傅里叶自重卷积解谱技术中一种新的变迹函数

傅里叶自重卷积解谱技术可以有效地提高实验谱的分辨率,然而解谱后的信噪比明显下降。本文提出一种新的变迹函数(动态变迹函数),它可以在提高分辨率的同时使信噪比基本保持不变,用它来处理由软X射线弯品谱仪得到的Fe的Lα和Lβ实验谱线获得了十分满意的结果,解谱后得到了Lα和Lβ之间的许多短波伴线,跟理论计算值符合很符合。     

A1/GaAs界面微结构的慢正电子束研究

基于正电子扩散方程,对于线形全吸收型等特殊的界面模型,求得了正电子湮没辐射多普勒展宽S参数与单能慢正电子入射能量E之间函数关系S(E)的解析表达式.测量不同膜厚、不同退火条件下A1/GaAs的S(E),用所得解析式拟合实验数据,发现A1/GaAs界面系统与线形全吸收型界面模型符合得很好.通过拟合,得出了界面S参数S₁及其与膜厚和退火温度的关系,由此对界面微结构及其动力学特性作了讨论.     

对“微波共振跃迁法测量电子偶素2~3S_1-2~3P_1精细结构”实验拟合公式的探讨

本文对Michigan大学S.Hatamian等人在“微波共振跃迁法测量电子偶素2~3S_1-2~3P_J精细结构”实验中所用拟合公式进行了审慎的分析和推证,修正了该公式的功率增宽项,并就Mainz大学R.Ley等人对该公式的批评作了评价。最后,采用新、旧拟合公式对Michigan组实验数据进行拟合并讨论其结果。     

B的K_aX射线谱精细结构的研究

应用高分辨软X射线弯晶谱仪并结合傅里叶自重卷积解谱技术研究B的K_0X射线谱的精细结构。在解谱过程中采用一种新的动态变迹函数,既能区分叠加的谱峰,提高谱线分辨率,又能保持良好的信噪比。应用这种方法处理B_2O_3中B的K_0X射线谱,从包络线中区分出波长67.657和67.536A的两条谱线,获得该谱线具有精细结构的证据,验证了关于B的sp~2轨道杂化理论。     

金属玻璃Pd79.5Ni4Si16.5结晶化过程的慢正电子束研究

首次用单能慢正电子束研究金属玻璃的晶化过程.测量了金属玻璃Pd_79.5Ni₄Si_16.5淬火态、结构弛豫和结晶化状态样品的正电子湮没辐射多普勒展宽能谱与正电子入射能量的函数关系,结果表明,淬态金属玻璃Pd_79.5Ni₄Si_16.5中存在大量的空位型缺陷,其结晶化过程最先开始于表面层.单能慢正电子束是研究金属玻璃晶化过程的有效手段.     

也谈虚功原理的反例

文[1]对文[2]关于虚功原理的一个反例提出了不同看法。我们指出,如果把文[2]的反例中的铅直壁取消,而把一维约束曲线向x<0的区域作奇延拓,使小球约束在曲线     

旋风分离器三维流场的测定

在φ400mm及φ830mn两个实验模型上,用五孔探针及热线风速仪较详尽地测定了旋风分离器的三维速度场以及湍流强度场.除切向速度分布验证了前人结果外,得到了径向速度非轴对称性,轴向速度分布中心处存在滞流、倒流、湍流强度在中心有单峰分布等结果,并初步考察了二次流引起的上涡环问题.     

自持放电横流CO_2激光器中影响效率的一些因素

本文用一维定常流动、准二维放电、三振型弛豫模型、计算分析了自持放电横流CO_2激光器的输入电能→激光上能态振动能→输出光能以及输入电能→输出光能诸过程的转换效率随电极宽度、气流速度和光腔位置等参数的变化规律,从而为器件的放电条件、流动参数、光腔结构的合理设计提供理论依据。     

0.5—10nm软X射线标定光源的研制

本文描述一个用于标定弯晶谱仪的软X射线(0.5—10nm)光源系统。当阳极靶材料为铁、碳和硼时,相应的分别采用KAP、OHM和LS晶体可以得到铁L.(1.76nm)、碳K.(4.47nm)和硼K.(6.76nm)单色光,实验上测量了这三种单色光亮度随阴极发射电流的变化。