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热损伤奥克托金(HMX) 缺陷的X射线小角散射研究   总被引:2,自引:0,他引:2       下载免费PDF全文
闫冠云  田强  黄朝强  顾小敏  孙光爱  陈波  黄明  聂福德  柳义  李秀宏 《物理学报》2012,61(13):136101-136101
奥克托金(HMX) 在温度作用下, 会发生热膨胀、 相转变、 热分解等物理、 化学变化, 导致在材料内部产生大量缺陷, 进而会对其宏观性能造成明显影响. 为了深入了解热损伤HMX内部的缺陷演化, 本文采用X射线小角散射和原子力显微技术研究了热损伤HMX的内部缺陷. 结果发现HMX在180 °C相变过程中散射曲线有明显的变化, 颗粒内部生成了大量10nm左右的孔洞, 随着加载时间延长, 其尺寸增大到25nm, 数量明显降低. 当HMX在190 °C、 200 °C保温5h时, 由于HMX热分解内部有新缺陷生成, 小角散射发现其尺寸约为5至8nm, 随着加载温度升高, 其数量增加.  相似文献   
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