双爆炸膜内壳层光电离X射线激光实验研究

报道了Pd-NaF,Pd-Cu,Ag-NaF和Ag-Cu耦合双爆炸膜内壳层光电离X射线激光的实验方法和一些实验结果。结果表明,在本实验条件下,激光加热NaF或Cu靶产生的1keV区的光子,可以增强Pd或Ag等离子体中类-Cu离子的3d¹⁰4p-3d⁹4s²软X射线发射的强度,但不足以形成X射线激光的输出。 关键词：     

超软X射线流气式正比计数管

介绍了一种用于测量183～933eV超软X射线的圆柱形、侧窗式、流气式正比计数管,工作气体是0.11MPa的P-10气体或氦气-丙烷混合气体。计数管内径为φ25mm,直径为φ0.3mm的入射窗是由厚度80～90μgcm~2聚乙烯甲醛制成的。该计数管的特点:(1)薄窗,对软X射线透过率高。(2)流气式,工作寿命长。(3)能量分辨率好。(4)计数率高(1×10~(14)个/s)。(5)可测能区宽(0.183～10keV)。(6)可以方便更换窗膜材料、厚度及窗口直径。近几年来该计数管已经为高强度低能X光源提供较好监测。     

类氖锗的X射线激光增益及其传输特性研究

在神光(10¹²W)装置上,用1.06μm激光加热片状锗靶,用袖珍式掠入射光栅谱仪测量了类氖锗离子的3S—3P激光跃迁线的增益系数和X射线激光的传输特性,得到的结果为:波长为19.638,23.224,23.627,24.743和28.643nm的5条激光跃迁线的增益系数分别为3.06,3.99,3.72,2.36和4.59cm^-1;当等离子体长度为18mm时,相应的X射线激光的发散角约为12mrad,发射X射线激光的等离子体厚度约为200μm,X射线激光峰值强 关键词：     

激光等离子体衰减系数的测量

利用“星光”激光装置的线聚焦激光束辐照碳铝组合靶，形成Ｘ光点源及铝等离子体的衰减区。用带时间分辨的平场光栅谱仪测量由碳等离子体发射的Ｘ射线在穿过长为３ｍｍ的铝等离子体后强度随时间的变化。测量结果表明该方法用于激光等离子体衰减系数测量是可行的。     

1．053μm激光产生逃逸电子的实验观测

利用１．０５３μｍ钕玻璃激光辐照Ａｕ、Ｔｉ、Ａｇ及Ｃ＿８Ｈ＿８等材料平面靶，在不同功率密度Ｉ＿Ｌ下测量了等离子体中由于反常吸收而产生的逃逸高能电子能谱。测量是由一台可变磁场９０°焦β谱仪完成的。测量结果表明：在谱仪测量的能量范围内，热电子分布中的高能尾部在高能电子能谱中所占的比重是完全可以忽略的。我们所测的电子能谱大多数可以用麦克斯韦分布来描述，高能电子温度Ｔ＿ｈ一般为３０～７０ｋｅＶ。实验得到Ａｕ、Ｔｉ、Ｃ＿８Ｈ＿８平面靶Ｔ＿ｈ与Ｉ＿Ｌ之间的关系式。     

1～1000keV能区X射线闪烁探测器灵敏度的标定

本文介绍利用六种标准X光同位素源和亚千电子伏X光源，采用直流法对XP 1110(或XP1115)光电倍增管与NaI(T1)闪烁体装配成的闪烁探测器在1～1000keV能区范围内的灵敏度进行标定，给出了在三种不同的高压下，不同厚度的新旧两种NaI晶体配制：XP1110或XP1115闪烁探测器的标定结果，且给出了这些结果的灵敏度曲线。文章对利用质子激发铝靶国内首次产生的1.5keV的X光作为光源对该闪烁探测器低能道的灵敏度标定，作了简要介绍。文章还对用氮灯作为光源模拟激光打靶对该探测器的幅值线性和积分线性进行了探讨。     

类锂铝10.57和15.47纳米X光激光增益研究

在LF-11(10^(11)W)激光装置上,开展了类锂铝(Al^(10+))的X光激光实验研究。实验中,激光器运行在线聚焦工作状态,波长1.06μm,脉冲宽度约为200ps,能量约20J。线聚焦长12mm,宽约100μm。实验中使用了厚铝靶(1.2μm)和薄膜铝靶(60和94.7nm),用时间积分掠入射光栅谱仪测量线状等离子体轴向XUV谱,用针孔照相机监视线聚焦状态。结果表明,Al^(10+)离子的10.57(3d-5f)和15.47(3d-4f)nm线的强度随等离子体的长度呈现明显的非线性增长。这两条激光跃迁线,用60nm铝靶时,增益系数分别为3.18和2.26cm^(-1);用1.2μm铝靶时,增益系数分别为1.67和0.91cm^(-1);用94.7nm铝靶时,波长为10.57nm线的增益系数为1.78cm^(-1)。说明厚度合适的薄膜靶能获得较高的增益。     

俄歇效应泵浦的波长1089的激光增益实验

本文介绍了LF-11~#钕玻璃激光装置上进行的一次短波长激光增益实验。用波长1.06μm、能量20J、脉宽650ps左右的激光束辐照钽靶,形成的等离子体发射出能区在70到130eV之间的软X射线,然后用软X射线去泵浦压强为266.6Pa的Xe气激光工作介质,产生出1089A的激光。实验得出小信号激光增益系数a=2.38/cm。激光持续时间为700ps。     

内壳层光电离机制物理现象的实验观测

内壳层光电离机制是产生粒子数反转的途径之一，如何在中等功率的激光器上产生接近“水窗”波段的Ｘ光激光输出是人们关注的一个焦点。本文介绍在双靶耦合条件下利用内壳层光电离原理产生粒子数反转的实验研究，包括：实验原理、靶型选择、泵浦靶Ｘ光源强度测量及工作靶线谱诊断等，最后对实验结果进行了讨论，认为在国内目前条件和我们已采取的措施下，双靶耦合光电离机制只能产生微弱的粒子数反转。