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介绍了XPS(X-ray photoelectron spectroscopy)谱图中本底产生的机理以及Tougaard法本底扣除原理的简略推导过程,提出了可供编程的约化形式,使用VC语言编写程序试对不同样品(含金属、过渡金属及非金属)的谱图进行本底扣除,并与Shirley法、直线法本底扣除进行准确性的比较,提出了Tougaard方法试用于非金属粉末化合物样品的测试分析结果.  相似文献   
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XPS中Tougaard法本底扣除初探   总被引:1,自引:0,他引:1  
介绍了XPS(X ray photoelectron spectroscopy)谱图中本底产生的机理以及Tougaard法本底扣除原理的简略推导过程,提出了可供编程的约化形式,使用VC语言编写程序试对不同样品(含金属、过渡金属及非金属)的谱图进行本底扣除,并与Shirley法、直线法本底扣除进行准确性的比较,提出了Tougaard方法试用于非金属粉末化合物样品的测试分析结果.  相似文献   
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