由ψ(2S)→π+π－J/ψ道测量J/ψ轻子道衰变分支比

利用北京谱仪(BES)上取得的ψ(2S)数据,对ψ(2S)→π⁺π^－J/ψ,J/ψ→1⁺1^－和J/ψ→任意末态两个过程进行了细致的研究,得到J/ψ的轻子道衰变分支比为B(J/ψ→e⁺e^－)=(5.90±0.07±0.16)%和B(J/ψ→μ⁺μ^－)=(5.96±0.08±0.16)%,由此给出Be/Bμ的值为0.990±0.018±0.024.假定Be=Bμ,J/ψ的轻子道衰变分支比为B(J/ψ→1⁺1^－)=(5.93±0.05±0.16)%.上述结果可用来估计强相互作用耦合常数αs和QCD减除参数∧.     

在J/ψ衰变中寻找新物理

北京谱仪(BES)已收集了2.5×10⁷个J/ψ事例,并计划增加到10⁸—10⁹个.本文综述近年来在BES上寻找新物理的研究,包括在J/ψ衰变过程中探测新的味改变中性流,CP破坏和轻子味破坏.     

J/ψ→π03(π+π－)分支比的测定

用BESⅠ的7.8×10⁶J/ψ数据更为精确地测定了J/ψ→π⁰3(π⁺π^－)和J/ψ→ω²(π⁺π^－)的分支比(Br(J/ψ→π⁰3(π⁺π^－))=(2.52±0.06±0.43)%,Br(J/ψ→π⁰3(π⁺π^－))=(1.31±0.09±0.21)%.同时对4π不变质量谱和ωππ不变质量谱进行研究分析,试图观察是否存在有兴趣的信号.     

ψ′衰变中VP和PP模式的事例产生器

在北京谱仪(BES)原有模拟程序框架下,建立了适用于J/ψ,ψ’衰变到VP和PP模式、以及ψ→π⁺π^－ J/ψ而后J/ψ衰变到VP和PP模式的事例产生器,考虑了相应的角分布,为J/ψ,ψ′物理的研究提供了方便,在ψ′→γη,γη′,ωπ⁰,π⁺π^－,K⁺,K^－等分支比的测量中,这一事例产生器可用于选择效率的确定和本底估计.     

J/ψ强衰变中f2(1270)性质的实验研究

本文基于北京正负电子对撞机(BEPC)上北京谱仪(BES)所收集到的2.5×10⁶J/ψ重建刻度后的事例,研究了强子衰变道J/ψ→ωf₂(1270),f₂(1270)→π⁺π^－所揭示出的共振态f₂(1270)的性质,测量了它的质量、宽度和分支比,利用最大似然法对角分布进行了拟合,给出自旋宇称为2⁺⁺,首次得到螺旋度振幅比为x=0.99±0.29; y=－0.24±0.17; z₁=0.90±0.57;z₂=0.56±0.22.     

通过J/ψ→ppω 衰变研究N的理论公式

给出了利用J/ψ→ppω研究N^*分波分析理论公式. 结合BES的58M J/ψ事例，将对可能存在的低激发态N^*进行研究.     

J/ψ衰变中f0(975)的实验研究

本文基于北京正负电子对撞机(BEPC)上北京谱仪(BES)所收集到的国家自然科学基金资助.7.8×10⁶J/ψ事例,系统研究了J/ψ→φπ⁺π^－和J/ψ→ωπ⁺π^－两个衰变道,给出了过程的分支比以及f₀的位置和宽度参数,并对J/ψ→φf₀,f₀→π⁺π^－过程的角分布进行了拟合,首次确定出该过程的螺旋度振幅比.     

BEPC上的J/ψ物理和推广的矩分析

北京正负电子对撞机(BEPC)和北京谱仪(BES)至1990年8月份已获取3×10⁶J/ψ事例并作了初步分析,预计1991年将可得到1—2×10⁷J/ψ事例.本文评述了J/ψ衰变中可能出现的新强子态,以及用推广的矩分析讨论了如何确定这些新强子态的自旋-宇称.     

在BEPC/BES上寻找同位旋标量1－+奇特态

在单态和多态耦合两种情况下,讨论了在BEPC/BES(北京正负电子对撞机/北京谱仪)上,通过J/ψ衰变过程J/ψ→V+X,X→a₂+π寻找同位旋标量1^－+奇特态的可能性.结果表明,对于J/ψ的辐射衰变过程和强子衰变过程,这种可能性都是存在的.     

北京谱仪上的J/ψ物理

利用BES上取得的9.0×10⁶ J/ψ数据,进行了系统的J/物理分析.证实了ξ(2230)的存在,并首次发现ξ(2230)的非奇异衰变模式.测量了f₀(980)、f₂(1270)的共振参数和极化.对J/ψ→K⁺K^－过程短分析的结果表明f_J(1710)是含有0⁺⁺和2⁺⁺两个态的宽结构.采用分波法测定了η(1440)、f₀(1500)的自旋宇称,得到它们的主要衰变模式.     

