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本文介绍了用冲击电流计测电容时,开关漏电对测量的影响及改进方法。最后简要指出用比较法测量一个量值与标准电容相差较大的电容时,产生系统误差的原因。 相似文献
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浅谈冲击电流计阻尼度的选择席存蒸,王澜涛(石家庄铁道学院050043)冲击电流计与灵敏电流计不同,利用冲击电流计测量时读取的是第一次最大偏转量d。,此量以及从零点偏转到此量所需时间t;均与回路的阻尼度有关,即冲击电流计的灵敏度以及它为测量者提供的读数... 相似文献
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用冲击电流计测量长直螺线管在轴线上磁感强度的分布,是个很重要的实验,通过这个实验可以掌握冲击电流计的使用方法,还可加深对圆形电流磁场理论的理解。一、冲击电流计的使用条件 1.冲击电流计必须在远离外磁场源的地方使用,特别注意应防止电流计测量回路 相似文献
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冲击法测量是以冲击电流计为基本仪器0测量方法.冲击电流计是用来测量短时间内m冲电流所迁移的微弱电量,它可用于测量高阻电容、磁感应强度、磁性材料的特性等方面,8高校物理实验中占有重要的地位.而在这一乡实验中,冲击电流计和换向开关是不可少的计器设备.目前普遍使用的换向开关都是双刀刃掷开关,它的工作过程是先将电路断开,然后迅速接通.换向开关从开到闭,电流由一了。变为十人,有一个暂短的时间间隔.在这个时间旧隔里,电路发生了什么变化,这个时间间隔有多长,对测量带来多大的误差,如何改进?下面以冲击电流计测螺线… 相似文献
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冲击法测定直螺线管磁场的误差分析 总被引:3,自引:1,他引:2
冲击电流计是测量在极短时间内电路中通过的电量的高灵敏度仪器,可用来测磁场、电容、电感等.本文结合用冲击法测定螺线管磁场的实际教学经验,对实验中出现的一些误差及对测量的影响进行了较详细的分析,并试图对冲击电流计的正确、合理使用进行探讨.一、测量原理及线路冲击法测量磁场是根据电磁感应定律,利用被测直螺线管中磁通量变化时,包围在这个磁通回路的探测线圈感应出电动势为基础,由串联在探测回路中的冲击电流计准确地测出流过回路的瞬时电量,借以计算磁场.磁场测定的实验线路如图1所示,BG为电流计,N1和N2分别是被测螺管… 相似文献
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数据电流计外临界电阻RC的函数表达式,应用最小二乘法原理对测量数据作线性拟合,由此依次给出电流计的内阻和外临界电阻。 相似文献
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推导了冲击电流计电量常数与同路电阻的关系,用实验方法测量和描绘了二的关系曲线,并用最小二乘法拟合得到了电量常数与回路电阻关系的经验公式。 相似文献
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圆感应同步器数显表是精密测角元件,为达到较高的测角精度,必须对圆感应同步器的安装位置进行精密调整。在某经纬仪改造过程中,我们发现该经纬仪上圆感应同步器的安装位置不符合要求,致使数显表测角精度超差。由于没有设计安装调整装置,无法调整圆感应同步器,只能进行软件修正。通过对圆感应同步器安装位置给数显表测角精度带来的误差进行理论分析,得了出了数显表的误差模型,并在该数显表给出了确实可行的修正方法,修正后数显表测角精度满足该经纬仪精度要求。 相似文献
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研制了一种直观,价廉组合式数显光栅光谱仪,用于教学效果很好,由于折装点及精度选择得当,组合仪器是可以实现精密测量的。 相似文献
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基于液晶分划和数字图像处理的正透镜焦距测量研究 总被引:2,自引:1,他引:1
讨论了一种基于LCD、CCD和数字图像处理的正透镜焦距测量方法 ,是光电法自动化测量光学系统多个参数的一种有益的探讨。用液晶屏显示分划图形取代平行光管的分划板 ,用CCD在接收方采集数字图像并送入计算机 ,通过图像处理和分析得出被测透镜的焦距。运用叠加的方法提高图像的信噪比 ;结合重心法和平行线拟合方法求取平行线对的间距 ;应用高精度焦距标准透镜标定数字图像和实际像之间的比例关系。详细介绍了测量和图像处理的方法 ,进行了公式推导和误差分析 ,并给出了实验结果 相似文献
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人体组织典型参数的获取对于各类疾病的诊断和治疗有着极其重要的作用。采用高性能显微图像测量系统实现人体组织典型参数在体测量, 对系统研制过程中所涉及的基本原理, 以及图像采集系统、成像系统与图像处理软件等关键性技术问题作了阐述。该显微图像测量系统能快速、有效地完成对人体组织典型图像指标的直接测取和定量分析, 基本实现了人体组织典型参数图像观测的数字化与检测的高智能化。实验结果表明, 采用该系统在体观测人体组织典型参数, 可以实时观测人体组织显微图像, 计算并保存毛细血管网络形态学参数和微血流动力学的各项参数, 同时具有快速简单、精确度高等特点, 可作为医学研究的重要手段之一。 相似文献
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Phase Measuring Deflectometry (PMD) is a non-contact, high dynamic-range and full-field metrology which becomes a serious competitor to interferometry. However, the accuracy of deflectometry metrology is strongly influenced by the level of the calibrations, including test geometry, imaging pin-hole camera and digital display. In this paper, we propose a novel method that can measure optical flat surface figure to a high accuracy. We first calibrate the camera using a checker pattern shown on a LCD display at six different orientations, and the last orientation is aligned at the same position as the test optical flat. By using this method, lens distortions and the mapping relationship between the CCD pixels and the subaperture coordinates on the test optical flat can be determined at the same time. To further reduce the influence of the calibration errors on measurements, a reference optical flat with a high quality surface is measured, and then the system errors in our PMD setup can be eliminated by subtracting the figure of the reference flat from the figure of the test flat. Although any expensive coordinates measuring machine, such as laser tracker and coordinates measuring machine are not applied in our measurement, our experimental results of optical flat figure from low to high order aberrations still show a good agreement with that from the Fizeau interferometer. 相似文献