若干材料紫外真空紫外漫反射特性的研究

给出了正入射条件下铝漫反射板在紫外－真空紫外波段的漫反射特性及硫酸钡和聚四氟乙烯（PTFE）漫反射板在紫外波段的漫反射特性;以中国计量院提供的已知正入射半球反射比ρ（0,d）的聚四氟乙烯漫反射为参考样品,通过比较测量得到了铝和硫酸漫反射板的ρ（0,d）以及硫酸钡漫反射板的ρ（0,d)在半年内的衰减情况。计算了三种漫反射板的双向反射分布函数fBRDF（0,θd）。     

CO_2探测仪星上定标铝漫反射板的制备与试验

为了研制CO2探测仪定标漫反射板,采用物理研磨和化学腐蚀相结合的工艺方法制作了铝漫反射板试验样块,搭建了相对双向反射分布函数和半球反射率的测试装置。在0°和45°入射光的情况下,对可见近红外波段的测试结果表明：表面粗糙度影响铝漫反射板的朗伯特性,240#研磨砂制作的漫射板的朗伯特性最佳;化学腐蚀不仅能提高铝漫反射板的朗伯特性,也能提高铝漫反射板的半球反射率。当选取碱蚀温度为室温20℃、NaOH溶液浓度为52.6 g/L时,最佳腐蚀时间约为4 min;镀膜使铝漫反射板的半球反射率平均提高20%,但会使其朗伯特性稍变差;不同波长处铝漫反射板的相对双向反射分布函数略有不同,但变化趋势相同。实验确定了影响漫反射板漫反射特性的关键参数,并定量优化了这些工艺参数,为进一步研制CO2探测仪星上定标漫反射板提供了依据。     

铝漫反射板200～300 nm相对双向反射分布函数的实验研究

选择了合适的测量方式．建立了铝漫反射板的相对双向反射向反射分布函数的测量装置。通过实验研究铝漫反射板的相对双向反射分布函数在不同情况下的性质表明：不同表面粗糙度的铝漫反射板相对双向反射分布函数随入射角度的变化趋势有所不同;表面镀A1 MgF2膜反射率可增大约1．5到3倍;相对双向反射分布函数在200～280nm之间不随波长改变,波长大于280nm时,随波长略有增加,最大13％。根据实验数据绘出的二维等值线图反映了光辐射以不同角度入射、观测角度固定情况下的铝漫反射板的相对双向反射分布函数的变化,对实验数据拟合得到在该情况下的铝漫反射板的相对双向反射分布函数的较精确的数学表达式。     

硫酸钡漫反射板在250～400 nm光谱辐射亮度标定中的应用研究

表面喷涂硫酸钡的漫反射板正入射时是最接近朗伯特性的用于标定光谱辐射亮度的实用漫反射板。通过实验测量硫酸钡漫反射板 2 5 0～ 4 0 0nm的半球反射率和双向反射分布函数表明 ,实测的双向反射分布函数与假定漫反射板为朗伯表面根据测量的半球反射率计算的双向反射分布函数的相对差值为 6 7% ,实测的双向反射分布函数随散射角的变化可达 2 8%。为提高光谱辐射亮度标定的准确性 ,考虑双向反射分布函数的微小变化和漫反射板上的光谱辐射照度的不均匀性 ,通过对光谱仪视场内每一小面元积分 ,最后可精确求得所测光谱辐射亮度 ,并标定光谱仪的光谱辐射亮度     

紫外-真空紫外漫反射板的研究

选用在紫外－真空紫外波段反射率较高的铝作基底材料,通过光学研磨加工和光学镀膜处理制成漫反射板;建立了紫外－真空紫外波段漫反射特性测试研究装置,利用该系统进行漫 反射板余弦特性、双向反射比分布函数的测试。结果表明,该漫反射板反射比ρ（ｏ／ｄ）在３１５ｎｍ处为４９％;在正入射情况下,双向反射比分布函数在１５℃￣４０℃范围内偏差优于１１％。     

