Kalman滤波法在电感耦合等离子体原子发射光谱分析中的应用 Ⅰ．测定高纯氧化铥中的14种稀土杂质

本文研究了电感耦合等离子体原子发射光谱分析Ｋａｌｍａｎ滤波法测定高纯氧化铥中的１４种其他稀土杂质的方法。Ｋａｌｍａｎ滤波法有效地消除光谱干扰，可利用受干扰的光谱灵敏线，因而可提高灵敏度，是一种在大量基体存在下测定痕量杂质的有效方法。     

Kalman滤波法在电感耦合等离子体原子发射光谱分析中的应用──Ⅱ．测定高纯氧化铕中的14种稀土杂质

本文研究了电感耦合等离子体原子发射光谱分析Ｋａｌｍａｎ滤波法测定高纯氧化铕中的１４种其他稀土杂质的方法。Ｋａｌｍａｎ滤波法有效地消除光谱干扰，可利用受干扰的光谱灵敏线，因而可提高灵敏度，是一种在大量基体存在下测定痕量杂质的有效方法。     

Kalman滤波法在电感耦合等离子体原子发射光谱分析中的应用…

本文研究了电感耦合等离子体原子发射光谱分析Ｋａｌｍａｎ滤波法测定高纯氧化铕中的１４种其他稀土杂质的方法。Ｋａｌｍａｎ滤波法有效地消除光谱干扰，可利用受干扰的光谱灵敏线，因而可提高灵敏度，是一种在大量基体存在下测量痕量杂质的有产方法。     

皮棉杂质透射检测及成像目标增强方法

由于皮棉中白色或无色的杂质与皮棉反射特性相似，现有的光谱反射成像检测方法具有一定 的局限性.对皮棉杂质的光透射成像检测方法进行深入研究.在分析杂质及棉纤维透射特性基 础上，建立了光透射成像机理模型.研究了光透射成像系统中光源种类、光源能量、棉层厚 度及皮棉运动速度对成像目标的影响.根据棉层中透射光子的传播特性，提出利用高速CCD俘 获非漫射光子及统计滤波处理方法以增强成像目标，并分析了高速CCD曝光时间与成像目标 清晰度的量化关系.结果表明，所提出的光透射检测及成像目标增强方法，可获得清晰的目 标图像特征，检测结果与实际相符，此方法不仅为检测皮棉中各种白色或无色杂质提供一种 有效途径， 而且还可推广到红外及其他波段的成像系统中，对于微弱目标的透射成像检测 提供一种新的思路. 关键词： 皮棉杂质 透射成像 准直线光子 目标增强 统计滤波     

含双负缺陷的一维光子晶体耦合腔的杂质带特性

利用转移矩阵方法研究了含双负缺陷的一维光子晶体耦合腔的透射谱.计算结果表明，如果改变缺陷的折射率，缺陷模之间的耦合作用将发生改变，使得能隙中的杂质带也随之改变.若这个折射率取适当值，则可以在禁带中同时出现几个尖锐的透射峰和较宽的通带，这种结构可同时用于多通道窄带滤波和宽带滤波. 关键词： 光子晶体 缺陷模 杂质带 滤波     

发射光谱测定微量稀土杂质用的一种新的载体KBH4的研究

介绍了高纯稀土氧化物中微量稀土杂质的光谱测定方法，本工作用碳粉做缓冲剂，ＫＢＨ４做载体，用化学方法将大量稀土分离掉，而后对余下微量和稀土杂质进行光谱测定。只要取样量不少于１克，则可测定的纯度为９９．９９９９５％的稀土样品。     

s—d系统的统一模型与稀磁合金低温杂质电阻的特性

本文基于ｓｄ混合效应与ｓｄ交换效应（包括ＲＫＫＹ关联效应）的统一模型，利用格林函数方法，研究了稀磁合金低温杂质电阻的特性，合理地解释了ｓｄ系统中，ｓｄ混合模型、ｓｄ交换模型及ＲＫＫＹ关联模型各单一的物理效应     

