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1.
梁板结构埋入压电片的深度和厚度优化研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
根据梁的弯曲变形理论,以及压电材料的压电效应,对压电复合材料梁结构的应变和应力状态进行了分析。推导了压电材料埋入梁结构时其埋入深度和压电材料本身厚度的优化目标函数。根据优化目标函数,绘制出了在给定的基体材料和压电材料弹性模量比之下,压电材料的驱动力矩随埋入深度和压电材料厚度变化的三维曲面和等高线图,直观地表示出了埋入型压电材料智能结构获得最佳驱动力矩的配置方案。同时也分析了结构和压电材料两者的弹性模量之比对其结果的影响。结果表明,压电材料对于结构的作动力矩与其埋入基体材料的深度、本身厚度以及基体材料和压电材料的弹性模量之比都有着密切的联系。同时将结果也推广到了压电板结构,此时压电材料和基体材料的泊松比时其结果也有一定的影响。  相似文献   
2.
基于位移和应力灵敏度的结构拓扑优化设计   总被引:3,自引:0,他引:3  
针对仅有应力约束以及含位移和应力约束的重量最小结构拓扑优化问题,基于ICM(独立、连续、映射)方法和渐进结构优化方法的思路,提出了一种结构拓扑优化方法. 在优化迭代循环的每一轮子循环迭代求解开始时,通过形成和引进新的位移和应力约束限, 自动构建设计变量移动限.将结构应力约束归并为几个最可能的有效应力约束,大大减少了应力灵敏度的分析量. 另外,建立了单元删除阈值和几轮迭代循环的单元删除策略. 为了确保优化迭代中结构非奇异和方法具有增添单元的功能,在结构孔洞和边界周围引入了一层人工材料单元,构建了其等效的优化模型. 结合位移和应力灵敏度分析,形成了一种新的连续体结构的拓扑优化方法. 给出的算例验证了该方法的正确性和有效性.   相似文献   
3.
基于设计空间调整的结构拓扑优化方法   总被引:2,自引:0,他引:2  
荣见华  张强  葛森  牟让科 《力学学报》2010,42(2):256-267
提出了一种基于设计空间调整的结构拓扑优化方法,以求解有限元网格规模大的问题,且获得0/1拓扑解. 首先, 借鉴有理分式材料模型, 建立了材料刚度性质与拓扑变量的关系. 为了解决分析计算量大和需要解释得到的材料分布等问题,给出了一种不影响数学规划求解算法收敛特性的设计空间调整手段. 其次,当优化迭代求解接近结构最佳拓扑邻域后,采用了加速收敛求解的策略,并给出了一种加速收敛的启发式算法. 然后, 结合基于倒设计变量的位移函数的非完整二阶近似式,建立了一种基于设计空间调整的结构拓扑优化算法. 该方法能获得较好0--1分布特征的优化拓扑,能较好地处理多载荷和多约束的结构拓扑优化问题. 给出的算例表明通过结构分析模型规模的减小和传统的位移迭代求解法的采用,方法效率明显提高. 算例验证了该方法的正确性和有效性.   相似文献   
4.
邵闯  葛森 《实验力学》2009,24(3):264-268
在确定了飞机壁板结构的动力学特性后,为预计其声疲劳寿命,传统的方法必须采用飞机壁板结构的典型结构件并通过高声强行波管试验获得这种结构的声疲劳S-N曲线.为减少试验时间和费用,利用振动台获取典型层合复合材料结构元件的振动S-N曲线以代替声疲劳S-N曲线.根据典型复合材料的飞机蒙皮壁板结构形式,利用加筋复合材料层合板设计了用于振动试验的两种结构形式的梁元件.为获得准确的试验结果,试件模拟了实际的连接形式,并用于得到εrms-N振动试验中.所有试件的试验采用相同的振动激励谱形,并在不同的随机振动量级进行试验,利用最小二乘法拟合得到的εrms-N数据.这种测试方法可用于飞机结构抗声疲劳设计的实践中.  相似文献   
5.
飞机壁板结构的高温声疲劳试验方法   总被引:3,自引:0,他引:3  
葛森  曹琦 《实验力学》1997,12(4):593-598
本文对飞机发动机部位常用典型壁板结构的高温声疲劳试验进行了论述.其内容涉及环境模拟、声场测量、声疲劳载荷谱的确定、高温环境下裂纹监测、高温下一阶频率确定等问题.并给出了GH140材料典型壁板结构件的试验结果  相似文献   
6.
高压气瓶工艺残余应力测试和分析   总被引:3,自引:0,他引:3  
张亦良  徐学东  葛森 《实验力学》2004,19(2):194-199
用X射线及磁记忆两种方法对压缩天然气的高压气瓶应力状态进行了系统分析,对一个气瓶整体制造工艺中的残余应力变化用X射线法进行了跟踪检测。考察了气瓶锻造后、淬火后及回火后外表面的残余应力状况,对相同测点进行了三次应力测试。为准确找到测点位置并寻求两种方法之间关系,在每次应力测试之前,均用金属磁记忆方法进行了先期检测。结果表明:锻造后应力水平不高,但磁记忆曲线有小幅波动,显示应力不均匀;淬火后表面具有较大压应力,最大达到0.86σS,且磁场亦有较大变化,个别点有明显应力集中;回火处理有效地消除了淬火残余应力,最大值小于0.17σS,应力均匀化,磁记忆曲线几乎无波动,效果良好。而从定量角度,残余应力和磁记忆两者之间没有明确的对应关系。对于磁记忆所显示的磁场强度变化处,用X射线法进行残余应力测试,结果并没有显示出较高的应力水平。说明两种方法不可互相替代,但以其各自的特点和优势可做互相补充。  相似文献   
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