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本文提出一种比较简便且适用性强的用电子计算机进行单斜晶系化合物衍射图指标化的解析法。根据各衍射线对晶面间距倒数平方值Q之差δ值的重复数m(δ-m图)及其比例关系确定晶胞参数b。经退化步骤将各倒易阵点投影到a*c*平面上,每三个倒易阵点组合可求出一对倒易矢量间的夹角。根据夹角重复数M(β-M图)确定β角。从而可求出晶胞参数a,c。最后用叠代修正逼近指标化方法进行全衍射图的指标化。给出了计算机程序流程图。用四水醋酸镍和钨酸钾等作为实例,证明了本指标化方法是适用的。
关键词： 相似文献
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用X射线多晶衍射的方法精密测定晶胞参数时,通常要求用精密的实验方法绝对测得每条衍射线的衍射角θ值[1].这一般要有精密的衍射仪或粉末照相设备,并要对它们作严格的调节和校正.因为绝对测定θ角首先要有精确的角度零点位置作标准,并需根据衍射线形或强度分布严格地判断真正的 相似文献
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