遥感、空间光学仪器

选择了合适的测量方式,建立了铝漫反射板的相对双向反射向反射分布函数的测量装置。通过实验研究铝漫反射板的相对双向反射分布函数在不同情况下的性质表明:不同表面粗糙度的铝漫反射板相对双向反射分布函数随人射角度的变化趋势有所不同;表面镀Al MgFZ膜反射率可增大约1.5到3倍;相对双     

星载大气痕量气体差分吸收光谱仪定标系统中铝漫反射板实验测量研究

星载大气痕量气体差分吸收光谱仪采用太阳辐射与漫反射板组合方式进行在轨光谱定标,以天底推扫方式对地观测,拥有114°的大视场. 为保证全视场光谱定标精度,此星载仪器的在轨光谱定标系统中的铝漫反射板需具有良好的朗伯特性,以保证在仪器观测视场内能够提供均匀的光源. 在实验室中利用双向反射分布函数测量仪,采用相对测量法对研制的铝漫反射板进行了朗伯特性测量. 分析结果表明,在波长180–880 nm、观测角度-70°–+70°范围内,铝漫反射板双向反射分布函数近似成余弦分布,具有较好的朗伯特性;并采用地面模拟在轨定标方法对星载仪器进行了光谱定标,定标结果表明最大偏差值为0.022 nm,满足定标精度优于0.05 nm的要求. 通过对实验测量的分析可知,研制的铝漫反射板可选作在轨定标系统的定标板. 关键词： 在轨光谱定标系统 铝漫反射板 双向反射分布函数 星载差分吸收光谱仪器     

星上定标漫反射板设计研究

星上定标器作为遥感卫星在轨辐射定标装置,定标漫反射板(SD)作为定标器中的参考标准板,其结构设计的可靠性将直接影响到星上定标器的定标精度。为了得到星上定标漫反射板结构在航天力学条件下的响应情况,通过振动实验台模拟对其进行加速度过载和随机振动响应特性进行了测试,获得了定标漫反射板组件的加速度过载响应特性、固有频率和随机振动响应特性。同时,为了考察星上定标漫反射板的光学特性,进行了方向半球反射比(DHR)、双向反射分布函数(BRDF)等光学特性的测量。结果表明,漫反射板组件在航天力学条件下强度和刚度都满足设计要求,基频大于120 Hz;而且漫反射板具备高反射率(大于99%)、光谱平坦性、朗伯性等优良光学特性,满足航天应用要求。     

基于双向反射分布函数实验测量的目标散射特性的分析

介绍了一种用双向反射分布函数(BRDF)测定仪进行目标双向反射分布函数测量的方法。以聚四氟乙烯(F4)粉压制板作为反射标准板,给出了F4标准板及所测样品在双向反射分布函数测定仪上的测量数据。被测样片的反射光强度经标定过的漫反射标准板传递,最终在较高分辨率的半球空间内分析计算出了样品在红外(1.06μm和0.86μm)波段的双向反射分布函数。实验结果表明,该方法是一种分析目标散射特性的可行性方法。     

星载遥感仪器太阳漫透射板紫外辐照特性

空间遥感仪器的漫透射板受太阳真空紫外辐照而导致的半球透射率变化将影响仪器在轨辐射定标结果。分析了太阳紫外辐射光谱特点及漫透射板在轨工作的紫外辐照剂量,利用标准氘灯作为光源模拟太阳115~200nm的紫外光谱,在特定距离下对紫外熔石英漫透射板进行了辐照实验。太阳等效紫外辐照48h后,熔石英漫透射板半球透射率在250~1000nm波段产生了不同程度的衰减,其中,紫外波段半球透射率衰减程度略高,250nm处衰减约为3%,近红外波段衰减程度略低,1000nm处衰减约为1%,对漫透射板进行清洗后,半球透射率基本恢复到最初状态。实验结果初步表明,漫透射板表层污染是引起半球透射率衰减的主要因素,该结果将对空间遥感仪器太阳漫透射板防护、在轨定标与衰减修正具有重要意义。     

粗糙目标样片光谱双向反射分布函数的实验测量及其建模

实验测量了紫红色和白色涂漆板在400～780 nm内的光谱双向反射分布函数(光谱BRDF),分析了光谱双向反射分布函数随波长及散射角的变化趋势与目标样片光学特性的关系.应用改进的粒子群算法,结合双向反射分布函数五参量模型,获得了测量光谱范围内各波长(间隔1 nm)对应的共381组五参量值.利用五参量模型计算了目标样片的光谱双向反射分布函数及其方向半球反射率(DHR),并与实验测量数据相比较,两者吻合良好,表明目标光谱双向反射分布函数建模方法与结果的可行性和可靠性.目标样片的光谱双向反射分布函数可以用来研究目标的光谱散射特性,对目标的探测、跟踪、识别和特征提取等具有重要的应用价值.     

