收敛共轭梯度方法参数βk的条件

本文给出确定共轭梯度方法中参数βk范围的两个条件-条件Ⅰ和条件Ⅱ,它们都确保方法的全局收敛．在条件Ⅰ和Gilbert＆Nocedal（1992）引入的性质（*）下及在条件Ⅱ和Wolfe条件下,分别建立了共轭梯度算法的收敛性定理．     

关于B—M定量的注记

本文得到了一个新的复方阵特征值包含域,改进了Ｂｒｕａｌｄｉ与Ｍｅｌｌｅｎｄｏｒｆ在文「１」中所得到的结果,及「２」、「３」之相应结果。     

空气—氩气混合气冷却ICP—AES中钙,钡,铜,锌元素的谱线强度和信？…

研究了小功率空气－氩气混合气冷却ＩＣＰ中４种元素（钙、钡、铜、锌）、８和谱线的强度和信背比随冷却气组成及观测高工估算了折中条件下的检出限。对于离子线及激发电位较高的原子线,冷却气中引入体积分数为５－１０％空气后,谱线强度最大并大于Ａｒ－ＩＣＰ中数值;对于激发发电位较低的原子线,随着气中空气含量的增大其谱线强度逐渐减小,谱线的信背比则与激发电位及谱线波长有关。     

氟作业工人骨骼X线改变的分析

对９６６名氟作业工人选定的骨骼常规摄Ｘ光片,按其不同日摄氟量分组观片、记录。结果显示：①骨骼Ｘ线改变阳性率与日摄氟量呈正相关（ｒ＝０．８７９,Ｐ〈０．０１）;②不同部位的骨骼Ｘ线改变阳性率有差异;③骨骼Ｘ线改变的主要表现是骨密度增高、骨间膜增宽或钙化、关节、骨周、髓腔有改变、骨质增生、闭孔膜及韧带钙化等。     

Cd1-xZnx合金组元分压控制下高阻CdZnTe晶体的熔体生长

本文运用热力学关系估算了CdZnTe熔体平衡分压.尝试以Cd1-xZnx合金源替代Cd源控制Cd分压和Zn分压进行了Cd 0.8Zn 0.2Te晶体熔体生长,探讨了熔体分压与晶体电阻率的关系.获得的Cd 0.8Zn 0.2Te晶体的电阻率接近1010Ω·cm,高于同类方法文献报道1～2个数量级.晶体的结构完整性较好,平均腐蚀坑密度(EPD)为2×105cm-2,纵向组成分布偏离度在4;左右,红外透过率大于60;,晶体中第二相和沉淀物明显减少,优于仅采用Cd分压控制的Cd0.8Zn0.2Te晶体.     

共振腔增强型光电探测器

共振腔增强型光电探测器是近十年发展起来的新型探测器。它是在探测器内制备微共振腔并在中间插入激活层构成的。在这种结构中,由于共振腔对非共振波长的抑制及对共振光场的放大作用,使探测器的量子效率在共振波长处被增强,带宽－量子效率之积比传统的光电二极管提高了近３倍。由于它同时具备对波长的选择作用和高频响应特性,因而是光通信理想的探测器件。     

PuO2体系的分子反应动力学研究

基于ＰｕＯ２分子（Ｘ＾５Σｇ＾＋）的多体展式分析势能函数,用准经典的Ｍｏｎｔｅ－Ｃａｒｌｏ轨迹法研究了Ｏ（＾３Ｐｇ）＋ＰｕＯ（０,０）和Ｐｕ（＾７Ｆｇ）＋Ｏ２（０,０）的分子反应动力学过程。结果表明：Ｏ（＾３Ｐｇ）＋ＰｕＯ（０,０）碰撞生成少量稳定络合物ＰｕＯ２（Ｘ＾５Σｇ＾＋）,该反应是无阈能反应;而Ｐｕ（＾７Ｆｇ）＋Ｏ２（０,０）碰撞生成稳定络合物的同时,主要还发生了Ｐｕ（＾７Ｆｇ）＋Ｏ２（０     

新型显示薄膜喷墨打印技术的数学建模与分析

本文将新型显示薄膜喷墨打印技术的关键工艺过程“喷墨打印-干燥/烘烤成膜”中多组分聚合物溶液在压电作用下从喷管内喷出均匀液滴、液滴在基板上着床并融合成均匀的液体薄膜、液体薄膜经过蒸发留下溶质(如有机发光二极管OLED (organic light-emitting diode))形成均匀显示薄膜的3个核心科学问题,在数学上提炼为多组分聚合物流体带移动接触线和动态接触角以及带有蒸发条件的固-液-气多相耦合的自由界面问题.本文首先对这些问题的Newton流的数学模型进行热力学自洽的系统综述和完善,然后对包含相分离、溶剂蒸发和非Newton黏弹性等多物理现象的同类自由界面问题进行成体系的数学建模,对模型的理论分析和数值模拟提出一些研究思路.本文希望通过解决这些数学问题突破新型显示薄膜喷墨打印工艺的关键技术瓶颈,提高打印的良品率,推进产业化,促进数学在解决国家重大需求难题中的应用.本文以新型显示薄膜喷墨打印技术核心科学问题为背景,给数学工作者提出了一些新的重要的数学问题,同时也为相关材料科学家提供了可行的数学方案,为双方搭起了良好的沟通桥梁.     

X射线荧光光谱分析

评述了我国在2000年7月-2002年6月间X射线荧光光谱，包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用，内容包括仪器研制、激发源、探测器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、样品制备技术、分析方法研究和应用。     

高斯映射几何学的几个结果

<正> 数学大师Gauss首创用曲线和曲面的球面表示研究它们的几何性质,后人将之发扬光大并称之为Gauss映射几何学。本文首先平行于曲面高斯映射几何学中著名的Hadamard定理给出一维的Hadamard定理与其逆定理;然后作为二维Hadamard定理逆定理的应用,给出珠面的两个整体特征。