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化学分离—质谱法定量分析高纯Dy2O3中稀土杂质 总被引:3,自引:0,他引:3
以P507萃淋树脂为固定相,HCl-NH4Cl为淋洗液,研究了99.999%-99.9999%高纯Dy2O3中痕量稀土与基本Dy的分离法,以及火花源谱法的测定条件。可分析99.9999%超高纯Dy2O3中痕量稀土杂质,测定限0.001-0.1×10^-6,误差30%。 相似文献
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感耦等离子体质谱法测定高纯氧化镥中14个痕量稀土杂质 总被引:3,自引:1,他引:3
本文报道了用感耦等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯氧化镥中14个稀土杂质的方法。镥基体对测定元素无谱线干扰,但对测定信号产生显著抑制作用。加入内标后有效地补偿了这种基体抑制效应,方法检出限为0.005~0.03ng/mL。样品加标为0.01μg时,回收率为90%~103%。精密度(RSD)为1.4%~4.2%。方法简单,不需分离富集,样品消耗量少(10mg)。14个稀土元素的总测定下限(10)可达0.58μg/g可直接测定纯度为99.9%~99.9999%的氧化镥中稀土杂质。 相似文献
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高纯氧化钆中稀土杂质的化学光谱分析 总被引:4,自引:1,他引:4
化学光谱法是高纯稀土分析的主要方法,近年来,以P507萃淋树脂为固定相的萃取色谱法,对稀土元素的分离进行了系统的研究。本工作是在高纯氧化钕中14个稀土杂质化学光谱分析的基础上,研究高纯氧化钆中稀土杂质的分离条件。在φ14×1000的恒温色层柱上,以盐酸为淋洗剂,偶氮胂Ⅲ柱上显色,梯度淋洗,分离富集高纯氧化钆中稀土杂质,富集倍数2000倍以上,富集物经化学处理,光谱测定。测定下限∑RE7ppm,变异系数为10—25%,适用于99.999%氧化钆中14个稀土杂质元素的测定。 相似文献
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微型柱分离-ICP-MS法测定高纯氧化铽中14个稀土杂质元素 总被引:9,自引:0,他引:9
研究了微型柱分离 电感耦合等离子质谱法(ICP MS)测定高纯Tb4O7中痕量Lu的方法,采用Cyanex272负载树脂微型分离柱,选定了分离大量Tb4O7基体的实验条件,分离周期为40min。建立了微型柱分离Tb后测定Lu以及内标补偿法直接测定其它稀土杂质的高纯Tb4O7中14个稀土杂质元素的ICP MS分析方法。方法检出限为0.003~0.10μg g,加标回收率为86.6%~114%,相对标准偏差为1.1%~18%。方法可满足快速测定99.999%Tb4O7中14个稀土杂质元素的要求。 相似文献
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2—乙基己基膦酸单(2—乙基己基)酯萃淋树脂分离—火花源质谱法测定… 总被引:4,自引:2,他引:4
本文采用萃取色谱法以2-乙基己基膦酸单(2-乙基己基)酯(P507)萃淋树脂为固定相,以HCl-NH4Cl体系为淋洗液,研究了99.999% ̄99.9999%的高纯Yb2O3中稀土杂质和Yb基体的分离条件,将杂质淋洗液富集于复合螯合剂-活性碳上,经灼烧灰化后制成样品电极,进行质谱测定。测定下限达0.01 ̄0.05μg/g,可用于高纯Yb2O3中杂质的测定。回收率在80%以上。 相似文献
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膜去溶-ICP-MS法测定高纯Eu_2O_3中14种痕量稀土杂质 总被引:1,自引:0,他引:1
研究了不需基体分离,膜去溶-ICP-MS法直接测定高纯Eu2O3中的14种痕量稀土杂质的分析方法。讨论了Eu基体产生的多原子离子对被测元素的质谱干扰。使用膜去溶后,待测元素灵敏度提高3倍左右,EuO/Eu产率从去溶前的0.016%降低为0.0007%。建立了Tm的数学校正方程,通过膜去溶结合数学校正可将Eu基体对Tm干扰完全消除。14种稀土杂质的检出限和(∑RE)为70 ng/L,测定下限和(∑RE)为0.54μg/g。对6N高纯Eu2O3样品进行了分析,样品回收率为96%~109%,RSD小于10%。所建立的方法对Eu2O3标准样品的测定结果与国家标准方法测定结果相一致。 相似文献
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微型柱在线分离-ICP-MS法测定高纯氧化铕中的14个稀土杂质 总被引:7,自引:0,他引:7
研究了微型柱在线分离-电感耦合等离子质谱法(ICP-MS)测定高纯Eu2O3中痕量Tm的方法,研制了Cyanex272负载树脂微型分离柱,优化了分离Eu2O3基体的实验条件,在线分离测定时间为25min。建立了在线柱分离测定Tm,内标补偿法直接测定其余稀土杂质的高纯Eu2O3中14个稀土杂质的ICP-MS分析方法。方法检出限为0.01μg/g-0.15μg/g,加标回收率为91.5%-110%,相对标准偏差为1.7%-4.9%。可满足快速测定99.999%Eu2O3中14个稀土杂质的要求。 相似文献
