在低龄儿童中推广珠心算教学是切实可行的

珠心算的基础是熟练掌握珠算技术,训练学生尽快在大脑中建立起清晰的脑算盘,实现从静止的"静珠"图像到可以拨动的"动珠"脑算盘的飞跃。然后运用笔算训练学生实现快速书写正确、规范的阿拉伯数码,并达到每秒钟能写3个数码以上。     

自制的力的平衡四边形定测演示器

验证力的平行四边形定则实验是最基本的实验之一.过去的教学表明,学生在物体共点力的合成与分解,力的平衡,以及物体受力分析等方面出现的问题,追究其根源,就是教师没有重视验证力的平行四边形定则实验.教师借故弹簧秤数量不足而且误差大,所以只做了演示实验或定性说明,导致学生对于力的矢量性理解不深刻.     

微波吸收法研究Mn,Cu掺杂对ZnS:Mn,Cu光生载流子复合过程的影响

采用微波吸收法，测量了ZnS:Mn,Cu粉末材料受到超短脉冲激光激发后，其光生电子和浅束缚态电子的衰减过程.发现Mn,Cu的浓度对导带电子的寿命有明显的影响，提高掺杂浓度会使光生电子的寿命大大缩短，还研究了掺杂浓度对光致发光强度的影响. 关键词： 发光材料 硫化锌 光电子 微波吸收技术     

Fe∶LiNbO3全息图热定影及H+浓度的影响

应用光折变效应动力学方程,导出了在Fe∶LiNbO3中对光折变全息图热定影所需的最小H+浓度,以及H+浓度与光栅空间频率的关系.应用光谱比较法测量了不同样品的H+浓度值.得出了进行有效热定影的H+浓度范围.完成了Fe∶LiNbO3全息存储和热定影实验.获得了100 h连续无损读出的良好热定影实验结果.     

多自由度测试技术的发展

介绍目前较常用的多种多自由度测试技术，给出每种测试技术的测试原理和应用场合，比较各种技术的优缺点和适用范围，讨论该技术发展的方向。     

走近电离辐射

 提起辐射,人们很自然地联想到手机、电脑的电磁辐射,对电离辐射则比较陌生。其实,这种电磁辐射就是电离辐射的一种。电离辐射还包括电子、质子、中子及较重粒子的粒子源,微波辐射,光辐射,同步辐射等。我们的生活环境中存在着天然电离辐射和人工电离辐射,可以说,电离辐射就在我们身边。电离辐射可以造福于人类,它在工业、医学、农业上有着广泛的应用;电离辐射也可以给人类带来巨大的灾难,特别是核武器和辐射事故的发生。因此,我们对待电离辐射这把双刃剑时,既要充分利用它来造福人类,又要严防它的危害。     

一种改进的数字散斑相关方法用于检测人的口型变化

提出了一种基于数字散斑相关测量技术的口型变化检测技术,该技术以白光数字散斑相关测量方法为基础,根据实际应用的需要,引入重心算法并进行了改进,可以实时地检测人说话时的口型变化。通过实验表明,提出的方法是一种实用的、快速、高精度的口型变化测试方法,可为今后的唇语识别技术奠定基础。     

Structural Evolution of Nanostructured γ—Ni—28Fe Alloy Investigated by Using the Internal Friction Technique

The structural evolution of nanostructured γ-Ni-28Fe alloy(n-Ni-Fe)(grain size d-30nm),synthesized by the mechno-chemical method,was investigated by using the internal friction technique combined with differential scanning calorimetry(DSC) in the temperature range from 300K to 670K.An internal friction peak with typical characteristics of the first-order phase transition was observed in the vicinity of 620K,which corresponds to a broad exothermic process revealed by using DSC.Theses results can be explained as the structural changes from the disordering to the ordering transition in the n-Ni-Fe sample.     

一种新的超分辨记录点的读出技术

提出一种新的超分辨记录点的读出技术—超分辨反射膜技术，详细分析了其原理。用该技术，以Sb为超分辨反射膜，SiN为介电层，在激光波长为632．8nm和光学头的数值也径为0．40的读出光学系统中实现了直径为380nm的超分辨记录点的读出。同时研究了Sb薄膜厚度对读出信噪比的影响规律，发现最佳的Sb薄膜厚度为28～30nm，所得的信噪比为38～40dB。     

美国国家标准与技术研究所简介

美国国家标准与技术研究所 (NIST)是国际上著名的两大参考物质供应单位之一。她的前身是美国国家标准局 (NBS) ,创建于 190 1年 ,迄今已有10 1年历史。总部设在Madison州Gaithersburg市 ,分部设在Colorado州Boulder市。该所隶属于美国商务部。该所的宗旨是与工业界携手合作 ,发展和应用测量、标准与技术 ,以推动美国经济日益壮大 ,为贯彻这一宗旨 ,在新千年来临之际制订并实施下述计划 :①测量与标准实验所计划 ;②先进技术计划 ,其任务是帮助填补先进基础研究与其产业化之间的缺口 ,以开发高风险而具有广阔商业前景的新技术 ;③延伸制…