流动注射-化学发光法测定地质样品中的痕量钴（Ⅱ）

1 引言 化学发光分析具有灵敏度高、线性范围宽、仪器简单价廉等优点,已被用于免疫分析、水样分析和其它简单样品中无机组分的分析.但由于选择性较差,目前还很少见到利用该方法测定地质样品中痕量元素的报道.我们详细研究了流动注射-化学发光法测定地质样品中痕量钴的条件,实现了化学发光法测定地质样品中的痕量钴.     

A Complexity View of Acid Deposition

We show that acid deposition is analogous to complex systems composed of a series of interconnected components. Frequency-size distributions of weekly hydrogen deposition (WHD) of precipitation are consistent with double power-law in two different regimes separated by a crossover WHD. The distribution of variations in acid deposition over a week interval is remarkably symmetrical, with long tail extending over eight orders of magnitude. The acid deposition fluctuations exhibit fractal Brown motion with two different temporal scaling regimes and long-range correlation exists in the series. The power-laws in the acid deposition dynamics are considered to be indicators of self-organization of atmosphere under environmental pollution stress.     

通过一类一维链的透射和反射

本文建立了平面波ε－ｉｋｘ（波数ｋ＞０）通过势ｖ（ｘ）＝ｖｎδ（ｘ－ｘｎ），Ｎ→∞时透射振幅和反射振幅的速推公式；给出系统为绝缘体的充要条件；最后，作为应用，对一类线性递归链，研究了系统的导通性及绝缘性．     

掺杂稀土元素对细晶BaTiO_3系统耐压及介电性能的影响

研究了稀土元素Ho2O3和Er2O3掺杂BaTiO3基瓷料,其在BaTiO3系晶粒中可抑制晶粒生长,使晶粒尺寸变小,体密度增高,呈现细晶效应,ε峰在整个温区范围内弥散,提高室温下介电常数,减小容量变化率。本系统中三价稀土氧化物Ho2O3和Er2O3等物质同时加入到BaTiO3陶瓷中后,稀土氧化物没有全部进入晶格内部发生取代,其中的一部分与其他添加剂形成一些非铁电相,提高耐压;另一部分留在晶界处,成为晶粒抑制剂,使得晶粒细小,瓷体致密,提高陶瓷的耐压。     

毛细管电色谱中双电层叠加的研究

通过流动相中电解质浓度对毛细管电色谱柱效能的流动相平均线速度的影响，研究了ＣＥＣ中双电层叠加现象。提出选择合适电解质组成的浓度及在制备色谱柱过程中避免细小和破碎的固定相颗粒进入柱中，以有效地减小双电层叠加作用。     

掺杂稀土元素对细晶BaTiO3系统耐压及介电性能的影响

研究了稀土元素Ho2O3和Er2O3掺杂BaTiO2基瓷料，其在BaTiO2系品粒中可抑制晶粒生长，使晶粒尺寸变小，体密度增高，呈现细晶效应，ε峰在整个温区范围内弥散，提高室温下介电常数，减小容量变化率。本系统中三价稀土氧化物Ho2O3和Er2O3等物质同时加入到BaTiO2陶瓷中后，稀土氧化物没有全部进入晶格内部发生取代，其中的一部分与其他添加剂形成一些非铁电相，提高耐压；另一部分留在晶界处，成为晶粒抑制剂，使得晶粒细小，瓷体致密，提高陶瓷的耐压。     

胶束增溶光度法同时测定铂、铑、钯和金的研究

本文研究了贵金属Pt、Rh、Pd和Au在SnCl_2-BRB-AG-乳化剂OP离子缔合物体系中显色反应的条件,采用偏最小二乘回归法对上述体系重迭光谱进行解析及数据处理。结果表明,该体系灵敏度高,表观摩尔吸光系数可达1.74×10～6～2.47×10～6L·mol～-1·cm～-1;体系稳定性较好。应用本文方法对混合试样中Pt、Rh、Pd、Au进行同时测定,取得较满意的结果。     

锂离子电池正极材料licoo2的包覆改性

licoo2;表面包覆处理;锂离子电池;正极材料     

高频介质系统介电性能与相组成的定量关系分析

采用普通电子陶瓷工艺制备两种高频介质系统ZnO-B2O3-SiO2三元系和BaO-PbO-Nd2O3-Bi2O3-TiO2五元系,通过XRD分析确定各系统的主晶相, 运用衍射峰强度计算法准确测定出各组分的体积百分含量,并代入Lichnetecker对数混合定则,计算出系统的介电性能,获得了分析介质系统介电性能与物相含量之间定量关系的新方法.