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异烷基膦酸1-甲庚基酯负载树脂分离原子吸收光谱法测定氧化钇中痕量铕铽铒和镱 总被引:1,自引:0,他引:1
异烷基膦酸1-甲庚基酯(代号5712)是在较低酸度下具有优良稀土分离性能的萃取剂。本文测定了15种稀土(Ⅲ)在5712-负载树脂与不同浓度的HNO_3之间的分配比。研究了5712-负载树脂柱分离Y、Tb、Dy、Ho、Er的最优条件。0.58mol/L HNO_3可使这5种元素分离良好。利用5712-负载树脂分离和富集高纯氧化钇中痕量Eu、Tb、Er和Yb,然后再以原子吸收光谱法测定。经过本法分离和富集,除去了大量基体,从而提高了测定的灵敏度。 相似文献
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微柱分离-ICP-MS测定高纯氧化钐中稀土杂质 总被引:2,自引:3,他引:2
研究了微柱分离 ICP MS测定高纯氧化钐中痕量Dy,Ho,Er,Tm的方法,方法基于采用Cyanex272负载树脂微柱,选定上述杂质与大量基体分离的实验条件,分离周期为32min。最终建立了微柱分离Sm后测定Dy,Ho,Er,Tm,其他稀土杂质用内标补偿ICP MS法直接测定的分析方法。方法测定下限为0.1~5.0μg·g-1,加标回收率为90%~115%,相对标准偏差为0.9%~5.1%。本法可满足快速测定99.999%氧化钐中14个稀土杂质的要求。 相似文献
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2-乙基己基膦酸单(2-乙基己基)酯树脂色层分离电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钢中微量稀土元素 总被引:4,自引:0,他引:4
本文采用2-乙基己基膦酸单(2-乙基己基)酯(P-507)树脂,使微量稀土元素与钢中的基体元素,铁、钛、钒和钼分离,以 3.0 mol/L盐酸溶液洗脱P-507色层柱上的稀土元素,采用电感耦合等离子体原子光谱法(ICP-AES)同时测定了钢中La、Ce、Pr、Nd、Sm、Y和 Gd 7种微量稀土元素.试样的标准加入回收率99.3%~108%;相对标准偏差小于5%. 相似文献
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高纯Eu2O3中稀土杂质的化学—X射线荧光光谱法测定 总被引:4,自引:0,他引:4
采用锌粉还原-P507萃淋树脂分离和富集高纯Eu_2O_3中的稀土杂质,用盐酸洗脱,NH_4OH沉淀、过滤制片后,用X射线荧光光谱法测定试样中14个稀土杂质。选择了该法制片和测定的各项条件。研究表明该法用基体铕作载体,省去了外加载体并简化了氧化物灼烧过程,且该法大部分稀土元素的测定下限为1μg,回收率为80~120%,变异系数优于14%。 相似文献
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基于高流速辉光放电质谱法(GDMS)的质谱干扰消除技术,对镍基单晶高温合金中43种痕量元素的质谱干扰与同位素选择进行了研究,用于高性能镍基单晶高温合金的纯净化水平评价。固体样品采用直接进样,通过复杂基体质谱干扰计算判定、共存元素干扰消除等方式,确定了待测元素的同位素和分辨率模式,通过相应标准物质对待测元素的相对灵敏度因子进行校正,采用高流速GDMS测定镍基单晶高温合金中43种痕量元素。结果表明,痕量元素的检出限(3s)为1.04×10^(-7)%~6.60×10^(-3)%,大部分元素的检出限达到0.1μg·g^(-1)级别;对内控标准物质DD6-6#测定6次,测定值的相对标准偏差为0.59%~13%。方法分析结果与不同分析方法对照、标准物质比对,结果吻合度高。 相似文献
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《分析化学》1973,(1)
1.本工作利用中型摄谱仪,火花光源,以铥作内标,铟为外加基体,用化学光谱法测定钢铁合金中镧铈镨钕钐和钇。铈对錯的干扰采用干扰扣除的方法消除。分析线对:Ce3201.74,La3337.488,Pr3908.431,Nd4061.032,Sm3321.18,Y3203-323。化学光谱法测定六个元素的相对标准偏差一般在士3—10%,最大不超过±15%。 2.采用铜试剂萃取分离重金属元素(铜铁试剂分离趾),PMBP萃取稀土元素与铬、铝、碱土金属等分离,用稀酸反萃取后可得到纯净的稀土溶液。全部操作在1小时内完成。对于各类不同样品可采用同一套稀土标准样品(无须经过化学分离步骤)。样品分析的相对标准偏差,一般在±4—14%,下限附近的相对标准偏差,最大不超过±18%。光镨分析结果与化学分析结果是一致的。 相似文献