CCD X射线探测器及其在同步辐射中的应用

ＣＣＤ陈列Ｘ射线探测器人有大的动态范围，灵活的数据读出和存贮方式，好的时间分辨率等特点，在Ｘ射线成像领域，尤其在高亮度同步辐射实验技术中显示出广阔的应用前景。文章主要介绍电荷耦合器件的工作原理，ＣＣＤ Ｘ射线探测器的发展动态，性能及其应用。     

CCD摄像机技术的发展趋势及应用前景

本文系统地介绍了国内外ＣＣＤ 技术的发展和未来ＣＣＤ 市场的需求,并给出了统计参考数据。讨论了ＣＣＤ 传感器需改进的几个方面和ＣＣＤ 摄像机技术性能的优化指标。文中详细地阐述了ＣＣＤ 应用的多种领域及其发展的趋势。对ＣＣＤ 摄像机技术性能的改进如Ｈｙｐｅｒ Ｄ、ＤＳＰ、ＰＳ 等作了具体介绍。     

电荷耦合器件及其应用进展

电荷耦合器件（ＣＣＤ）是基于金属－氧化物－半导体（ＭＯＳ）技术的光敏元件。目前ＣＣＤ已具有光谱响应范围宽、检出限低、动态范围宽、暗电流和读出噪声低以及具有积分信号、多道同时检测信号和实时监测等能力的优点。目前它已经广泛地应用在各个领域。本文扼要介绍了ＣＣＤ的基本工作原理。特点及性能表征。评述了ＣＣＤ在光谱检测和成象领域中较活跃的应用及发展前景。指出了ＣＣＤ技术的发展给光谱分析领域带来了革命性的进展     

CAD／CAM技术在模具中的应用

本文介绍了模具行为中应用ＣＡＤ／ＣＡＭ技术的特点、优越性以及典型模具ＣＡＤ／ＣＡＭ软件系统的功能结构，以期推广模具ＣＡＤ／ＣＡＭ技术在我院民品的应用。     

连续扫描全画素CCD摄像系统

本文阐述了连续扫描和隔行扫描ＣＣＤ（ｃｈａｒｇｅ－ｃｏｕｐｌｅｄｄｅｖｉｃｅ）摄像机的工作方式和特征，较详细地介绍了连续扫描ＣＣＤ的工作原理，用图示给出了两种扫描方式的比较。连续扫描方式可从每一个独立像素中获得在一个信号曝光周期之间产生的信号。对于在高分辨率成像情况下，在必需捕捉迅速运动目标的应用领域中，连续扫描ＣＣＤ是最佳的选择。     

用CCD分析光源的辐射光谱

本文介绍了利用光电图象技术对光源光谱进行分析的工作。利用ＣＣＤ线阵器件和计算机，我们获得了黑体、灰体及单色光源的光谱特性以及有关数据。     

CCD用于全息光栅常数实时测量研究

本文讨论了在制造全息光栅过程中，ＣＣＤ实时测量全息光栅常数的方法。其方法可实现高精度、全自动在线测量全息光栅常数，比传统的测量优越。文章用简单的装置借助ＣＣＤ进行数据采集、数据处理，实现快速自动测量光栅常数，在全息光学中有应用价值，对推广ＣＣＤ应用技术，促进光学测量现代化有现实意义。     

微柱高效液相色谱与火焰光度检测器池用的初步研究

本文研究了常规高效液相色谱（ＨＰＬＣ）及微柱高效液相色谱（Ｍｉｃｒｏ－Ｃｏｌｕｍｎ ＨＰＬＣ）与气相色谱火焰光度检测器（ＦＰＤ）的联用技术及其应用。丁基锡等化合物经ＨＰＬＣ分离后,流出液通过ＦＰＤ进行特效检测。接口采用将毛细管直接引入燃烧头的方式。文中对各有关参数进行了选择、优化和讨论,对ＦＰＤ作为ＨＰＬＣ的在线检测器的呆能性作了初步探讨。     

高分辨率CCD图像传感器及CCD摄像机的性能评价

研究了ＣＣＤ图像传感器及ＣＣＤ摄像机的性能及测试方法。重点探讨了高分辨率的ＣＣＤ摄像机的成像特点。论述了高分辨率ＣＣＤ图像传感器和高分辨率ＣＣＤ摄像机的性能。这些性能与当前厂商提供的商用ＣＣＤ摄像机有许多不同之处。评价高分辨率ＣＣＤ图像传感器的性能主要有灵敏度、动态范围、分辨率和拖影。评价高分辨率ＣＣＤ摄像机性能有灵敏度、最小照度、分辨率和光学格式等。给出了高分辨ＣＣＤ摄像机的性能评价实例,简述了其工艺特点和技术特点。     

CCD在太阳磁场测量中的应用

本文描述了太阳磁场测量仪器由光电磁像仪到视频矢量磁像仪的发展过程。从观测的信息量的概念上来看，存在着面、点、面的发展过程；从观测的信息灵敏度来看，向高时间、高空间和高光谱分辨率的方向发展。同时本文论述了ＣＣＤ的三种高分辨率、大信息量、宽光谱区、面光源的太阳磁场观测技术。本文最后还对红外ＣＣＤ、紫外ＣＣＤ、弱光ＣＣＤ在太阳磁场测量和太阳恒星磁场观测的应用进行了介绍。     

