感耦等离子体质谱法测定高纯氧化镥中14个痕量稀土杂质 |
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引用本文: | 李冰,尹明.感耦等离子体质谱法测定高纯氧化镥中14个痕量稀土杂质[J].分析试验室,1994(5). |
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作者姓名: | 李冰 尹明 |
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作者单位: | 地矿部岩矿测试技术研究所 |
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摘 要: | 本文报道了用感耦等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯氧化镥中14个稀土杂质的方法。镥基体对测定元素无谱线干扰,但对测定信号产生显著抑制作用。加入内标后有效地补偿了这种基体抑制效应,方法检出限为0.005~0.03ng/mL。样品加标为0.01μg时,回收率为90%~103%。精密度(RSD)为1.4%~4.2%。方法简单,不需分离富集,样品消耗量少(10mg)。14个稀土元素的总测定下限(10)可达0.58μg/g可直接测定纯度为99.9%~99.9999%的氧化镥中稀土杂质。
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关 键 词: | 感耦等离子体质谱法 高纯氧化镥 稀土杂质 基体效应 内标 |
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