一类爱因斯坦Finsler度量的若干性质研究

爱因斯坦度量是Ricci曲率常数的度量以及比爱因斯坦度量更一般的弱爱因斯坦度量,在理论物理中有重要的意义.本文研究一类称为广义(a,β)-度量的Finsler度量,首先得到广义(a,β)-度量F=aφ(b~2,s)在共形条件下的Ricci曲率;其次证明当F=aφ(b~2,s)是弱爱因斯坦度量,且φ=φ(b~2,s)是关于s的二次多项式时, F必定是Ricci平坦爱因斯坦Finsler度量;最后根据Ricci平坦Finsler度量的定义直接得出F是Ricci平坦Finsler度量的等价方程.     

Projectively flat Matsumoto metric and its approximation

In this article, the author studies the projectively flat Matsumoto metric F=α2/(α - β), where α=√aijyiyj is a Riemannian metric and β=biyi is a 1-form. They conclude that α is locally projectively flat and β is paralled with respect to α. And get the same result for the higher order approximate Matsumoto metric.     

具有m次根的射影平坦芬斯勒度量（英文）

在Rn上的开子集射影平坦芬斯勒度量是希尔伯特第四问题的正则情况.作者研究了m次根的芬斯勒度量以及广义的m次根的芬斯勒度量,证明了在不可约的条件下这种度量是局部闵科夫斯基的.     

一类射影平坦的Finsler度量

本文主要研究由两个Riemann度量和一个1-形式构成的Finsler度量.首先,本文给出这类度量局部射影平坦的等价条件;其次,给出这类度量局部射影平坦且具有常旗曲率的分类情形;最后,构造这类度量局部射影平坦且具有常旗曲率K=-1的例子.     

不可度量化的射影平坦Spray的构造

刻画射影平坦Finsler度量是著名的Hilbert第四问题正则性情形, 且任意一个Finsler度量可以通过它的测地线方程诱导一个Spray, 因此研究射影平坦Spray的可度量化问题令人关注. 本文研究一类射影平坦Spray的可度量化问题, 通过欧氏度量和内积的线性组合, 构造两类射影平坦Spray; 其次利用反证法和具有迷向曲率Spray的定义, 证明以上两类Spray均不由任意Finsler度量诱导, 且不具有迷向曲率.