机械合金化贮氢钛铜非晶合金的结构研究

用机械球磨方法制得了数种不同组成的钛铜非晶合金。用Ｘ射线粉末衍射，扫描电子显微镜及扩展Ｘ射线吸收精细结构研究了它们的结构。得出了用机械合金化制得的钛铜非晶合金的结构与用液相急冷法制得的相同合金的结构不同，形成两侧分别为钛与铜金属薄膜，中间夹以非晶钛铜合金的夹心饼干式结构。过长的球磨时间，会使温度升高而产生结构弛豫，在合金属层内形成微细的钛、铜金属微粒。     

溅射法制备Ag/Ag2O超微粒子的分析

用Ｘ射线衍射、Ｘ射线光电子能谱、透射电子显微镜和差示扫描量热法对溅射法制备的Ａｇ超微粒子的晶体学结构、表面组成、微粒形态和热力学性质进行了分析。结果表明，所制备的微粒为内部为Ａｇ、表面为Ａｇ₂Ｏ的两相微粒，以及单一的Ａｇ₂Ｏ微粒，粒径在１０ｎｍ以上的微粒没有确定的外形，粒径在１０ｎｍ以下的微粒为球形。微粒有不同于块体金属Ａｇ的异常热效应。到４０天时，沉积在碳膜上的Ａｇ，Ａｇ₂Ｏ两相微粒有一部份还原形成了单一的金属Ａｇ超微粒子。 关键词：     

DDP表面修饰PbS纳米微粒的合成及结构表征

采用表面修饰法合成了二烷基二硫代磷酸修饰的ＰｂＳ纳米微粒,并用红外光谱,（ＩＲ）,Ｘ射线衍射（ＸＲＤ）,透射电子显微镜（ＴＥＭ）,Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）等仪器表征了其结构。结果表明,所合成的ＰｂＳ纳米微粒是ＤＤＰ表面修饰层和ＰｂＳ纳米核所构成的,且由于表面修饰层的存在,有效地阻止了纳米微粒在空气中的团聚及氧化,其平均粒径为７ｎｍ。     

用XRMF分段多项式回归法定量分析铂钯合金

在Ｘ射线荧光分析中,当工体效应严重时,工作曲线变得很复杂,仅用一条曲线来拟合,误差较大,为此,采用的分段的方法,将工作曲线分成四段,逐段拟合,取得了很好的效果。拟合工作曲线时,所使用的铂钯合金标样,由Ｘ射线微探针（ＸＲＭＦ）测试。此外,我们还用这种方法,分析了标样薄片中元素分布的均匀性水平。     

因子分析在X射线荧光光谱重叠谱峰识别中的应用

用渐进因子分析（ＥＦＡ）方法处理合金样品的Ｘ射线荧光扫描谱数据,按照数学原理选取扫描步长,根据ＸＲＦ特性选择合适的训练集建立数学模型,可以准确判断谱峰重叠,该方法在合理取点和组分含量相当的情况下有良好的识别能力。     

非晶Ni_(88)P_(12)合金薄膜的表面形貌特征与晶化行为的研究

采用化学镀的方法在３６３Ｋ和ｐ型Ｓｉ（１００）衬底上制得非晶Ｎｉ８８Ｐ１２合金薄膜．利用Ｘ射线衍射、Ｘ射线光电子能谱、扫描隧道显微镜和原子力显微镜对非晶合金薄膜及其经处理后形成的氧化态、还原态和晶态的结构、组分和表面的形貌特征作了研究，并对它的晶化行为作了初步探讨．结果表明，非晶合金薄膜是由纳米级微粒聚集成微米级颗粒组成；在低于晶化温度条件下经氧化和还原处理后的薄膜表面晶化；在晶化过程中，合金薄膜的非晶纳米微粒转变为微晶后长大成晶粒，其表面结构光滑平坦，几何边界清晰     

