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1.
测量了在O2中退火不同时间的Sm1.85Ce0.15CuO4单晶样品的热电势S与电阻率ρ的温度依赖关系.所有的样品电阻率高温下呈现线性温度依赖行为.未退火的样品在148K发生超导转变,而退火后的样品在低温下发生金属半导体相变,其超导电性消失,表明退火引起了载流子浓度下降,体系进入欠掺杂态.随着温度降低,所有的样品ST和ρT曲线在200K附近(T)都发生斜率的改变,可以用赝能隙现象解释.热电势S在低温下出现一个正的曳引峰,意味着载流子符号发生改变,由电子型转变为空穴型 关键词: 电子型超导体 热电势 赝能隙  相似文献   
2.
广泛温度范围的线性电阻温度依赖关系是测试超导体重要的正常态反常性质,当二能级系统的截止能量很大时,从玻尔兹曼方程出发,电子-二能级系统散射可以得到线性电阻温度依赖关系,克服高温超导体电阻在高温和低温的困难。  相似文献   
3.
新型超导体MgB2的热电势和电阻率研究   总被引:4,自引:0,他引:4       下载免费PDF全文
测量了MgB2的热电势和电阻率与温度的依赖关系.在100K—300K区间,热电势呈近似线性温度依赖关系,其斜率为正,表明载流子为空穴型且与能带贡献的图像相一致.与此对应,在此温区电阻率呈T2依赖关系.在100K以下,热电势和电阻率各自转变了其高温区的温度依赖关系.热电势在超导转变温度Tc(零电阻366K)到100K间有一宽峰,具有声子曳引峰的特征,表明电子-声子相互作用很强.估算了一些重要的参数,如带米能EF、能带宽度 关键词: 新型超导体 热电势 电阻率  相似文献   
4.
精确测量了在不同氧压下退火的单晶Bi2Sr2CaCu2O8+δ(Bi2212)样品的CuO面内和CuO面外的电阻率ρc(T)和ρab(T).发现ρc(T)和各向异性比(ρc(T)/ρab(T))随着载流子浓度增加而迅速下降.在过掺杂样品中,高于120K时,ρc随温度线性下降,而各向异性比与温度仅有微弱的依赖关系.ρc(T)和ρc(T)/ρab(T)的值可以用Alexandrov和Mot建立的双极化子模型很好地加以拟合  相似文献   
5.
我们测量了最佳掺杂的Nd1.85Ce0.15CuO4单晶的电阻率和ab面以及c方向热电势.ρ-T曲线在高温下表现为非常好的直线,超导转变比较尖锐Tc,mid=20.6K,说明我们的样品品质很好.低温下的电阻率拟合结果表明频率大约100K的软声子模与载流子有强烈相互作用,这是极化子模型有力的证据.对于热电势结果,令人惊奇的是,无论数值还是曲线形状,包括低温曳引峰的位置,c方向的热电势Sc与ab面内的热电势Sab非常接近.这可能是某种共同的机制导致的结果.比较Nd1.85Ce0.15CuO4和Sm1.85Ce0.15CuO4的热电势曲线可以发现,二的数值和曲线形状基本相同,而与La1.85Sr0.15CuO4差异较大,这进一步说明了顶点氧在这些体系中的作用.  相似文献   
6.
测量了Sm2-xCexCuO4(0.00≤x≤0.21)多晶样品的热电势S和电阻率ρ的温度依赖关系.在缘绝体-金属转变边界处,观测到热电势从绝缘体区明显的弱温度依赖关系到金属区线性温度依赖关系的转变.当Ce的含量由0.09增加到0.21时,高温下S的斜率发生由负到正的转变,这是能带的填充能级发生改变时电子型和空穴型载流子的贡献发生竞争的表现,由电子型向空穴型的过渡发生在x=0.17处.S和ρ在200K以下的斜率变化是载流子局域化造成的.x=0.06-0.21的样品在50K处观察到一个正的曳引峰.室温下的热电势S300K和S0(高温区热电势线性外推到0K的值)与Ce含量在绝缘体、欠掺杂和过掺杂区域有不同的依赖关系.过掺杂区域很小的S300K和S0意味着一个宽带的费米液体的贡献,同时ρ满足T2关系,二者相一致.  相似文献   
7.
通过对系列(La1-xSmx)0.185Sr0.15CuO4(x=0,0.05,0.10,0.15)的多晶样品在4.2K-300K的电阻率和液氮温区内的热电势的测量,发现(La1-xSmx)0.185Sr0.15CuO4的电阻率在高温区呈现出线性关系,其斜率也随着x的增大而增大,在x=0.10时达到最大,而在Tc到100K的温区,随着Sm含量的增加,则呈现出由金属行为到类半导体行为的转变,同时超导温度Tc也随着降低,液氮温区内的温差热电势反映了随着Sm含量的增加,体系的载流子浓度也随之降低。  相似文献   
8.
我们测量了氧化物超导材料RuSr2GdCu2O8的电阻、磁化率和比热,发现该样品在135K附近有一个铁磁相变过程.该样品的超导临界温度比较低,其零电阻温度在4.2K以下,而在134K附近电阻有一个很明显的峰值.磁化率在此温度显示出一个很尖锐的峰值,说明样品在此温度有一个由顺磁到铁磁的相变过程,而且这个相变过程进行得比较快,其温度范围大约为10K左右.  相似文献   
9.
Sm2-xCexCuO4单晶的赝能隙行为研究   总被引:1,自引:1,他引:0  
我们在电子型超导体Sm1.85Ce0.15CuO4中首次观察到赝能隙的证据.研究了在O2中不同退火时间,单晶Sm1.85Ce0.15CuO4样品的电阻率ρ和热电势S,电阻率ρ的测量结果显示退火后样品高温区电阻率ρ、dρ/dT和热电势的斜率dS/dT斜率增加,意味着载流子浓度下降,与减小Ce掺杂量x的作用等效.所有的样品S~T和ρ~T曲线在某个温度T*下都发生斜率的改变,该转变温度随着退火时间的增加而向高温区移动,而且越来越明显.这可能是因为该温度下赝能隙被打开,热电势曲线在某个温度下存在一个最小值,这是载流子局域化的表现;热电势曲线上50K附近观察到一个明显的声子曳引峰,正的峰值表示载流子符号在低温区发生了改变,即由高温的电子型变为低温的空穴型,与霍尔系数实验中斜率变化一致.  相似文献   
10.
测量了La2CuO4掺Zn样品在不同降温速率下(330K保温05h,然后分别以6Kh,02Ks的速度降到8K)的直流磁化率和热电势.实验结果表明,反铁磁温度TN不随降温速率变化而变化,其直流磁化率也未受很大影响.高温热电势弱的温度依赖关系表明为极化子气体的贡献.热电势在转折温度Tdrop之下的快速降低是由于二维反铁磁涨落的贡献.热电势在更低温度的拐点TS与载流子的局域化有关.降温速率变化时,Tdrop和TS都有明显的变化.Zn掺杂对Tdrop和TS没有明显影响,但导致了更强的载流子局域化.讨论了上述现象产生的物理图像 关键词: La2CuO4 直流磁化率 热电势  相似文献   
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