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研究发现用光电直读光谱法分析钛合金时,碳工作曲线的精密度很差,其原因主要是共存的铝所引起,几种常用钛合金中铝含量高达[w(Al)]6%,在试样激发时,较高含量的铝在193.003nm波长处谱线强度较高,而此谱线与碳的分析线193.090nm十分靠近,造成了强度叠加的光谱干扰和正误差。在制作碳的工作曲线找到了通常遇到两类干扰,即平移干扰和转动干扰,并计算得到这两类干扰校正系数,利用校正系数可对仪器直接测得的谱线强度和工作曲线各实验点的强度作出校正,按校正后的工作曲线查得的钛合金试样的碳含量与已知值很符合。 相似文献
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采用方差分析方案使用重复性(r)检验钛合金光谱分析标准物质均匀性的方法.结果表明:这种方法能较好地反映出受检样品的不均匀性,较之其他方法简单,方便,但要求比较严格. 相似文献
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矿石中多元素的XRF分析 总被引:3,自引:0,他引:3
采用熔融法制样,XRF分析方法,测定矿石中的多种元素,此法克服了基体效应,方便可靠。 相似文献
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目前电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)常用于痕量或微量铷元素的分析,针对常量组分铷的分析未见文献报道。通过样品用容量法连续稀释的方法测定常量组分铷离子含量时,会引进较大的误差。本研究通过质量稀释和优化仪器参数的方法,采用ICP-OES直接测定氯化铷溶液中的高含量铷,减少了稀释次数和稀释引进的误差,提高了分析结果的准确度。实验对铷离子的三条检测谱线的灵敏度、线性相关系数和测定结果的相对偏差进行分析,确定铷的合适检测谱线为780.023 nm。实验发现ICP-OES仪器参数(雾化器流量、分析泵速和高频功率)对高含量铷的测定结果影响较大,这是由于仪器参数影响雾化效率和谱线的发射强度,进而影响铷的测定结果。通过正交试验分析各仪器参数对铷测定的影响顺序,进一步依靠单因素试验确定较优的仪器参数。优化的仪器参数组合为雾化器流量0.60 L·min-1、分析泵速60 r·min-1、高频功率1 150 W。在优化的仪器参数条件下进行间隔一周的重复实验,结果发现当RbCl浓度在0.09%~0.18%范围内时,测定结果的相对偏差<0.5%,可以保证较高的准确度。当RbCl浓度为0.06%时,测定结果的相对偏差为-1.7%。实验比较了高浓度氯化锂、氯化钾和氯化铷溶液ICP-OES法的分析测定,在相近的仪器参数条件下氯化锂的测定结果优于氯化钾和氯化铷。本研究的ICP-OES方法操作简便且快速,适合于含铷体系的相化学研究以及高含量铷产品的分析。 相似文献