同步辐射软X射线接触显微成像

软Ｘ射线显微术适合于自然状态下生物样品的高分辨率显微成像。软Ｘ射线接触显微术是Ｘ射线显微成像方法中最简单也是迄今唯一到接近理论分辨的方法。本文阐述软Ｘ射线接触显微成像的原理和方法，并报告用合理肥步辐射光源进行软Ｘ射线接触显微成像的一些实验结果。     

激光产生等离子体辐射X射线特性研究

本文报导激光等离子体辐射Ｘ射线的测量方法和结果。在“星光”装置上,用１．６μｍ激光辐照Ｎａ／Ｆ和铜靶。用平晶谱仪测量等离子体辐射Ｘ射线绝对强度,并研究了辐射Ｘ射线强度与入射激光功率密度的关系,测量了靶前后辐射强度之比,为光电离机制的Ｘ光激光研究提供了较重要的数据。     

石棉红花岗石与芝麻白花岗石的光谱的研究

本文用电感耦合等离子体原子发射光谱法，Ｘ射线荧光光谱法、红外光谱以及Ｘ射线衍射谱测定了石棉红花岗石和芝麻白花岗石的成分和光谱、根据石棉红岗石和芝麻白花岗石的Ｘ射线衍射谱，用计算机检索它们的组成，对计算机检索的结果进行对比得出，石棉红花岗石的红色是由于它含有Ｆｅ的红色矿物而产生的。     

X射线在影像增强器中散射特性的研究

Ｘ射线在影像增强器中的散射是影响Ｘ射线影像增强器输出图像对比度和分辨率的主要因素。首先用Ｍｏｎｔｅ Ｃｓｒｏｌｏ方法模拟了轫致辐射Ｘ射线与影像增强器的输入转换屏（ＣｓＩ：Ｎａ）的作用过程,给陋了透过转换屏的Ｘ射线的能谱。然后以无限大平面铁板作为增强器内电极和客壳的几何模型,以ＣｓＩ：Ｎａ的透过Ｘ射线能谱为铁板模型的入射能 ,分析了Ｘ射线在影像增强器中的背向散射特性。Ｘ射线管电压为２０～１２０ｋＣＶ     

[Pd／Co—Nb／Pb／Si]多层膜的结构与磁性

用频溅射法制备了两套「Ｐｂ／Ｃｏ－Ｎｂ／Ｐｄ／Ｓｉ」多层膜，分别用Ｘ射线衍射和振动样品磁强计做了结构和磁性测量。随Ｐｄ层厚度增加，Ｐｄ层由非晶态过渡到晶态，并观察到Ｐｄ的ｆｃｃ（１１１）双峰结构，双峰的位置逐渐从两侧向体材料Ｐｄ的ｆｃｃ（１１１）峰的位置靠近。     

X射线全息术

本文介绍了Ｘ射线全息术的工作原理和进展状况,详细地论述了与Ｘ射线全息术有关的Ｘ射线光学、Ｘ射线光学元件和Ｘ射线源的特性,并讨论了Ｘ射线全息实验的要求和记录方式,最后着重探讨了包括记录过程和重现过程中影响Ｘ射线全息术分辨率的各种因素。     

非晶Ni88P12合金薄膜的表面形貌特征与晶化行为的研究

采用化学镀的方法在363K和p型Si（100）衬底上制得非晶Ni₈₈P₁₂合金薄膜．利用X射线衍射、X射线光电子能谱、扫描隧道显微镜和原子力显微镜对非晶合金薄膜及其经处理后形成的氧化态、还原态和晶态的结构、组分和表面的形貌特征作了研究，并对它的晶化行为作了初步探讨．结果表明，非晶合金薄膜是由纳米级微粒聚集成微米级颗粒组成；在低于晶化温度条件下经氧化和还原处理后的薄膜表面晶化；在晶化过程中，合金薄膜的非晶纳米微粒转变为微晶后长大成晶粒，其表面结构光滑平坦，几何边界 关键词：     

