X射线荧光光谱法测定氧化铁皮中的硅和钙

采用偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔融法制样,波长色散X射线荧光光谱法同时测定了氧化铁皮中的SiO2和CaO。考察了熔剂、脱模剂等对熔片的影响。用本方法测定氧化铁皮试样中SiO2和CaO的相对标准偏差分别为0.4%和0.6%,分析结果与其他方法测定值一致。与化学法相比,该方法快速、简便、精密度好和准确度高。