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利用X射线光电子能谱(XPS)研究了Bi系纯2212相超导单晶和Gd掺杂的2212相绝缘体单晶的电子状态的区别。实验结果表明Gd掺杂引起超导电性的变化是由于D2p轨道空穴填充引起。本文还对Cu2p3/2XPS卫星峰与主峰强度之比(Is/Im),Bi-O层性质以及Bi系Fermi能级附近态密度的来源等问题进行了讨论。 关键词:  相似文献   
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