智能型高速CCD相机的时序电路的研制

首先详细地介绍了几种传统时序电路的实现方法与各自存在的优缺点 ,然后对 isp L SI器件的性能特点以及 TDI- CCD相机的组成结构、工作原理进行了简要地阐述 ,最后对采用 isp L SI器件实现 CCD相机时序电路的全过程进行了全面、细致地分析。本文结合实际课题 ,已由在线可编程大规模逻辑器件实现了高速 TDI- CCD相机的时序电路。此相机系统具有一些重要参数 (行周期、TDI级数、视频信号的增益、偏置参数 ) ,并可以灵活控制。同时该系统又具有高可靠性、高稳定性、低功耗等特点。     

体全息存储中SLM和CCD的性能对页内噪声的影响

体全息存储系统中通常采用SLM和CCD作为输入输出器件。SLM和CCD的性能包括填充因子、对比度和像素形状 ,这些性能会对像面页内像素间干涉程度产生很大的影响 ,进而影响页内噪声的大小。针对这一问题 ,首先进行了理论分析 ,然后通过计算机模拟了实际系统     

帧转移型数字相机帧转移模糊的复原

帧转移型面阵CCD相机因其诸多优点而得到了广泛的使用 ,但它也存在帧转移模糊的问题。介绍了CCD相机的几种面阵类型及其各自的一些特点 ,重点介绍了帧转移型面阵器件的工作过程 ,分析了面阵CCD器件帧转移模糊形成的原因 ,并提出了解决帧转移模糊的方法。介绍了用该方法消除帧转移模糊的实例 ,验证了方法的有效性     

光纤组束激光对可见光硅CCD的有效干扰距离分析

为了分析光纤组束激光对可见光硅CCD的有效干扰距离,对组束激光功率及可见光CCD的饱和阈值进行了分析。在弱湍流和热晕条件下对组束激光的远场功率密度进行了数值计算,计算结果表明该条件下组束激光对可见光CCD的有效干扰距离达到10km左右,组束激光是未来实施光电干扰的又一有效途径。     

基于线阵CCD的小型光谱仪光度特性研究

基于线阵电荷耦合器件（CCD）的小型光谱仪具有便于携带和快速探测的优点，故特别适于现场检测应用。介绍一种自行研制的小型光栅光谱仪，它采用Czerny-Turner式光学结构，并用线阵CCD作为探测器。该光谱仪光度特性的实验检测结果证明：实验样机的光度精密度优于±0.04Abs，光度准确度为±0.04Abs（0Abs～1Abs）。实验分析了光谱仪的杂散光、光度噪声和基线平直度等指标对仪器光度准确度的影响。最后针对小型光谱仪的特点提出改善其光度特性的措施。     

微丝直径激光测量系统的改进及提高精度的研究

提出了以激光为光源的微丝直径测量系统的新方法。就几种影响因素从理论和实验上对激光衍射法测量微丝直径进行了研究,改进测量系统,并以正交CCD组为接收元件。与传统测量方法相比,不再有测量距离的不确定及CCD定位等问题。     

多路CCD成像非一致性动态校正新方法

在多路CCD成像结构中,由于影响各路成像参量不一致的因素较多,常规校正方法变得复杂和困难。在分析多路CCD成像机理的基础上,提出了一种利用小波变换的多路CCD成像非一致性动态校正新方法,即在分析同一目标成像中异路图像像元特性差异的基础上,利用小波变换构筑校正因子对后续的CCD捕获图像进行校正。为满足实时校正的需要,研究了动态条件下成像校正的时效性,分析了不同小波的动态校正效率。实验结果表明,校正后同一目标异路图像相关值为0．9975,Symlet3小波在两路及多路成像校正中均具有较高效率;在多路成像中,Symlet系列小波相对于其它类型小波校正效率相对突出。此方法为多路CCD成像非一致性在线校正提供了有效的途径。     

利用TFT-LCD像素结构衍射测试CCD图像采集系统的像素间距

研究了在范德卢格特型光学相关器中利用薄膜晶体管液晶显示器（TFT-LCD）替代靶板实物测试CCD图像采集系统像素间距的原理和方法,对由HN-480型CCD摄像机和OK-C21型图像采集卡组成的图像采集系统像素间距进行了现场测试,并对测试结果进行了误差分析.结果表明,该方法充分利用了光学相关器的现有组件,不需要其它设备,保证了图像采集系统像素间距的测试结果和实际工作性能的一致性,具有很强的实用性和可操作性.     

CCD摄像机的输出调制度阈值分析

应用数理统计学的有关内容对CCD输出信号中的随机噪声进行了相关分析。引入了“噪声等效调制度”这一概念 ,利用计算机模拟技术对摄像机成像时所产生的随机噪声进行了模拟与计算。通过计算机模拟 ,推导出了噪声等效调制度与CCD摄像机系统信噪比之间的关系。将信噪比对CCD摄像机成像质量的影响予以量化 ,并对摄像机的输出调制度阈值进行了分析与计算