一种锰铜压阻测量新方法

 简单分析了几种常用的恒流供电锰铜压阻测量方法，并对这些测试方法的特点和不足进行了讨论。最后介绍一种利用数字示波器进行高保真高精度测量的方法，利用此法不仅提高了压力测量的精度，并且把小阻值锰铜压力计的测量范围向低端扩展到0.17 GPa。     

乌洛托品法测定钢铁热浸镀锌量

钢铁热浸镀锌量的测定在GB及世界各国标准里均采用三氯化锑法。因其产生SbH_3有毒气体而被甲醛或乌洛托品代替锑剂。ZBH11001-88采用甲醛,GB/T13825-92及ISO1460-1992(E)均采用乌洛托品。本文对乌洛托品方法进行试验并与三氯化锑法、ZBH11001-88法加以研究比较。 1 试验部分 1.1 主要试剂 乌洛托品(六次甲基四胺,分析纯,含甲醛97％以上) 乌洛托品盐酸退镀溶液,称取乌洛托品3.5g溶于盐酸(1+1)1L中。 1.2 测定步骤 将热浸镀锌钢铁试样制备成可测面积的样品,以无水乙醇及乙醚清除表面油污,烘干冷至室温于万分之一天平上称准至毫克。置于盛有乌洛托品退镀溶液的器皿中,保持样品每平方厘米表面上有10ml以上的     

微波消解ICP-AES法同时测定花岗石中铜、镉、铬和砷

本文采用微波消解和ICP－AES法，同时测定花岗石样品的铅、镉、铬、砷4有害元素，检出限分别为0．0008、0．0007、0．0018、0．0012μg.mL^-1,回收率为93．4％－102．5％，RSD为1．3％－3．6％，该法准确、快速、简便，结果令人满意。     

Si衬底上ZnSe外延膜的低压MOCVD生长

以硒化氢（H2Se）和二甲基锌为源材料，生长温度是300℃时，用低压金属有机化学气相沉积（LP－MOCVD）系统在Si(111)衬底上外延生长了ZnSe薄膜。通过X射线衍射（XRD）、扫描电子显微镜的能量色散（EDS）以及光致发光（PL）实验验证ZnSe外延膜的质量，在X射线衍射谱中只有一个强的ZnSe(111)面衍射峰，这说明外延膜是（111）取向的单晶薄膜，在能量色散谱中除了Si,Zn和Se原子外，没有观测到其他原子，说明ZnSe外延膜中杂质含量较少。ZnSe外延膜中Zn/Se原子比接近1，有较好的化学配比。在ZnSe外延膜的77K光致发光谱中没有观测到与深中心发射相关的发光峰，表明ZnSe外延膜的晶格缺陷密度较小。77K时的近带边发射峰447nm在室温时移至465nm附近。     

Sn-C60薄膜的紫外吸收光谱和X-射线衍射谱分析

对Sn-C60薄膜进行紫外可见光吸收，X-射线衍射和扫描电镜的测定结果显示，薄膜样品紫外可见光吸收的两个短波段吸收峰比纯C60薄膜的吸收峰显著下降，说明Sn-C60薄膜的电子光吸收跃迁为间接跃迁，能带中有杂质能级的存在；样品的X射线衍射峰则对应于面心立方结构；扫描电镜结果显示薄膜为纳米级颗粒组成。     

ICP-AES测定饮用水源中的Cu、Mn、Pb、Cd、Zn

用ICP－AES法同时测定饮用水源中的Cu、Mn、Pb、Cd、Zn等重金属元素，具有基体效应小、测量范围宽等优点。检出限为0．2－4．0μg/L，回收率为91．5％－103．9％，相对标准偏差为0．29％－1．5％，测定密码样与实际样品，结果令人满意。     

塞曼石墨炉原子吸收光谱法直接测定垃圾焚烧废气中锡

采用钯加抗坏血酸溶液作为基体改进荆，用塞曼效应扣除背景，对消化后的垃圾焚烧废气滤筒直接进行测定。方法的检出限为100pg，线性范围为0．2～4ng，回收率为96．8％～102．0％。     

Electronic Properties of Red P-Type Tl2S5 Single Crystals

Single crystals of red Tl2S5 were prepared by a special modified vertical Bridgman and Stockbarger technique.This growth was performed in our laboratory. The influences of temperature on the electrical conductivity, Hall mobility, carrier concentration, and thermoelectric power (TEP) were carried out in the temperature range 277-413K. Throughout these measurements, various physical parameters such as effective mass of charge carriers,carrier mobility, diffusion coefficient, and the relaxation time for both majority and minority carriers were found.