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1.
"在Pt/Ti/SiO2/Si基片上用溶胶-凝胶法生长制备了PZT(Pb(Zr1-xTix)O3)复合梯度铁电薄膜. 薄膜最终结构由6层组成,"向上"梯度薄膜在Pt底电极上的第一层从PbZrO3开始,顶层是PZT(50/50),即第一层是PbZrO3,第二层PZT90/10 (10%Ti),第三层是PZT80/20,第四层PZT70/30,第五层PZT60/40,第六层PZT50/50.每一层与此相反的是"向下"梯度PZT薄膜.用X射线衍射、俄歇电子能谱和阻抗分析来研究梯度薄膜的结构与介电特性.600  相似文献   
2.
采用溶胶-凝胶法制备纳米级SiO2粉,分别用X射线衍射仪、透射电子显微镜、红外光谱仪和差热扫描量热分析仪对其进行了分析测试。结果表明于凝胶在1200℃热处理1小时仍是无定型的SiO2粉,其平均粒度大小为40nm。  相似文献   
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