J/ψ衰变中的ΛΛ,ΛΛγ和ΛΛπ0产生

利用北京正负电子对撞机(BEPC)上的北京谱仪(BES)收集的7.8×10⁶个J/ψ事例,测量得到J/ψ→ΛΛ,ΛΛγ和ΛΛπ⁰三个衰变道的分支比分别为Br(J/ψ→ΛΛ)=(l.08±0.06±0.24)×10^－3,Br(J/ψ→ΛΛγ)－4(90% CL),和Br(J/ψ→ΛΛπ⁰)=(2.3±0.7±0.8)×l0^－4; 第一个衰变道的角分布为dN dcosθ=N₀(1+αcos²0),α=0.52±0.33±0.13.     

J/ψ共振参数的测定

利用北京正负电子对撞机(BEPC)和北京谱仪(BES),测量了e+e－对撞束在J/ψ共振峰附近能区内末态为强子、e⁺e^－和μ⁺μ^－的实验观测截面,对这些截面的拟合得到J/ψ衰变宽度和分支比的新的实验测定值:Γ=84.4±8.9keV,Γh =74.1±8.1keV,Γe=5.14±0.39keV,Γμ=5.13±0.52keV, /=(87.8±0.5)%,Γe/Γ=(6.09±0.33)%,Γh/Γ=(6.08±0.33)%.     

J/ψ能区强子单举产生的实验研究

利用北京谱仪(BES)获取的2×10⁵ J/ψ事例,首次给出J/ψ能区π^±、π⁰、K^±、K⁰_s、ρ⁰.K^*0、K^*±、φ等介子和p、Ξ^±、Σ^±(1385)等重子的单举产额,并与理论模型进行比较,结果表明唯象模型向低能区的延拓是可行的. 同时得到J/ψ能区的奇异抑制因子s/u ～0.3,自旋抑制因子V/(V+P)～0.3—0.5,与ARGUS在Υ能区的测量结果一致,说明SU(6)对称性破缺在J/ψ能区也是存在的.     

J/ψ→γγV(ρ,φ)衰变的实验研究

利用北京谱仪(BES)收集的7.8×10⁶ J/ψ事例,对J/ψ→γγV(ρ,φ)衰变道中的η(1430)共振态进行了分析.从J/ψ→γγρ衰变模式得到其质量及衰变宽度分别为1431±17MeV和88±28MeV,衰变分支比Br(J/ψ→γη(1430))Br(η(1430)→γρ)=(1.1±0.5±0.3)×10^－4;而从J/ψ→γγφ衰变模式得到其质量及衰变宽度分别为1424±15MeV和73±58MeV,衰变分支比Br(J/ψ→γη(1430))Br(η(1430)→γφ)=(2.0±1.0±0.6)×10^－4.     

北京谱仪上J/ψ→γπ0、γη、γη'→3γ衰变道的分支比测量

分析J/ψ衰变终态为三个光子的衰变道,测量得到了衰变道J/ψ→γπ⁰和J/ψ→γη’的分支比分别为Br(J/ψ→γπ⁰)=(4.6±1.1)×10^－5和Br(J/ψ→、η＇)=(4.12±0.82)×10^－3;相对分支比F(J/ψ→γη’)/F(J/ψ→γη)=4.79±0.85,在实验误差范围内与两个理论模型的预言都能一致.     

ψ(3770)→J/ψπ+π—强跃迁过程的首次观测

观测到ψ(3770)衰变到J/ψπ⁺π^—非DD末态迹象.利用工作在北京正负电子对撞机上的北京谱仪探测器在质心系能量3.773GeV附近获取的8.0±0.5pb^-1数据样本,共观测到6.8±3.0个ψ(3770)→J/ψπ⁺π^—事例.由此得到的分支比为BF(ψ(3770)→J/ψπ⁺π^—)=(0.59±0.26±0.16)%,其对应的分宽度为Γ(ψ(3770)→J/ψπ⁺π^—)=(139±61±41)keV.     

一种运动学拟合的新方法

介绍了在事例重建中使用的一种运动学拟合的新方法.在这种新方法中使用了ragulafalsi方法来处理约束方程,代替了常用的线性近似法.同时利用了E705/E771实验的J/ψ→μ⁺+μ^－蒙特卡罗数据检验了本方法,发现动量分辨率在新方法中有明显的提高.     

大角度巴巴散射和双μ产生的研究与亮度测量

利用北京谱仪(BES)在S=4.03GeV下正负电子对撞数据,研究了巴巴和双μ事例的QED过程.结果表明,实验数据在误差范围内同QED预言较好地一致,且从e⁺e^－和μ⁺μ^－末态测出的两亮度值在4%范围内相互一致.计算给出:BES在该能区获取数据的总积分亮度为23.1pb^－1.     

过程J/ψ→γX,X→P1P2中X自旋的矩分析法

本文给出了用矩分析法分析J/ψ→γX,X→P₁P₂辐射衰变过程中玻色子X自旋的原理和方法,并利用这种方法对θ(1720)的自旋进行了蒙特卡洛研究,从中看到该方法可以有效地测定X的自旋.作为一个例子,把该方法用于北京谱仪(BES)J/ψ→γK⁺K^－衰变道低质量区域共振态的自旋分析,结果表明该方法是可行的.     

寻找1+－奇特态再探

为了便于BES(北京谱仪)做数据分析,本文给出了在J/ψ→ωX,ω→2π或3π,X→KKπ反应中寻找1^+－奇特态的一些新的关系式.并且对于在三级二体衰变过程J/ψ→ωX,ω→2π或3π,X→K*K,K*→Kπ中如何寻找1^+－奇特态的问题作了讨论.