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Cd1-xZnx合金组元分压控制下高阻CdZnTe晶体的熔体生长
引用本文:杨炬,桑文斌,钱永彪,史伟民,王林军,刘冬华,闵嘉华,李志峰,苏宇.Cd1-xZnx合金组元分压控制下高阻CdZnTe晶体的熔体生长[J].人工晶体学报,1999,28(4):328-334.
作者姓名:杨炬  桑文斌  钱永彪  史伟民  王林军  刘冬华  闵嘉华  李志峰  苏宇
作者单位:上海大学嘉定校区无机材料系,201800,上海;上海朗讯科技通信设备有限公司,200233,上海
摘    要:本文运用热力学关系估算了CdZnTe熔体平衡分压.尝试以Cd1-xZnx合金源替代Cd源控制Cd分压和Zn分压进行了Cd 0.8Zn 0.2Te晶体熔体生长,探讨了熔体分压与晶体电阻率的关系.获得的Cd 0.8Zn 0.2Te晶体的电阻率接近1010Ω·cm,高于同类方法文献报道1~2个数量级.晶体的结构完整性较好,平均腐蚀坑密度(EPD)为2×105cm-2,纵向组成分布偏离度在4;左右,红外透过率大于60;,晶体中第二相和沉淀物明显减少,优于仅采用Cd分压控制的Cd0.8Zn0.2Te晶体.

关 键 词:CdZnTe晶体  布里奇曼法  CdZnTe熔体平衡分压  γ探测器  

CdZnTe Crystal of High Resistivity Melting Growth under Cd1-xZnx Alloy Partial Pressures Control
Yang Ju,Sang Wenbin,Qian Yongbiao,Shi Weimin,Wang Linjun,Liu Donghua,Min Jiahua,Li Zhifen,Su Yu.CdZnTe Crystal of High Resistivity Melting Growth under Cd1-xZnx Alloy Partial Pressures Control[J].Journal of Synthetic Crystals,1999,28(4):328-334.
Authors:Yang Ju  Sang Wenbin  Qian Yongbiao  Shi Weimin  Wang Linjun  Liu Donghua  Min Jiahua  Li Zhifen  Su Yu
Abstract:
Keywords:
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