渗流力学的近况、动向和展望(续)

六、非均质地层中的渗流 地层的宏观非均质性及其对渗流的影响越来越为人们所认识和重视。不可压缩均质液体在非均质地层中的渗流归结为求解变系数椭圆型方程;当液体为可压缩时,则归结为求解变系数抛物型方程;一般情况下无法求得解析解,多年来只获得了地层参数按特定规律分布时的一些解答。在非均质液体渗流情形下则是更加难以求解的非线性数学物理问题。迄今对非均质地层的渗流问题只能求其近似解。大型高速电子数字计算机使这类问题的数值求解变得越来越有效和方便。     

电致发光显示究研动向

继粉末电致发光(注:以下电致发光均略写为EL)显示器件之后,1968年美国贝尔研究所研制出不同发光机理的高亮度薄膜EL器件,引起了广泛的注意。这种器件,是在ZnS中掺进希土类氟化物分子(TbF_3)作为发光中心,亮度达到数百尺朗伯(fL)。接着,美国Sigmatron公司又研制成硫化锌掺锰的三层薄膜EL器件,发光层背面镶有As_2S_3黑色绝缘层,提高了屏的反差。日本霞浦公司于1973年,研制成将ZnS发光层夹在Y_2O_3和Si_3N_4绝缘层间的对称型薄膜EL器件,亮度达1,500fL,     

纸上色谱形成法测定微量CN~-

用普鲁士蓝斑点形成法测定微量氰化物的方法,需要结构较复杂的Gest(R)空气泵和滤纸托架等;采用异烟酸吡啉酮比色法的操作手续也较繁琐。本文在文献[1]工作的基础上,以玻璃喷射泵代替空气泵,并对滤纸托架装置和实验条件等作了改进。采用简便的装置把CN的分离富集与测定结合起来,满意地测定了微量CN~-方法分析手续简便,操作条件允许变化范围宽,适用范围广,也容易掌握,可用于电镀废水、工业污水中微量CN~-的测定。     

芳基汞化合物的性质研究——Ⅹ.氯化邻乙氧羰基苯汞的晶体结构

用Syntex P3四圆衍射仪收集氯化邻乙氧羰基苯汞晶体的三维衍射数据。晶体属单斜晶系;空间群为(C_(2h)~5-P2_1/c;a=10.611(2)■,b=4.987(1)■,c=19.416(5)■,β=95.74(2)°;z=4。利用Patterson法和直接法测定了晶体结构。用块矩阵最小二乘法修正后,最终R值为0.044。晶体结构分析表明,在氯化邻乙氧羰基苯汞分子中存在有分子内配位,Hg…O(1)的间距为2.734■。     

吸气溅射装置

我们研制了一台吸气溅射装置,使用普通真空系统.文中介绍了吸气溅射原理及装置的结构.并用溅射Nb_3Ge的条件,制备了Nb膜,超导转变温度为8.95K.     

铝土矿中三氧化二铝的络合滴定

铝土矿中三氧化二铝是主要分析成份之一,用EDTA络合滴定法测定比较适宜,本文针对铝土矿含TiO_2量较高(5％左右)的情况,进行了掩蔽剂的选择及有关条件试验,实验证明苦杏仁酸掩蔽能力较弱,以苦杏仁酸作钛的掩蔽剂,对铝的测定无影响,二次滴定终点稳定,结果重现性好,但苦杏仁酸价格昂贵,乳酸     

应力途径、岩石的强度和体积膨胀

在以下三种应力途径实验中,研究了济南辉长岩和房山花岗岩的强度和体积膨胀:A型——增加最大主应力σ₁使岩石破坏;B型—从某一应力状态开始,保持σ₁不变而减小围压,直至岩石破坏;C型——保持σ₁不变增加围压,这时岩石不发生破坏,结果表明,岩石强度与体积膨胀及应力途径有关,在一定条件下,B型实验岩石强度较A型为低,与A型实验中岩石的体积膨胀相比较,B型实验中岩石处于一种过密状态,而在C型实验中处于一种超膨胀状态。     

有存贮性能的薄膜电致发光文字显示器(日本霞浦公司中心研究实验室在1976年信息显示会议上的报告摘要)

前言 作者需制成具有存贮功能的稳定的高亮度EL薄膜显示屏,可显示160×120mm大小的图象,具有320×240个象元。 随后又用上述显示屏制做了一种字母数字符号显示器,其优点是用将一个电感L与EL屏的有效电容C串连的方法降低脉冲驱动器的功耗,也即通过C.L和维持脉冲频率     

定向磁化多体环状永磁多极系统的场形分析

根据“均匀磁化”原理,用谐波分析的方法,分别对多体扇形及梯形磁体构成的两类环状系统的场形进行了分析。给出了它们空间任一点的三维表达式。同时还给出了多极场主波、寄生谐波,以及外部杂散磁场的二维解析表达式。对扇形及梯形磁体的优劣作了比较。