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1.
用ICP—AES法测定高纯氧化铥中十四种稀土杂质   总被引:2,自引:1,他引:1  
  相似文献   
2.
Kalman滤波法消除光谱连续背景的研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文研究了Kalman滤波法消除光谱连续背景,以电感耦合等离子体原子发射光谱法测量氧化铽中La,Er,Gd,Dy,Du和Tm为例研究了不同背景情况下的结果。用新息序列的平均平方和正交自相关系数超过出信度极限以外数为评价函数,可评价所估计的背景形状,是一种不用测背景,用计算方法消除光谱连续背景的好方法,本方法不仅适用于电感耦合等离子体原子发射光谱,对分光光度,原子等原则上都可适用。  相似文献   
3.
本文研究了电感耦合等离子体原子发射光谱分析Kalman滤波法测定高纯氧化铥中的14种其他稀土杂质的方法。Kalmani滤波法有效地消除光谱干扰,可利用受干扰的光谱灵敏线,因而可提高灵敏度,是一种大大量基体存在下测定痕量杂质的有效方法。  相似文献   
4.
考察了Kalman滤波技术校正ICP-AES中谱线重叠干扰的潜力.以新息序列的平均平方和为评价函数优化扫描光谱的峰位,消除扫描过程中可能产生的波长定位误差,从而保证滤波结果的准确性,并使实际检出限显著改善.在中等分辨率光谱仪和扫描步长为1.5pm的条件下,滤波器能有效地分辨峰间距只有4.8pm且峰形基本相同的重叠线对.对峰间距为9.8pm的重叠线对,当线背比低至0.05左右时仍能获得满意结果.连续背景用理论描述,因而样品溶液和纯组分溶液的光谱扫描无需扣除溶剂空白.  相似文献   
5.
在过去近二十年中,关于发射光谱,或质谱照相干板测光自动化方面已经取得相当的进展。由于光谱干板信息量大,有人应用小型机,甚至中大型机对干板进行快速扫描,将大量光谱信息记录在磁盘或磁带上,然后进行脱机处理.也有人将原有测微光度计改装,应用小型机控制进行全自动测光及数据处理.近年来,有人曾用微处理机进行数据采样,但数据处理仍然应用大中型机.计算机与测微光度计联用,虽然国外已有商品出售,但是价格昂贵,且型号较少。目前,国内发射光谱或质谱照相干板的测光还多为手工,费时费力,且精度较差.为了解决测光问题,  相似文献   
6.
本文以纯Y_2O_3中杂质元素的ICP-AES测定为例,研究用数值微分技术解决光谱干扰同题。结果表明,导数光谱法不仅可以有效地消除来自基体的光谱干扰,还能减小谱线干扰对检测能力的影响。当分析物浓度较低时,导数光谱法的加入回收率明显优于离峰分析法,多数情况下也优于在峰法校正光谱干扰时的回收率。  相似文献   
7.
数据平滑和扫描步长是两个重要求导条件。本工作用五点三次多项式平滑技术对扫描数据进行平滑处理以消除随机噪音,但平滑次数增大会导致信号失真从而使导数光谱的分辨能力降低。扫描步长减小能提高导数光谱的分辨能力,但同时导致导数光谱灵敏度减小。导数光谱中干扰物等效浓度IEC的大小是上述因素的综合反映。本文以IEC为考察指标,讨论了平滑次数和扫描步长的优化。  相似文献   
8.
本文研究了Kalman滤波技术在电感耦合等离子体原子发射光谱分析中的应用。以0.320mg/ml氧化铽中微克级镧,铕,钆,镝,铒和铥的测量为例具体叙述了方法,并提供实用计算机程序,为校正光谱干扰提出了一实用方法。该方法无需化学分离富集,直接分析光谱干扰严重的样品。  相似文献   
9.
ICP—AES光谱模拟和谱线选择   总被引:4,自引:0,他引:4  
本文采用Voigt线形函数对ICP-AES中谱线重叠和结构背景的干扰作了模拟。结果表明,模拟的光谱与实测的光谱基本一致,因而利用模拟光谱对谱线选择具有一定的指导意义。  相似文献   
10.
本文将自模型曲线分辨方法(SMCR)应用于ICP-AES谱线重叠光谱干扰的校正,并就测量误差对重叠光谱解析结果的影响作了详细的研究和讨论。两谱线的重叠程度越大,随机误差对光谱干扰校正的影响越大。对测量数据作平滑处理。可以减小数据随机误差对结果的影响,但平滑次数增加,将导致光谱图变形,使干扰校正结果产生较大的误差。数据的平滑不能减小光谱偏离加和性的误差。本工作对两条光谱重叠的情况作了讨论,并取得了较好的结果,表明SMCR法是校正ICP-AES中重叠谱线干扰的一种简便、快速的方法。  相似文献   
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