左截尾双参数指数分布的可靠寿命的广义置信下限

本文基于左截尾双参数指数分布定数截尾数据,利用Weerahandi给出的广义枢轴量和广义置信区间的概念,通过两种不同的方法建立了可靠寿命的广义置信下限.第1种方法利用位置参数无限制时可靠寿命的广义置信下限来定义左截尾情形下可靠寿命的限制广义置信下限,第2种方法基于广义枢轴量在限制参数空间上的条件分布给出可靠寿命的条件广义置信下限.我们分别研究了这两种置信下限的性质,给出了简单易行的数值计算方法.模拟比较表明限制广义置信下限具有好的覆盖率性质,条件广义置信下限的覆盖率与参数取值有关,但它有时比限制广义置信下限具有更大均值和更小标准差.     

串联系统可靠性虚拟系统法置信下限的小样本性质

本文讨论了具有r个成败型元件串联系统可靠性的置信下限问题。研究了虚拟系统法置信下限的小样本性质,证明了,在通常情况下虚拟系统法置信下限要大于常见的L-M法置信下限.更一般地,本文证明了在成败型试验中,当成功数与试验数之比保持不变时,试验次数的增加将直接缩小成功率置信区间的长度。     

基于分布矩拟合的小子样二项分布参数P的置信下限

基于分布矩拟合的原则,给出小子样二项分布成功率P的置信下限的一种计算方法,通过与经典置信下限及reformualtion方法计算的置信下限进行比较,得出分布矩拟合方法计算的置信下限是合理和可信的.     

基于随机截尾数据的指数型元件串联系统可靠性的置信限

基于元件的随机定时截尾寿命试验数据 ,给出了指数型元件串联系统可靠性的经典精确置信下限 ,给出了数字例 .     

两成败型元件可靠性之差的经典精确最优置信下限

设有可靠性分别为p1和p2的两成败型元件.第i个元件试验N_次,成功S_次(i=1,2).本文利用样本点排序的方法给出了Q=p1-p2的经典的置信下限,并讨论了所得置信下限的精确性及最优性.     

两参数Weibull分布平均寿命的置信下限

王蓉华，徐晓岭．两参数Ｗｅｉｂｕｌ分布平均寿命的置信下限．数理统计与管理，１９９８，１７（２），４３～４５．本文给出了求两参数Ｗｅｉｂｕｌ分布定数截尾下平均寿命置信下限的一种方法     

贮备系统的可靠性及其经典精确置信限

本文给出了转换开关完全可靠时，由ｎ个相互独立的指数寿命型元件组成的冷贮备系统，当其中Ｋ个元件的失效率相同，另外ｎ－ｋ个元件的失效率各不相同时，系统可靠性的表达式。此结果ｋ＝０及ｋ＝ｎ时结果的推广。同时，本文基于元件的分组试验数据，用排序法给出了系统可靠性的经典精确置信下限。     

基于检测数据的指数型元件贮存可靠性的置信限

为了评估元件或产品在贮存期间的可靠性，我们要对元件进行检测．一般地，在ti时刻检测ni个元件，设每次检测的正确率为ri，（ri已知，ri＞1／2）．检测结果成功的元件数为si（i＝1，k）．本文将基于此类数据，给出一种方法，来确定元件的贮存可靠性的置信下限，并给出了数字例．     

求参数函数置信限的一般性WCF方法及其应用

该文将求参数函数置信下限的WCF方法推广到参数的估计量之间具有相关性的一般情形; 利用推广了的公式, 给出了求单个威布尔型设备及含威布尔型设备的系统可靠度置信下限的方法, 并进行了模拟研究. 模拟结果表明, 该方法优于基于渐近正态性的近似方法, 尤其是在中小样本情况.     

基于随机截尾数据的指数型元件串联系统可靠性的置信限

基于元件的随机定时截尾寿命试验数据,给出了指数型元件串联系统可靠性的经典精确置信下限,给出了数字例。     

可靠性系列知识讲座 第四讲:可靠性增长试验的统计分析与设计

新产品的研制工作要经历若干个阶段,每个阶段都是在前一阶段的基础上针对产品在设计、材料或工艺等方面的缺点采取改进措施,以便产品的可靠度得到提高。本文在一般公认的假定—次序约束下,综合利用各阶段的数据给出了最后阶段产品可靠度的点估计和置信下限,它比只利用最后阶数据得到的点估计和置信下限更为合理。此处,还对可靠性增长试验的设计提出了有价值的建议。     

指数分布情形下可修单元瞬时可用度评定

A renewable component with exponential failure and repair times is considered, and its instantaneous availability at time t is denoted by A(t). This paper proposes two methods for constructing lower confidence limits of A(t) with Chebyshev inequation and generalized p-value approach.     

INSTANTANEOUS AVAILABILITY ASSESSMENT OF RENEWABLE COMPONENT IN EXPONENTIAL DISTRIBUTIONS

A renewable component with exponential failure and repair times is considered, and its instantaneous availability at time t is denoted by A（t）. This paper proposes two methods for constructing lower confidence limits of A（t） with Chebyshev inequation and generalized p-value approach.     

性能型产品贮存期评定方法研究

设产品的性能参数服从正态线性模型。当性能参数超过规定上限或下限时产品判为不合格，对给定的可靠度和置信度得到了贮存期的点估计和四种近似置信下限，并比较了它们的覆盖率。     

任何序贯样本情形下伯努利参数的置信限

设（xn,n≥1）是独立同分布的随变量列,xn=0或1且P（xn=1)=p(n≥1),这里p是未知的,设τ是（xn,n≥1）的任何有限停止时间,对任何序贯样本（x1,x2,…,x)和r∈(0,1),本文给出了p的r水平最优置信下限和最优置信上限,还讨论了一些有关的问题。     

二项分布的参数估计问题研究

本文主要讨论二项分布的参数估计问题.对GB/T 4087.1-1983,GB/T 4087.2-1983,GB/T4087.3-1985给出的经典二项分布参数点估计、区间估计和可靠度置信下限计算方法进行了分析,指出了其中存在的问题.根据二项分布的数学表达式推导出了二项分布参数的概率分布密度函数,在此基础上提出了进行二项分布参数估计的一般方法.     

基于巴斯卡数据成败型元件串联系统可靠性经典精确置信限

设Ａ为由Ｋ个相互独立的成败型元件组成的串联系统，第ｉ个元件的可靠性ｐｉ，ｐｉ未知，ｉ＝１，２，…，Ｋ．设对第ｉ个元件，对于给定的ｍｉ，有ｎｉ个巴斯卡试验数据：Ｘｉ１，Ｘｉ２，…，Ｘｉｎｉ，其中Ｘｉｊ表示对第ｉ个元件进行试验，试验进行到ｍｉ次成功时所需要的试验次数ｊ＝１，２，…，ｎｉ，ｉ＝１，２，…，Ｋ．记Ｔｉ＝Ｘｉ１＋Ｘｉ２＋…＋Ｘｉｎｉ，ｉ＝１，２，…，ｋ．本文研究基于统计量（Ｔ１，Ｔ２，…，Ｔｋ）求串联系统Ａ的可靠性经典精确最优置信下限．     

Lower confidence limits for structure reliability

For a class of data often arising in engineering, we have developed an approach to compute the lower confidence limit for structure reliability with a given confidence level. Especially, in a case with no failure and a case with only one failure, the concrete computational methods are presented. Selected from Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Pekinensis, 2004, 40(5): 702–711