牛顿环实验的三种数据处理方法

本文就用牛顿环测定平凸透镜凸面的曲率半径的数据,以三种方法处理来进行对比。方法一用逐差法处理实验数据此法在现行教材中比较通用,主要是考虑到玻璃的接触状态引起的系统误差,因而就不直接从牛顿环直径D(k)去计算平凸透镜的凸面曲率半径R,     

有界型凸函数

1.前言和预备知识 A.W.Goodman引进并研究了下面的函数族,设函数：■在单位园盘E={|z|<1}内正则单叶,用S表示该族。若在E内又是凸形的,自然f(E)是凸区域,在?f(E)上的曲率半径ρ∈[R_1,R_2],当0相似文献   

测量薄透镜折射率及曲率半径的一种方法

一、引言透镜的参数主要包括折射率n及曲率半径R等。若想得到n、R就必须用不同的实验方法分别测量。通常我们在实验中测定固体折射率所采用的方法对被测光学样品的形状都有特殊要求。浸液法虽然可测任意形体的样品,但实际操     

牛顿环实验中的误差分析

本文对牛顿环测透镜曲率半径实验中引起误差的各种原因进行分析讨论，指出了误差的主要来源及比较完善可行的处理方法。     

一道高考题带来的思考——一种带电粒子在复合场中轨迹的处理方法

带电粒子在复合场中的轨迹一般比较复杂,高中阶段可以定量处理的,一般是直线运动类型的问题,如粒子选择器中的匀速直线运动,如果是非直线类一般很难处理.但是,一道高考题的研究给了我们新的思路.     

长焦距宽波段光学系统二级光谱及畸变——波差法参数求解(续)

本文论述了用波差法求解星模拟器上的光学系统各透镜光焦度和曲率半径的方法。为了校正长焦距、宽谱段光学系统二级光谱与畸变，系统的前后组分别在正逆光路下，各自保留约同值反号的位置色差及球差，用波像差法能较准确的解出其解。     

牛顿等厚干涉平行直纹实验的设计及研究

根据薄膜干涉原理设计了等厚干涉平行直纹实验装置,以等厚干涉为基础,通过读数显微镜装置,拓展了等厚干涉在实验教学中的应用。通过测量左右对称分布且明暗相间的平行直纹到中央零级直纹的距离,可以得到平凸柱面镜的曲率半径以及液体折射率。在平凸柱面镜上平面覆盖一层待测液体,可以增大入射光进入透镜的透射率,增强透射光的光强度,提高干涉条纹的亮暗强度。等厚直纹干涉现象清晰直观,实验操作简单方便,加入待测液体,无须拆开干涉装置,可以保证在相同的空气薄膜厚度下进行测量,降低实验的误差。同时该设计研究可以促进学生的动手实践与创新能力的提高,为探究式实验教学提供很好的案例和实践。     

一种精确测量光学球面曲率半径的方法

在简要总结各种检测光学球面曲率半径方法优缺点的基础上,提出了利用激光跟踪仪和激光干涉仪测量光学球面曲率半径的新方法。首先,通过激光跟踪仪精确定位测量干涉仪出射球面波前的焦点和待测球面镜的曲率中心点坐标,再调整待测球面镜与干涉仪的相对位置,使待测球面镜达到零条纹干涉状态,用激光跟踪仪测定此时待测球面镜上多点的位置坐标,通过计算分析即可得到待测球面镜的曲率半径。研究和分析了这种测量光学球面曲率半径方法的基本原理,并提出了针对凸球面镜曲率半径的多区域测定平均综合优化的方法。结合实例对一口径为400mm的球面透镜进行了曲率半径的测量,测量得到其两面曲率半径分别为1022.283mm(凸面)和4069.568mm(凹面),并将该透镜进行了轮廓法测量对比,其相对误差都小于0.05%。     

Geometry optimization in planetary rotation stage for thickness uniformity of films on spherical substrates

We report the simulation results on the thickness uniformity of optical coatings deposited on spherical substrates by optimizing the geometric configuration parameters, such as tilting angle of the substrate holder and position of the evaporation source in a 1 000-mm-diameter planetary rotation stage （PRS）. We reveal that good film uniformity on convex spherical surfaces or flat substrates, as well as concave surfaces with weak to moderate curvatures can be obtained through appropriate tilting of the substrate holder. For 300-mm-diameter substrates with clear aperture to radius of curvature （CA/RoC） between 0.3 and 0.7, the achievable film uniformity is above 99%. The source position is optimized to achieve good film uniformity.