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作为试件变形传感元件的云纹光栅的制作是云纹干涉法的关键技术。本文提出了在120~200℃高温下使用的光刻胶光栅模板的制作及在此温度下试件栅的复制工艺,并利用此技术研究了新型微电子封装组件在125~20℃温度载荷下的热变形。实验结果表明:采用该方法可以获得高质量的试件栅,云纹条纹质量好,可用于试件微小区域内热变形的精确测量 相似文献
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在抛光的200℃莫来石陶瓷衬底上电子束蒸发淀积200nm的Ti膜,并在高真空中退火,利用二次离子质谱(SIMS)、俄歇电子能谱(AES)和X射线衍射分析(XRD)研究了从200—650℃Ti与莫来石的固相界面反应.结果表明,在淀积过程中,最初淀积的Ti与衬底表面的氧形成Ti—O键,并有微量元素态Al,Si原子析出,界面区很窄;450℃,1h退火后,界面区有所展宽,但变化不大;650℃,1h退火后,界面发生强烈反应,样品主要由TiO+Ti,Ti3Al,Ti3Al+TiSi2和莫来石陶瓷衬底四层结构组成
关键词: 相似文献
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给出了氦冷却固体增殖剂中子学和产氚包层模块(NT-TBM-HCSB)聚变中子诊断的初步设计,提出了用固定或可移动位置微型裂变室探测器和可移动封装薄箔活化分析系统测量中子倍增器之后、固体氚增殖剂中及其后的中子通量;用可移动天然金刚石探测器的紧凑型能谱仪测量中子能谱。此诊断系统可用于中子倍增器的倍增效率,氚增殖层的增殖率与热核实验聚变堆的运行参数、加热和加料方式、磁流体不稳定性、能量约束以及大破裂等离子体参数和状态之间的工程和物理相关关系的实验研究,测量倍增层、氚增殖包层及其后进入屏蔽层的中子通量和能谱,并与MCNP计算相比较,优化和改进中子倍增器、氚增殖包层以及屏蔽层设计,提高氚增殖率。 相似文献
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紫外发光二极管(紫外LED)已经在许多超越照明领域展示出了特殊的应用优势,例如健康医疗、消毒杀菌、环保及传感等领域。本文采用仿真和实验相结合的方法研究了具有不同封装结构的近紫外LED封装器件的热稳定性,并对其进行了高温老化可靠性测试评估。研究结果表明:LED器件的辐射功率和正向电压随温度的升高而下降,其中,具有倒装结构的器件下降趋势明显小于正装结构,这表明其热稳定性较好;经过55℃恒温额定电流条件下的可靠性测试发现具有倒装结构的器件光-色特性衰减速率小于正装器件。通过本文研究可以得出结论:具有低热阻、小尺寸等优点的的倒装封装结构有助于提高近紫外LED器件的光-热稳定性和可靠性。 相似文献