液态透镜研究现状与发展分析

当前的光电侦察领域设备不断地向轻、小型化发展，而传统变焦光学系统的体积与质量往往达不到微小型光电侦察平台的载荷要求，因此小型无人机等侦查平台只能搭载定焦镜头，制约了分辨率与侦查距离的提升，限制了侦查能力。液态透镜技术利用单片透镜即可实现透镜焦距的调节，大大减小了光学系统的体积，且其变焦响应速度快、变焦范围大，由液态透镜组合的光学系统可以在固定的小体积内实现快速变焦，在军民领域都有广阔的应用前景。该文对前人的理论基础与研究方法进行了调研与综述，简述了液态透镜的5种基本原理，并分析了各自的特点，分别介绍了国内外液态透镜的研究现状，指出了不同液态透镜的优缺点及未来的发展与研究方向。     

光辐射计量测试技术

简要介绍国外光辐射计量采用的主要方法、测试手段和发展趋势。为了满足国防系统对光辐射计量的需要建立了一批计量标难，解决了光辐射源辐射特性和探测器特性计量测试问题。     

近紫外到近红外光谱辐射计及定标方法研究

为实现目标光谱辐射亮度的高精度测量，研制了一种小视场近紫外到近红外光谱辐射计，光谱范围为300 nm~2 000 nm，光谱辐射亮度测量范围为50μW/cm2·nm·sr~1 000μW/cm2·nm·sr。阐述了近紫外到近红外光谱辐射计设计原理及关键部件，使用基于钨带灯的直接定标法实现了光谱辐射计光谱辐射亮度绝对定标，测量了标准积分球光源的光谱辐射亮度，测量值与积分球光源标准值偏差优于0.5%。     

复现坎德拉的测试方法研究

介绍一种利用低温辐射计算复现坎德拉的新方法，并把它与电校准绝对辐射计法进行了比较。该方法用低温射计测出滤光辐射计的绝对光谱响应，从而使坎德拉的复现成为可能。     

低噪声红外辐射计设计

 为解决热像仪测试设备校准问题,设计了内部参考黑体温度与环境温度相等的红外辐射计。为评估精密红外辐射计的性能指标,指导精密红外辐射计的设计,建立了红外辐射计NETD (噪声等效温差,Noise equivalent temperature difference)数学模型。估算了在不同电子带宽、光谱波段下红外辐射计的NETD。结果表明,当噪声带宽小于1 Hz时,红外辐射计自身的NETD在MWIR(mid-wavelength infrared )、LWIR(long wavelength infrared)波段均小于0.01℃,能够满足热像仪测试设备校准需要。     

低温辐射计紫外探测器光谱响应度测试技术研究北大核心CSCD

通过研制真空多光路切换组件,结合Y型真空比较通道、探测器真空舱,在保证超高真空环境的前提下,实现激光、紫外连续可调单色光以及真空紫外单色光3个光路的快速切换,从而以低温辐射计为基准,以紫外增强硅陷阱探测器为传递标准,实现波长115 nm~400 nm紫外探测器绝对光谱响应度的测量,实验验证绝对光谱响应度测量不确定度在115 nm~230 nm可达到0.8%~1.5%(k=2),在230 nm~400 nm可达到0.5%~1.0%(k=2)。     

Y型光波导分束比和插入损耗测量技术研究

Y波导在集成光学系统中得到了广泛的应用，并拥有很大的潜力，近年来备受关注。因此了解它的各项指标至关重要。在Y波导的诸多指标中，分束比和插入损耗是2个重要指标。着重介绍了2个指标的测量装置及测量方法。对于分束比，分别采用波长为1300nm和1550nm的激光光源测量Y波导两尾纤的输出光功率。根据公式计算出分束比后，分析影响测量结果的主要因素，进行测量不确定度评定。对于插入损耗，主要是按照测量原理搭建测量装置，从理论上分析影响插入损耗测量的因素。通过对Y波导2个指标的测量，有助于更好地了解Y波导的性能。     

Y型光波导分束比和插入损耗测量技术研究

Y波导在集成光学系统中得到了广泛的应用，并拥有很大的潜力，近年来备受关注。因此了解它的各项指标至关重要。在Y波导的诸多指标中，分束比和插入损耗是2个重要指标。着重介绍了2个指标的测量装置及测量方法。对于分束比，分别采用波长为1300nm和1550nm的激光光源测量Y波导两尾纤的输出光功率。根据公式计算出分束比后，分析影响测量结果的主要因素，进行测量不确定度评定。对于插入损耗，主要是按照测量原理搭建测量装置，从理论上分析影响插入损耗测量的因素。通过对Y波导2个指标的测量，有助于更好地了解Y波导的性能。     

热辐射体真实温度的测试研究

在辐射测温中，普遍存在一个问题，被测温度物体表面发射率影响很大，而物体的发射率很难确测量，这是因为发射率不仅与材料有关，而且还与波长，温度，表面状态（表面粗糙度，氧化程度等）有关，本文叙述一种利用多波长辐射法测量实际物体真实温度的方法，该方法利用最小二乘法原理拟合出实际热辐射体的光谱发射率曲线，从而使测量目标的真实温度成为可能。     

光学元件高反射比、高透射比测试技术研究

 为了实现光学元件、光学薄膜等高反射比、高透射比的测量,以单次反射测量法为基础,并结合激光稳功率技术、双光路测量技术以及精密探测技术,建立了一套精密测试系统,实现对光学元件632.8 nm和1 064 nm两个波长下高反射比与高透射比的测量。实验和测量不确定度分析验证测试系统在632.8 nm波长下高反射比与高透射比的测量不确定度优于0.008%,在1 064 nm波长下高反射比与高透射比的测量不确定度优于0.015%。