提高综合滤波器鉴别率的一种有效方法

提出一种提高综合滤波器鉴别率的有效方法，其做法是：对样本集在等相关峰条件下求解综合滤波器的同时，使样本集的互补样本满足零件相关峰条件，此方法把训练模式类同所有其它模式类在映射空间的距离拉大，有效地提高了综合滤波器的鉴别率，以取自同一手指纹为样本集，求解综合鉴别函数后，建立了指纹的实时模式识别系统，实验结果表明本文提出的改进方法对提高综合滤波器的鉴别率是非常有效的。     

基于功率谱分析的指纹实时识别系统

把实时获取指纹的装置与功率谱分析系统结合起来，实现完整的指纹实时识别系统．从实验上研究了相干光源和非相干光源获取指纹的两种情况．实验表明，用非相干光源获取指纹的情况具有较好识别效果．     

光电成象系统中的积分抽样效应

光电成象系统涉及空间和时间上的积分和抽样.本文从理论上研究了光电成象系统中的抽样的空间积分效应和前置光学滤波的影响.结果发现前置光学滤波可以等效为抽样象元的空间积分抽样效应.这一原理对设计光电成象系统具有指导意义.利用这一原理也可以改善光电成象系统获取图象的质量.     

大孔交联聚苯乙烯分形结构的图像分析法研究

采用图像分析法测定大孔交联聚苯乙烯树脂的 现大孔交联聚苯乙烯的外表面具有分形结构,分形维数在２和３之间,将图像分析法测定的分形维数与小角Ｘ－射线散射法测得的结果对照。发现两种方法测定结果虽然不同,但在不同树脂之间的变化趋势是一致的,因此,可用图像分析法比较不同大孔树脂分形结构的差别。     

多重交织抽样消除光电成像系统中的高阶残余频谱

光电成像系统的抽样过程引起图像频谱分布在频谱空间无限重复，即使抽样过程满足系统的Ｎｙｑｕｉｓｔ条件，即无频谱混叠，但在重建过程中，如果电子滤波的频率响应范围较宽，不能对高阶频谱项截止，它对高阶重复的频谱项的衰减所产生的残余频谱会在重建图像中产生假响应。本文提出用同一图像进行多重交织抽样的方法来消除重建过程中的高阶残余频谱，同时具有较好图像恢复的效果。在理论上用光学传递函数方法证明了有关的结论。     

扫描显微探针

 随着１９８２年世界上第一台原子分辨的隧道扫描显微镜（ＳＴＭ）问世,掀起了对物质表面微结构研究的热潮,而且蔓延到表面化学以及生物大分子等领域．同时对ＳＴＭ原理及检测技术的推广,促使了原子力显微镜（ＡＦＭ）、近场光学显微镜（ＳＮＯＭ）的发明．现在,以ＳＴＭ、ＡＦＭ、ＳＮＯＭ为代表的高分辨显微镜已经形成了一类新的显微成像技术──扫描探针显微术（ＳＰＭ）．ＳＰＭ最显著的特点就是采用一个极微小的探针（针尖一般在纳米尺度）,在样品表面极小的距离内移动,同时获得样品表面信息．当这极小的探针与样品表面的相互作用强烈依赖于极小的距离（大约是指数关系）,仪器的稳定性则是获得理想图像的关键.     

光电成像系统中的光学传递函数

本文研究了光电成像系统中的光学成像、抽样和重建等各个过程对整个系统的光学传递函数的影响。分析了光电成像系统在积分抽样和图像运动情况下的光学传递函数，重建图像中的频谱混叠和假响应情况，由此给出光电成像系统获取图像的一些原则。