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本文结合聚焦离子束-电子束(Focused ion beam-electron beam,简称FIB-EB)双束系统和真空镀膜工艺,进行微区散斑的制备工艺研究,并将所发展的微散斑制备工艺应用于喷丸镍基合金材料表面制斑,进而结合切槽法进行残余应力高温释放规律的测量研究。在FIB-EB双束系统下记录切槽前后制斑微区的图像,利用数字图像相关法计算切槽后的位移,结合InglisMuskhelishvili理论公式可计算得到残余应力。文中研究了不同温度及保温时间对残余应力释放的影响规律。结果表明,残余应力随保温时间的增长释放速度逐渐减小,最后残余应力趋于稳定值。同时,温度越高,残余应力释放越彻底,800℃下近乎完全释放。该工艺具有适用性好,效率高等优点,可望在材料微区变形测量中得到进一步应用。  相似文献   
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45.
46.
GaN的补偿度与离子束沟道最小产额比的关系的研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
用RBS/沟道技术对MOCVD生长的未故意掺杂的GaN的结构性能进行了测试,同时用霍耳方法测试了样品的电学性能。结果表明:GaN薄膜的背散射沟道说与随机谱之比Xmin和其补偿度存在一定的依赖关系。补偿度小的样品,其Xmin小;随着样品补偿度的增大,Xmin也逐渐增大;但它们之间的知系变化是非线性的。对这些结果给予了一定的解释。  相似文献   
47.
48.
李玉璞  刘家瑞 《物理》1989,18(9):551-554,571
结合我们近期的研究工作,本文介绍和讨论了离子束技术在金属中氦行为研究中的应用,还介绍和讨论了氦在金属中的基本特性,如氦的捕获、迁移和氦泡结构等.  相似文献   
49.
50.
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