Kalman滤波法消除光谱连续背景的研究

本文研究了Ｋａｌｍａｎ滤波法消除光谱连续背景，以电感耦合等离子体原子发射光谱法测量氧化铽中Ｌａ，Ｅｒ，Ｇｄ，Ｄｙ，Ｄｕ和Ｔｍ为例研究了不同背景情况下的结果。用新息序列的平均平方和正交自相关系数超过出信度极限以外数为评价函数，可评价所估计的背景形状，是一种不用测背景，用计算方法消除光谱连续背景的好方法，本方法不仅适用于电感耦合等离子体原子发射光谱，对分光光度，原子等原则上都可适用。     

高纯氧化镧中微量稀土杂质的化学光谱法测定

本文介绍了高纯氧化镧中微量稀土杂质的化学光谱测定，将Ｌａ２Ｏ３通过Ｐ５０７萃淋树脂分离富集，将大量基体分离掉，剩下微量的稀土杂质，用Ｃ粉吸附后加ＫＢＨ４做载体进行光谱测定。本方法可测定９９．９９９９％纯度的Ｌａ２Ｏ３中的微量稀土杂质。     

HL-2A装置孔栏位形下激光吹气注入杂质的初步实验结果

在聚变堆条件下，等离子体中杂质将严重影响燃料的浓度，并产生大量的功率损失而倍受关注。普遍用于托卡马克等离子体杂质输运研究的方法是瞬态扰动法，主要以主动注入杂质源来研究杂质的扩散和对流过程。短脉冲型的杂质注入一般可采用快过程的压电阀和激光吹气两种方式，而激光吹气方法是一种不容置疑的最好的杂质输运研究方法，因为杂质的注入时间和注入量都可以得到很好的控制，几乎能研究任何状态的等离子体杂质输运过程并对等离子体参数的扰动最小。杂质输运信息可通过探测杂质离子的辐射来得到，这些辐射主要包括由光谱仪测量的线辐射信号和由软X射线成像技术得到的软X射线辐射信号，通过这些测量可带出杂质分布的空间和时间演化的信息，再利用数值模拟计算编码，重建实验数据，从而得到杂质输运的扩散系数D、对流速度V和约束时间等。     

卡尔曼滤波ICP－AES法分析稀土元素及其对光谱干扰的校正

本文以卡尔曼（Ｋａｌｍａｎ）滤波ＩＣＰ－ＡＥＳ法进行稀土元素分析，并研究了卡尔曼滤波对其光谱干扰的校正，以及富线基体元素对待测元素、待测元素之间的影响，考察了该方法的检出限、精密度和准确度以及影响滤波的因素。结果表明，该法能有效地消除和校正光谱干扰，减少对分析谱线的选择，改善分析的检出限，分析速度快，结果准确可靠，可适合各种稀土试样（高纯稀土、混合稀土）的日常分析。     

导数光谱Kalman滤波法校正ICP—AES光谱干扰的研究

本文以导数光谱Ｋａｌｍａｎ滤波法研究了ＩＣＰ－ＡＥ可典型的光谱干扰，考察了该法的检出限和准确度，探讨了该法的影响因素，结果表明，该法能有效地消除和校正光谱干扰，降低检出限，结果准确可靠。     

自适应卡尔曼滤波分光光度法同时测定铜,锌,钴,镍

本文采用自适应卡尔曼滤波（ＡＫＦ）分光光度法，分析了以５－Ｂｒ－ＰＡＤＡＰ为显色剂。ＯＰ为增溶剂的Ｃｕ、Ｚｎ、Ｃｏ、Ｎｉ混合体系，探讨了显色条件、滤波参数选择问题。合成试样解析结果表明：ＡＫＦ法能很好地消除由于这四个元素的络合物光谱严重重叠而致的相互干扰，获得准确的分析结果，同时因ＡＫＦ法可在一定程度上校正混合体系吸光度对加和性的偏离，故而计算结果优于普通卡尔曼滤波法（ＫＦ）。     

