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61.
CunLiuZHOU YuQingZHOU ZhiYongWANG 《中国化学快报》2003,14(4):355-358
The chemoselective addition of aldehydes in aquoues medium was obtained under mild condition using improved Henry reaction. 相似文献
62.
在流体力学数值模拟中,最基本的有Lagrange方法和Euler方法。Lagrange方法可用来计算多介质系统,能够刻划多介质界面,但网格的扭曲,翻转,长宽比失调等网格大变形是一个突出问题。在Euler方法中,计算网格是固定的,但是,当系统中包含多种介质时,一定会出现在一个Euler网格中包含多种介质的情形,网格中的物理量的处理比较困难。为提高精度.一般将Lagrange方法和Euler方法结合。这时网格最优问题是一个重要的内容。 相似文献
63.
研究了在均匀分层介质中构成标准矢量波函数的必要条件。研究结果表明在均匀分层介质中构成标准矢量波函数一般需遵循Morse-Feshbach判据外,领示矢量只能选取与折射率变化方向一致的那根坐标轴单位矢量。但在某些特定的条件下,对领示矢量的选取条件可以放宽为只需遵循Morse-Feshbach判据即可。 相似文献
64.
本文讨论一般非均匀凸介质所确定的迁移算子的本征值的分布问题,利用Hilbert空间的H算子理论,完整地解决了一般非均匀凸介质中迁移算子本征值的分布问题,若{λn}n=1^∞是迁移算子本征值的一种计数,我们证明了Σ↓n=1↑∞e^6Reλnτ〈+∞,其中τ是粒子的最大逃逸时间,并对本征值的发散程度以及本征值的个数函数作了相应的讨论。 相似文献
65.
本文主要论述了0.5MeV,单能垂直入射的电子束在三种不同密度的氟化氪准分子激光介质中的能量沉积。计算是采用Monte Carlo方法的MCSED程序,光轴方向采用周期性边界条件,因此能够给出平行于和垂直于电子束入射方向的沉积能量的空间分布。本文给出了在三种不同密度下的出射电子的角分布。用该程序对垂直入射的,初始能量为1MeV的电子在半无限大Al靶中的沉积能量的计算结果与ONETRAN程序的结果及实验结果的比较表明MCSED程序的计算结果是可靠的。 相似文献
66.
Yi-rang Yuan 《应用数学学报(英文版)》2007,23(2):255-268
For a coupled system of multiplayer dynamics of fluids in porous media,the characteristic finiteelement domain decomposition procedures applicable to parallel arithmetic are put forward.Techniques suchas calculus of variations,domain decomposition,characteristic method,negative norm estimate,energy methodand the theory of prior estimates are adopted.Optimal order estimates in L~2 norm are derived for the error inthe approximate solution. 相似文献
67.
Many sets of the soliton and periodic travelling wave solutions for the quadratic χ^(2) nonlinear system are obtained by the Backlund transformation and the trial method. The property of the propagation for some travelling waves is investigated. 相似文献
68.
研究了HfN/HfO2高K栅结构p型金属-氧化物-半导体(MOS)晶体管(MOSFET)中,负 偏置-温度应力引起的阈值电压不稳定性(NBTI)特征.HfN/HfO2高K栅结构的等效 氧化层厚度(EOT)为1.3nm,内含原生缺陷密度较低.研究表明,由于所制备的HfN/HfO2 高K栅结构具有低的原生缺陷密度,因此在p-MOSFET器件中观察到的NBTI属HfN/HfO2高K栅结构的本征特征,而非工艺缺陷引起的;进一步研究表明,该HfN/HfO2高K栅结构中观察到的NBTI与传统的SiO2基栅介质p-MOSFET器件中观察 到的NBTI具有类似的特征,可以被所谓的反应-扩散(R-D)模型表征: HfN/HfO2 栅结构p-MOSFET器件的NBTI效应的起源可以归为衬底注入空穴诱导的界面反应机理,即在负 偏置和温度应力作用下,从Si衬底注入的空穴诱导了Si衬底界面Si-H键断裂这一化学反应的 发生,并由此产生了Si+陷阱在Si衬底界面的积累和H原子在介质层内部的扩散 ,这种Si+陷阱的界面积累和H原子的扩散导致了器件NBTI效应的发生.
关键词:
高K栅介质
负偏置-温度不稳定性(NBTI)
反应-扩散(R-D)模型 相似文献
69.
Kerr介质中级联三能级原子与压缩相干态相互作用的光子统计演化 总被引:6,自引:0,他引:6
本文研究了存在Kerr介质的高Q腔中压缩相干态与级联三能级原子相互作用的光子统计演化规律,讨论了光场参数、Kerr介质及相干振幅对平均光子数的影响. 相似文献
70.
以冰醋酸-六氢吡啶为催化剂,硅胶或氧化铝为载体,Meldrum酸与一系列醛酮在微波辐射下发生综合合反应,产率为22~97%。 相似文献