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在Banach空间X中利用序列的I-收敛与I*-收敛给出理想I具可加性质(AP)的等价刻画,并进一步研究弱I-收敛、弱I*-收敛、一致弱I*-收敛之间,以及弱I-收敛与收敛之间的关系,最后基于I-λ-统计收敛给出其推广:I-A-统计收敛,并以次微分映射为工具定义一族有限可加测度,用于等价刻画I-A-统计收敛,这亦是有限可加测度的一个应用体现. 相似文献
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