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Accurate capacitance-voltage characterization of organic thin films with current injection 下载免费PDF全文
To deal with the invalidation of commonly employed series model and parallel model in capacitance-voltage (C-V) characterization of organic thin films when current injection is significant, a three-element equivalent circuit model is proposed. On this basis, the expression of real capacitance in consideration of current injection is theoretically derived by small-signal analysis method. The validity of the proposed equivalent circuit and theoretical expression are verified by a simulating circuit consisting of a capacitor, a diode, and a resistor. Moreover, the accurate C-V characteristic of an organic thin film device is obtained via theoretical correction of the experimental measuring result, and the real capacitance is 35.7% higher than the directly measured capacitance at 5-V bias in the parallel mode. This work strongly demonstrates the necessity to consider current injection in C-V measurement and provides a strategy for accurate C-V characterization experimentally. 相似文献
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用俄歇电子能谱观察清洁InP表面在电子束照射下与真空室中H2O和O2的相互作用,发现水蒸汽所引起的电子束感应吸附氧的作用比氧气要明显得多。在吸附氧的同时,In和P的俄歇信号也发生变化,分析其过程为一种氧化过程,氧一开始先同表面的In结合成为氧化铟,随后向表面以内透入,并不断同In和P结合,氧化层的厚度随时间几乎是线性地增加的。与InP的自体氧化层的俄歇深度分布相比较,二者极为相似,所不同的是,电子束感应吸附的氧不足以使表面层中的磷全部氧化,而ESO的氧化层中磷的
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硅的可见光发射—通向全硅光电子集成之途 总被引:1,自引:0,他引:1
由于Si是一种禁带宽度只有1.1eV的间接带隙材料,其发光效率极低,因此长期以来Si被认为是一种不可能用于制作可见光区光电器件的材料.但近一两年才出现的多孔硅光致发光现象,对人们的这种传统概念产生了巨大的冲击,一股多孔硅的研究热潮也正在兴起.本文将结合作者在多孔硅方面的工作,对多孔硅光致发光现象的研究背景、现状和潜在的应用作了较详细的介绍. 相似文献
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利用光电子能谱了镁、金与8-羟基喹啉铝的界面。对于Mg/Alq3和Au/Alq3两种界面,费米能级到Alq3的最高占有轨道边的距离都约为1.7eV,与金和镁的功函数无关。 相似文献
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有机电致发光器件及其稳定性问题 总被引:2,自引:0,他引:2
有机发光二极管(OLEDs)即将实用化,但其稳定性仍是急需解决的关键问题。文章简要综述了OLEDs及其稳定性问题,着重从OLEDs的失效过程、水汽和氧气、电极材料及其界面对OLEDs稳定性的影响、有机材料本身的稳定性等方面讨论了OLEDs的稳定性。 相似文献