气体放电中的X射线诊断

用气体放电法研究含氘金属异常现象时,发现有Ｘ射线产生．因此用吸收法、特征Ｘ射线法和ＮａＩ闪烁计数器测量了Ｘ射线能量,用７Ｌｉ热释光片估测了Ｘ射线强度．吸收法测出的Ｘ射线平均能量为（２６．９±２．２）ｋｅＶ和ＮａＩ闪烁计数器测出的（２６．０±２．４）ｋｅＶ单能Ｘ射线在测量误差内相符． X rays were observed to create when the anomalous phenomenon in the metal loaded with deuterium studied by the gas-discharge method. Therefore the X-ray energy spectra were measured by the absorption method, the specific X-ray approach and the NaI scintillation counter, while X-ray intensity was estimated by using 7Li thermoluminescent foils. The X-ray average energy measured by the absorption method is 27. 6±2. 1keV,whlch is fitted within the error extent to 26. 0±2. 4keV monoenergetic Xrays     

薄膜、多层膜和一维超点阵材料的X射线分析新进展

Ｘ射线散射和衍射对于厚度为几个原子层到几十微米的薄膜材料是灵敏的。一般而言,Ｘ射线方法是非破坏性的,其中不要求样品制备,它们提供恰如其分的技术路线,以获得薄膜材料的结构等信息;分析能对从完整单晶膜和多晶膜到非晶膜的所有材料进行。本文评述了用Ｘ射线方法表征和研究这类薄膜材料的新进展。全文包括引论、常用的Ｘ射线方法、原子尺度薄膜的研究、工程薄膜和多层膜的研究、一维超点阵结构研究、超点阵界面粗糙度的Ｘ射线散射理论、不完整性和应变的衍射空间图或倒易空间图研究七个部分     

薄膜、多层膜和一维超点阵材料的X射线分析新进展

Ｘ射线散射和衍射对于厚度为几个原子层到几十微米的薄膜材料是灵敏的。一般而言,Ｘ射线方法是非破坏性的,其中不要求样品制备,它们提供恰如其分的技术路线,以获得薄膜材料的结构等信息;分析能对从完整单晶膜和多晶膜到非晶膜的所有材料进行。本文评述了用Ｘ射线方法表征和研究这类薄膜材料的新进展。全文包括引论、常用的Ｘ射线方法、原子尺度薄膜的研究、工程薄膜和多层膜的研究、一维超点阵结构研究、超点阵界面粗糙度的Ｘ射线散射理论、不完整性和应变的衍射空间图或倒易空间图研究七个部分     

X射线全息术

本文介绍了Ｘ射线全息术的工作原理和进展状况，详细地论述了与Ｘ射线全息术有关的Ｘ射线光学、Ｘ射线光学元件和Ｘ射线源的特性，并讨论了Ｘ射线全息实验的要求和记录方式，最后着重探讨了包括记录过程和重现过程中影响Ｘ射线全息术分辨率的各种因素。     

X射线激光全息的可见光再现

Ｘ射线激光全息是Ｘ射线激光一个非常重要的应用。本文模拟了Ｇａｂｏｒ全息的记录和再现过程，分析了Ｇａｂｏｒ全息和无透镜傅立叶变换全息用可见光再现过程中再现象的放大率、象差等对再现象的影响，提出了减小象差和获得高分辨再现象的方法，认为无透镜傅立叶变换全息是当前Ｘ射线激光全息的重要记录方式。     

一种激光驱动的超短X射线光源

介绍一种可产生超短脉冲的新型Ｘ射线光源。它由多碱光电阴极、金靶及铍输出窗组成，当该射线管的阴极受到强光照射时，产生光电子发射，并经电场加速后轰击金靶，产生连续谱的Ｘ射线轫致辐射，经铍窗输出。用超短的可见光脉冲驱动该光源，并借助Ｘ射线扫描相机测量了该管的Ｘ射线输出，获得了５ｐｓ的Ｘ射线脉冲，这种光源可方便地用来标定Ｘ射线扫描相机的时间分辨率，此种产生超短电子脉冲的方法可在其他方面获得应用。     

X射线光学进展

Ｘ射线光学的发展，有利于Ｘ射线分析技术的进一步发展，进而提高人们的认识水平。本从Ｘ射线光源、光学元件和应用领域几方面来概述Ｘ射线光学的最新进展。