Design of multi-spectrum BRDF measurement system

A multi-spectrum bidirectional reflectance distribution function (BRDF) measurement system was developed with the adoption of single reference standard measurement method. An arm-adjustable corner device was designed for the BRDF system. Changing the distance to the sample by moving the detector arm made the device applicable to different wavelengths. The system could be used for the spectrum range from visible light (0.6328 μm) to mid-far infrared (10.6 μm), the facular size between 0.8-3 cm.The rotating limit of detector arm was ±180°, the rotation range of sample holding table was 360°, and the angle resolution was 0.036°. A silicon carbide sample was measured using this system with reflectance zenith from -55° to +55°. According to the error analysis, the measurement uncertainty of this device was about 6.42%.     

An effective reflectance method for designing broadband antireflection films coupled with solar cells

The solar spectrum covers a broad wavelength range, which requires that antireflection coating (ARC) is effective over a relatively wide wavelength range for more incident light coming into the cell. In this paper, we present two methods to measure the composite reflection of SiO₂/ZnS double-layer ARC in the wavelength ranges of 300-870 nm (dual-junction) and 300-1850 nm (triple-junction), under the solar spectrum AM0. In order to give sufficient consideration to the ARC coupled with the window layer and the dispersion effect of the refractive index of each layer, we use multi-dimensional matrix data for reliable simulation. A comparison between the results obtained from the weighted-average reflectance (WAR) method commonly used and that from the effective-average reflectance (EAR) method introduced here shows that the optimized ARC through minimizing the effective-average reflectance is convenient and available.     

An effective reflectance method for designing broadband antireflection films coupled with solar cells

The solar spectrum covers a broad wavelength range,which requires that antireflection coating(ARC) is effective over a relatively wide wavelength range for more incident light coming into the cell.In this paper,we present two methods to measure the composite reflection of SiO2/ZnS double-layer ARC in the wavelength ranges of 300-870 nm(dualjunction) and 300-1850 nm(triple-junction),under the solar spectrum AM0.In order to give sufficient consideration to the ARC coupled with the window layer and the dispersion effect of the refractive index of each layer,we use multidimensional matrix data for reliable simulation.A comparison between the results obtained from the weighted-average reflectance(WAR) method commonly used and that from the effective-average reflectance(EAR) method introduced here shows that the optimized ARC through minimizing the effective-average reflectance is convenient and available.     

Measurement of bidirectional reflection distribution function on material surface

Two automatic measurement methods of bidirectional reflection distribution function （BRDF） are presented based on absolute and relative definition. Measurement principle and scheme of the methods are analyzed. A real-time measurement device is developed, the measurement spectral range of which is from ultraviolet to near infrared with 2.4-nm wavelength resolution, and the angular range is 0° - 360° in azimuth angle and 0° - 85° in zenith angle with 0.01° angle resolution. Absolute measurements of BRDF on tinfoil and ceramic tile are performed and the test materials present apparent specular reflection characteristics. The theoretical error in the experiment is about 6.05%. The BRDF measurement results are closely related to the precision of measurement platform, the sensitivity of measurement instrument, and the stability of illuminating light source.     

透明基底表面双向反射分布函数及粗糙度特性研究

采用双向反射分布函数定量分析透明基底表面粗糙度,考虑到透明基底第二个界面的影响,从不透明基底双向反射分布函数入手,推导了实际测量的透明基底表面双向反射分布函数的表达式.依据此理论提出了通过分别测量两个表面的散射强度来联立求解透明基底实际表面反射分布函数和表面粗糙度谱的新方法.并将此结果与用原子力显微镜测量所获得的结果进行了比较,两者吻合较好.