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71.
力调制显微术被用于观测铜基碳化硅样品,实验中发现在样品表面台阶边缘处出现一些异常信息。为此,文章作者通过测试一种表面同样有台阶但却是由同一种材料组成的样品来通信验证这些异常主要是由台阶的边界引起的,并对引起的异常作了半定量的估算。 相似文献
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73.
74.
反射电子显微术原理和应用 总被引:2,自引:0,他引:2
本文介绍了反射电子显微术的基本原理、方法及应用.反射电子显微术分辨率高,可同时得到有关表面形貌和结构的重要信息,可进行表面结构变化的动态观察,可用来观察表面单原子高度台阶、位错、表面相变及有关现象. 相似文献
75.
76.
本文介绍了全息干涉术用于材料无损检测的基本原理、实用工业领域和实验技术,以及国外在全息无损检测中所采用的新器件、新技术、新方法。 相似文献
77.
78.
提出在照射型莫尔轮廓法中存在着原理性误差,导出校正此类误差的计算公式。用实验拍摄锥形试件的莫尔轮廓,经过对照片的判读和计算,证实了所提供公式的正确性。 相似文献
79.
用化学方法首次成功地制备出了用于电极活性材料的纳米Ag~2O微粒,并通过TEM,XRD和XPS等测试技术进行了分析表征。同时,对每种方法纳米Ag~2O的生成机理进行了初步的探讨,表明这些方法具有一定的普适意义。 相似文献
80.
基于重离子储存环建立的等时性质谱术(IMS)是测量远离稳定线核素质量的有效工具。但是,采用常规IMS测量缺中子一侧的核素质量时,发现Tz=-1/2和Tz=-1核素的质量测量结果在宽时域范围内存在系统性偏差。本工作利用CSRe直线段上的双飞行时间(TOF)探测器,同时测量了循环离子的周期和速度。利用这些实验信息,对常规IMS质量测量中出现的系统性偏差进行了研究。发现系统偏差是由于储存的离子动量分布不对称以及储存环能量转变参数γt非恒定造成的。在离线数据处理时,发现通过限制动量接收度的大小,可以消除常规IMS质量测量中的系统偏差。这一结果对采用常规IMS进行质量测量具有重要参考价值和指导意义。 相似文献