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随着光学理论的发展和科技的进步,光学技术得到了迅速发展,对光学计量技术提出了新的要求和挑战。针对光学计量在国防军事中的重要性,分析了我国装备保障的发展对国防光学计量的新要求,介绍了国防科技工业光学一级计量站在光学成像和光辐射基础物理量计量、武器光电装备综合参数计量保障、光学前沿技术计量以及军用光电测试仪器研发方面的发展现状,提出了国防光学计量面临的主要问题及未来的发展方向。 相似文献
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二元光学元件的偏振特性研究孙炳全,毛文炜(抚顺石油学院113001)(清华大学精仪系100084)二元光学是基于衍射理论而发展起来的新学科,是光学与微电子技术互相渗透、交叉而形成的前沿课题[1-2].二元光学元件的性能分析及测试技术是二元光学发展中关... 相似文献
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月球探测工程是一项复杂的多学科高技术集成的系统工程。整个工程实施阶段,光学探测系统占据着重要地位。各类光学传感器和系统精确的计量和测试,对确保整个工程顺利进行有着不容忽视的作用。该文从任务需求入手,叙述了国防科工委光学计量一级站已具备的条件和存在的差距,并提出了针对月球探测工程应开展的工作和研究方向。 相似文献
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王大珩院士是我国杰出的科学家和我国光学界公认的学术奠基人、开拓者和组织领导者.他自20世纪30年代投身光学研究以来。孜孜不倦地奋斗了近70年,为开拓我国光学研究及光学仪器制造作出了突出贡献,特别是为我国国防光学工程事业作出了重大贡献.他在激光技术、遥感技术、计量科学、色度标准等方面都作出了重要贡献.王大珩先生也是我国著名教育家,是一位高瞻远瞩的战略科学家,他是我国“863”高技术计划的主要倡导者,在我国科技决策中发挥了积极作用和影响.在王大珩先生90寿辰 相似文献
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在等厚干涉实验中,我们可以利用两平面间空气隙所产生的干涉条纹数目来确定微小厚度(如金属箔纸的厚度),等厚干涉原理在光学加工、计量中的应用非常广泛.现介绍“三块互检法”在光学测量中的应用在光学测量中,常常需要检测平面光学零件的表面面形精度,通常的办法是用一块标准平面平晶(俗称标准样板)来检测.标准样板的工作面与光学零件待测面贴放一起,在白光或其他光源照射下;能够在两接触面上观察到干涉条纹.因为标准样板面形精度很高.可以认为观察到的干涉条纹数即为待测光学零件平面的面形精度,精度干涉条纹总数XA/2.平… 相似文献
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阐述了紫外无机非线性光学晶体分子工程学探索方法的基本特点,具体分析深紫外无机非线性光学晶体硼铍酸锶(SBBO)以氟硼铍酸钾(KBBF)为主要参考晶体的分子设计方法,随后根据晶体结构研究、单晶培养、和非线性光学性能测定等实验结果讨论SBBO作为新型深紫外无机晶体的主要优点,即它既具有更短的紫外吸收边(接近155nm)和较大的非线性光学系数(d22(SBBO)=06×d22(BBO)=138pm/V),同时晶体无明显层状习性,并肯有良好的化学稳定性和机械性能 相似文献
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制作替代双棱镜的全息光学元件刘成森(辽宁师范大学物理系大连116022)全息光学元件在很多领域可以代替传统的玻璃光学元件(1),本文提出了一种制作可以代替玻璃双棱镜的全息光学元件的方法.光路如图1所示.其中L1、L2是柱透镜,它们将平行光会聚成狭缝状... 相似文献
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本文综述了有关C_(60)固体的光学性质最近的研究进展。其中包括C_(60)分子及其固体的非线性光学性质、各种吸收光谱及电子结构,光电导及光电子能谱等方面。 相似文献
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