平面光学元件PMD面形检测的调整技术研究

针对相位测量偏折术(PMD)检测平面光学元件面形的光路结构,系统地分析了各部件因各自由度的不确定度变化对重建面形的影响,并且提出了一种高精度的平面元件调整方法。通过对相移算法得到的显示器坐标与通过光线追迹得出的参考面显示器坐标进行比较,能够将被测镜调节至理想测试状态,从而能准确求出被测面上各点斜率,再采用波前重建算法,实现了光学元件面形重建。实验结果显示,有效口径为Ф140mm的平面元件在去掉Zernike多项式前6项的面形数据与干涉仪的测量结果差值在RMS=5nm以内,结果远优于未经过该方法调整的结果。因此,该调整方法可行,能够有效完成对平面元件的精密调整,具有很大的应用价值。     

Study on electrical defects level in single layer two-dimensional Ta_2O_5

Two-dimensional atomic-layered material is a recent research focus, and single layer Ta_2O_5 used as gate dielectric in field-effect transistors is obtained via assemblies of Ta_2O_5 nanosheets. However, the electrical performance is seriously affected by electronic defects existing in Ta_2O_5. Therefore, spectroscopic ellipsometry is used to calculate the transition energies and corresponding probabilities for two different charged oxygen vacancies, whose existence is revealed by x-ray photoelectron spectroscopy analysis. Spectroscopic ellipsometry fitting also calculates the thickness of single layer Ta_2O_5,exhibiting good agreement with atomic force microscopy measurement. Nondestructive and noncontact spectroscopic ellipsometry is appropriate for detecting the electrical defects level of single layer Ta_2O_5.     

机器视觉测量中成像系统光瞳球差对测量影响的研究

光瞳像差的存在会导致实际光瞳和理想近轴光瞳的形状和位置出现差异,从而对光学系统的成像质量产生间接的影响。由于光瞳球差会影响光瞳的位置,而在某些使用机器视觉的测量系统中,入瞳位置作为摄像机的光心,形成了机器视觉中的一种重要参数,当入瞳位置发生变化时,将会影响到测量的准确性,尤其在高精度的测量领域。介绍了光瞳像差的基础理论,以SCOTS(Software Configurable Optical Test System)光学面形测量系统为例,通过计算入瞳球差,分析了光瞳球差对相位测量偏折术测量的影响。结果表明,双高斯物镜中光瞳球差的存在,对测量结果的准确性和精度造成了影响,故在使用机器视觉进行测量的系统中,需考虑光瞳像差带来的影响。     

基于空间直线预标定检测光学元件面形的研究

基于斜率检测的相位偏折术能够快速、简单、准确地测量光学元件面形和透射光学元件畸变波前。借助点光源显微测量系统对参考点坐标的准确测量提出了空间直线预标定的方法,利用它得到了相机中CCD面阵上每个像素对应每条光线的方向向量,通过每条光线的方向向量和被测面方程,追迹得到了被测面的世界坐标,从而求出被测面上各点斜率,采用波前重建算法,实现了光学元件面形的准确重建。实验结果显示,拟合面形去掉Zernike多项式前4项的RMS数据与干涉仪的测量结果最大相差仅约10nm,并且实验中重建的面形与利用张正友提出的标定方法坐标计算重建的面形几乎相同。因此,空间直线预标定法切实可行,可以实现高精度的反射光学元件面形测量,且测量系统简单,具有应用价值。     

A full resolution autostereoscopic 3D display based on polarizer parallax barrier

A full resolution autostereoscopic three-dimensional （3D） display prototype is developed. It is composed of a time division thin film transistor liquid crystal display panel with an optical controlled birefringence liquid crystal polarization switch and a polarizer parallax barrier. Fast driving circuits operating at 120-Hz frame rate are fabricated. The 3D images on the display have the same resolution as the corresponding two-dimensional images, which is significantly different from conventional parallax barrier autostereoscopic 3D displays having degraded 3D image resolution.     

中蒙双边贸易的三元边际分解北大核心

根据2006-2015年面板数据,对中蒙两国双边贸易的三元边际进行分解,并对分解结果进行回归分析,找出中蒙双边贸易增长的三元边际的影响因素．在此基础上,提出优化贸易结构、加强双边合作、吸引外商投资等对策建议.     

组合式Si-PIN 14 MeV中子探测器

提出了一种在多片Si-PIN探测器中间用2mm厚的聚乙烯作为灵敏度增强介质,采用加法电路模式进行信号输出的组合式新型DT聚变中子(14MeV)探测技术原理. 这种组合的主要特点有： 1)大幅度提高了Si-PIN探测器的中子灵敏度和测量统计性; 2)提高了探测器的n/γ分辨本领; 3)在实现多个探测器信号相加的同时,组合探测器相对于单片探测器时间响应没有明显改变. 从实验及理论上对组合探测器的14MeV中子及1.25MeV γ灵敏度、n/γ分辨,时间特性和测量统计性进行了研究. 关键词： Si-PIN半导体探测器 灵敏度 n/γ分辨 时间响应     

狭缝光栅自由立体显示器立体可视区域的研究

提出了反映观察区域某一点是否是合适的立体观察点立体图像质量因子的概念.根据狭缝光栅自由立体显示器的结构和工作原理并应用几何光学知识,分析得出了立体图像质量因子的计算公式,并给出了立体显示器的立体图像质量因子的计算结果.通过定义立体图像质量因子的阈值,得到狭缝光栅自由立体显示器的立体可视区域.     

显示用上转换绿色发光材料NaYF4∶Er,Yb及其特性

采用喷射微波燃烧合成法制备了上转换发光显示器中发绿光的上转换发光材料NaYF4∶Er,Yb.测试了该材料的XRD衍射图谱和发光效率.给出了该材料在1 064 nm三种激光功率激发下的发光光谱.分析了该材料的上转换发光机理,得到545 nm和662 nm峰值发光分别是Er3+的4S3/2→4I15/2和4F9/2→4I15/2跃迁产生的.NaYF4∶Er,Yb具有较强的上转换绿光,同时存在的较弱的红光易于用滤色膜滤除,满足显示对三基色中绿色的要求;并且喷射微波燃烧合成法制备的该材料达到了高分辨率显示应用超细粉体的要求.     

透反区响应时间相等的双盒厚透反液晶显示器

提出了一种透反区响应时间相等的双盒厚透反液晶显示器。该透反液晶显示器在透射区采用了强锚定能边界条件,以缩短其响应时间;在反射区采用了弱锚定能边界条件,以增加其响应时间;采用过压驱动技术,使透反区的响应时间相等。分析了该透反液晶显示器的结构和原理,设计了透射区和反射区的边界锚定能,计算了响应时间和电光特性,得到了透反区响应时间相等,且具有良好电光特性的双盒厚透反液晶显示器。