对于xH—15R仅有三十种,对于xH—4H仅有八种。上述的点间关系表和推求xH类型单位晶胞密堆积层数的公式同样可以普遍适用于以其他X射线照相法鉴定SiC六方多型体类型的工作中。用本文所提出的方法研究了许多实验室升华法制备的SiC单晶体以及部分工业SiC晶体。发现了七种六方SiC新多型体141H,80H,58H,55H,15H,9H和7H。新类型的定间羣为C3v1(C3m),六方晶胞c轴参数分别为:355.26?,201.57?,146.14?,138.58?,37.794?,22.676?和17.637?。 相似文献