光电直读光谱法分析钛合金时铝对碳干扰及校正

研究发现用光电直读光谱法分析钛合金时，碳工作曲线的精密度很差，其原因主要是共存的铝所引起，几种常用钛合金中铝含量高达[w（Al）]6％，在试样激发时，较高含量的铝在193．003nm波长处谱线强度较高，而此谱线与碳的分析线193．090nm十分靠近，造成了强度叠加的光谱干扰和正误差。在制作碳的工作曲线找到了通常遇到两类干扰，即平移干扰和转动干扰，并计算得到这两类干扰校正系数，利用校正系数可对仪器直接测得的谱线强度和工作曲线各实验点的强度作出校正，按校正后的工作曲线查得的钛合金试样的碳含量与已知值很符合。     

葡萄酒分析中模式识别方法的研究：Ⅱ.原汁含量的多元判别分析

本实验采用常规分析方法，分析了１８个不同含汁量酒样的乙醇，总酸，挥发酸，固定酸，干浸出物，ｐＨ值，灰份，灰份碱度，总酚，甘油，钾，钠，镁，干浸出物与甘油比，Ｑ值，修正干浸出物共１７个变量。采用计算机模式识别技术，利用逐步判别方法，得出了葡萄酒中原汁含量种逐步别方法的判别函数和回判结果。     

生物体中微量钛的测定——邻硝基苯基荧光酮直接光度法

研究了用邻硝基苯基荧光酮显色测酞时,酒石酸钾钠和氟化铵的影响。从而能直接测定生物体中微量钛。检出限为0.05μg.     

界面调控对类金刚石碳基薄膜/铜摩擦副摩擦学行为的影响

无氢DLC/金属铜摩擦副体系摩擦系数高且不易调控，调整DLC/金属铜摩擦界面从而降低其摩擦系数是亟待解决的问题. 本研究中通过制备含氢与无氢类金刚石碳基薄膜，采用试验分析与模拟计算结合的方法研究了不同氢含量碳基薄膜与铜配副的摩擦学特性并讨论了氢原子在摩擦界面对改善摩擦学性能所起的作用. 结果表明:摩擦界面的结构特性对于类金刚石碳基薄膜/铜配副体系摩擦学性能有非常重要的影响，氢原子可以通过减小摩擦副之间的黏着从而起到调节摩擦界面的作用. 通过向DLC中掺杂氢等钝化元素可有效调控界面处的相互作用从而调控体系摩擦学性能. 本研究方法为降低DLC/铜摩擦副体系摩擦系数提供参考.      

超声相控阵系统中基于FPGA的PCIe总线数据传输研究*

针对超声相控阵系统的高速传输需求,本文提出了一种基于FPGA的PCIe总线传输方案。实现了基于PCIe总线的相控阵数据DMA(直接存储器读写)上传、控制命令下传、发送数据缓存及驱动和上位机测试程序设计。通过实验测试了PCIe总线的DMA传输速率,可达6.5Gbit/s,并成功将该方案应用于64通道超声相控阵检测系统中,实现了超声相控阵系统的PCIe总线数据传输。     

钛合金光谱分析用标准物质的均匀性检验

介绍钛合金光谱分析用标准物质均匀性检验的抽样、测试、检验及判断方法。钛合金光谱分析用标准物质中碳和铝的均匀性检验结果表明此两种元素在试样中的分布是均匀的。该方法已应用于钛合金光谱分析用标准物质的研制过程中。     

高分辨率多光谱数字相机电子学系统的设计

设计了一种基于多光谱技术的机载数字相机电子学系统。它包括时序产生单元、信号处理单元、信号控制单元、数据输出接口单元和数据采集存储单元等几部分。系统具有调光和行频调节功能,用以满足在不同能量状态和不同飞行高度下的成像质量。考虑到机载设备的特殊要求,对其进行了轻量化设计和机载稳定平台设计。它具有实时高速存储和实时采集数据的功能。结果表明,机载数字相机电子学系统的各种功能完全满足设计要求,为实现高分辨率探测提供了保证。     

锥形脊结构半导体光放大器的有限元分析

为提高半导体光放大器与单模光纤耦合效率，建立了半导体放大器的锥形脊结构模型。在该模型下利用有限元数值模拟方法分析，计算了波导区折射率、锥尖宽度、条形波导尺寸、渐变折射率波导层对锥形脊结构模式扩展的影响。通过完善锥形脊结构参量的设计，获得了锥形脊结构半导体光放大器与单模光纤95％的耦合效率。     

应力和掺杂对Mg:GaN薄膜光致发光光谱影响的研究

对化学气相沉积(MOCVD)法在宝石衬底上生长的Mg掺杂GaN薄膜的表面及其GaN缓冲层的光致发光(PL)光谱进行了测量，用Raman光谱和x射线衍射(XRD)对GaN薄膜中的应力进行确定，通过PL光谱中的中性束缚激子跃迁能量的变化确定薄膜中应力的影响，从而研究Mg掺杂对p型GaN的DAP跃迁影响规律. 关键词： 光致发光 应力 Raman光谱