稀磁合金的杂质效应对热导率和热电势的影响

本文采用李正中的Ｈａｍｉｌｔｏｎｉａｎ，讨论了稀磁合金中ｓｄ互作用效应（孤立杂质效应和ＲＫＫＹ关联效应）对热导率和热电势的影响．     

重掺杂硅费米能级和少数载流子浓度的温度特性分析

费米能级和少数载流子浓度是硅半导体的重要物理参数，它们与半导体掺杂杂质种类、掺杂浓度和温度都密切相关，至今尚未有一统一的数学模型，特别是在杂质重掺杂各件下进行定量的计算。本考虑了重掺杂引起的禁带变窄效应，建立了从７７Ｋ到３００Ｋ广为适应的数学模型，着重分析了重掺杂条件下它们的温度特性，获得的计算结果与献数据较好吻合，这为低温半导体器的设计提供了有益的理论基础。     

人造金刚石微偻中杂质元素的发射光谱分析

人造金刚石微粉质量检查，通常采用简单的灼烧试样残渣法，此法只能测杂质氧化物总量。在目前金刚石处理样品困难和现有设备条件下，我们采用发射光谱固体粉末法分析，并配制了一套适合不同种类金刚石微粉分析标样（不同触媒生产的金刚石内含杂质元素不一，此标样可通用）。并在方法、条件选择上作了些探讨，能较精确地测出几种杂质元素的含量，也可得出它们的氧化物总量用以和技术规范比较，本法相对标准偏差10％左右，可满足科研和生产要求。     

用于硬X光诊断的K边滤波谱仪

介绍了用于低激光能量（Ｅ＿Ｌ≤２３ＯＪ）二倍频实验中硬Ｘ光诊断的多道Ｋ边滤波谱仪（简称Ｋ·ＦＳ）的工作原理、结构性能和特点，给出了Ｋ·ＦＳ在惯性约束聚变（ＩＣＦ）实验中观测硬Ｘ光谱的典型实验结果。     

用软X射线成像观察HL-2A装置中的杂质注入过程

激光吹气是主动性研究等离子体内部杂质输运的最佳方法之一。杂质的注入用杂质粒子流表示 Г=-DVn＋Lvn 式中，D为输运系数，V为对流速度。激光吹气实验可在放电中选择不同时段注入可控量的杂质。由于杂质注入量很小且附加脉冲信号持续时间很短，等离子体电流和温度都没有明显扰动。杂质约束时间可根据中心道信号衰减时间来计算。     

Kalman滤波技术在电感耦合等离子体原子发射光谱分析中的应用

本文研究了Ｋａｌｍａｎ滤波技术在电感耦合等离子体原子发射光谱分析中的应用。以０．３２０ｍｇ／ｍｌ氧化铽中微克级镧，铕，钆，镝，铒和铥的测量为例具体叙述了方法，并提供实用计算机程序，为校正光谱干扰提出了一实用方法。该方法无需化学分离富集，直接分析光谱干扰严重的样品。     

1维圆柱掺杂光子晶体的滤波性能

为了研究1维圆柱掺杂光子晶体的滤波性质,利用光波在1维圆柱掺杂光子晶体中径向受限的条件,推导出光波在1维圆柱掺杂光子晶体中各个模式满足的关系式,研究了TE波和TM波各模式的缺陷模随模式量子数和杂质光学厚度的变化规律。TE波和TM波的缺陷模频率都随模式量子数的增加而增大;同一模式TE波和TM波的缺陷模频率都随杂质光学厚度的增加而减小。利用缺陷模随模式量子数的变化规律可以实现多通道滤波,利用缺陷模随杂质光学厚度的变化规律可以实现调谐滤波。