X射线荧光光谱分析中理论α系数的快速计算

在X射线荧光光谱分析中,采用理论α系数对基体效应进行校正已被人们所重视,因其具有所需标样少、分析范围广、通用性强、手续简便等优点。笔者先假设若干组二元体系用NLRXRF程序计算理论相对强度,再由Lachance-Traill模式求得基本α系数,进而推算混合α系数和修正α系数。本文对地质岩石样品中硅酸盐系列的理论α系数作了计算,取得了满意的结果。一、理论α系数的计算     

理论α系数的计算及其应用

本文根据Lachance先生来华讲学的练习和Shiraiwa等推导的X射线荧光强度公式推出了计算几种α系数的公式,并把计算出的理论α系数用于硅酸盐的分析中,获得了较好的分析结果。一、理论α系数的计算利用原级X射线谱强度分布等参数计算理论α系数分为以下四步: 1.基本α系数(α_(?))的计算基本α系数,就是元素之间的影响系数。首先使用Shiraiwa等X射线荧光强度计算公式,根据设定一组二元组份含量计算出理论强度比R_(?),然后把它们代入L-T方程计算出基本α系数。     

理论α系数在X射线荧光光谱法分析钢铁成分中的应用

本文用ＤＲＡＬＰＨＡ程序计算了一套钢铁体系的理论α系数，对钢铁中１２种元素间的吸收－增强效应进行了数学校正，在较宽的浓度范围内对钢铁成分进行了分析。该方法具有通用性强，所需标准样品少以及校正结果准确等优点。     

理论α系数的计算及其在X射线荧光分析中的应用

本文根据加拿大著名X光谱分析专家LACHANCE82年10月来华讲学报告,推出了混合α系数,修正α系数和烧失量对分析元素氧化物的α系数的计算公式。首先应用Shirawa等人推导的X射线荧光强度的理论公式,计算一组设定的二元组份含量的理论强度比Ri,将其代入L     

X射线荧光光谱分析中基体效应的数学校正方法新探

用开发的ＴＢＨＸＲＦ基本参数法程序计算了复杂样品的基体效应。提出一个修正多元体系基体效应的校正数学模型和计算影响系数α及β，导出的校正模式及影响系数的物理意义清楚、明确。用该法分析了不锈钢样品获得良好的结果。还指出在某些情况中，三次荧光的影响不能忽略，从对比实验中得出结论，对Ｎｉ浓度高的钢铁样品在分析Ｃｒ时，必须考虑Ｎｉ、Ｆｅ对ＣｒＫα的三次荧光效应影响。     

只用一个参比标样的X射线荧光光谱分析的经验系数法

前文曾推导出以表观活度系数法的参数β_(ij)和m_(ij)来表达的经验系数表达式,并利用这些表达式计算了化学成分。然而上述计算要求计算对纯元素的相对强度。本文在前文基础上,进一步推导出只用一个参比标样“a”的经验系数表达式: 利用上述表达式,仅需制备一个参比标样便可进行经验系数法的计算,这便大大简化了实验手续。为此,用BASIC语言编制了专用迭代程序。计算结果表明,与化学分析结果符合较好。     

锰结核中硅,铝,铁,镁,磷,钾,锰,钛的XRFA

本文叙述了用XRF分析锰结核中Si、Al、Fe、Mg、P、K、Mn和Ti的方法。按照通常锰结核的主次成分制备6个人工合成标准,根据Sherman方程计算了已知成分(二元系统)的相对强度。用L-T方求得了互致元素校正的理论α系数(基本的、混合的、修正的),用DATAFLEX151B计算机以BASIC语言汇了“PRA,APU”计算机程序。然后进行非线性回归分析了锰结核样品得到了满意的结果。     

X射线荧光光谱检测多层薄膜样品的增强效应研究

研究了X射线荧光光谱检测多层薄膜样品的增强效应。根据多层膜中的X荧光强度理论计算公式编写了计算机程序,并计算了Zn/Fe和Fe/Zn双层膜样品中不同薄膜厚度时Fe Kα的一次荧光强度、二次荧光强度、二次荧光与一次荧光强度比以及二次荧光在总荧光强度中比例。研究发现,在多层膜样品的X射线荧光分析中,激发条件不变的情况下,元素谱线的一次荧光相对强度、二次荧光相对强度和二次荧光在总荧光强度中所占比例都随薄膜厚度及位置的变化而变化。当Fe和Zn层厚度相同时,随厚度的变化,对于Fe/Zn样品,Fe Kα二次荧光强度占总荧光强度最高为9％,而对于Zn/Fe样品这一比例最高可达35％。     

基本参数法和经验系数法相结合的一种新尝试

本文提出应用Shiraiwa等人推导的X射线荧光强度的理论公式计算一组包含各试样组分的浓度所对应的理论强度,再根据设定组分浓度和计算得到的理论强度比求解R-H方程中元素间相互作用系数,为了修正理论计算的强度比和实验测得的强度比之间的偏差,我们用Delta系数法予以改善,将此法(基本参数法和Delta系数法相结合的方法,简称为FPM-Delta法)应用于不锈钢、铝合金中杂质的分析,取得了优于基本参数法而接近于经验系数法的结果。显示出本法具有快速、简便以及兼取了基本参数法和经验系数法二者优点等特点。     

X射线荧光分析中吸收和增强效应的理论校正

本文以“初级光谱有效吸收系数μ(λ)的概念,重新整理基本参数方程,得出了与Rousseau算法相似的理论校正方程: 但式中α和β与Rousseau算法中的α和β的数学表达式不同。μ(λ)的引入使α和β的计算变得简便快速而又精确。这里,吸收校正小数α是常数,可予先计算,而增强校正系数β是基体的函数,应根据实际组分即时计算。     

金属锡Rayleigh-Taylor不稳定性对模型参数敏感性的数值分析

利用自研的爆轰与冲击动力学欧拉计算程序和Steinberg-Guinan(SG)本构模型,数值模拟分析了样品初始参数(初始振幅、初始波长、样品初始厚度)和SG本构模型初始参数对爆轰驱动锡Rayleigh-Taylor(RT)不稳定性增长的影响。结果表明金属锡样品的初始参数对其RT不稳定性增长有很大的影响。RT不稳定性增长随着初始振幅的减小而减小,且存在一个截止初始振幅;存在一个最不稳定的模态(波长),当初始波长大于该波长时,RT不稳定性增长随着初始波长的减小而增大,反之,RT不稳定性增长随着初始波长的减小而减小;样品厚度的增大可以抑制RT不稳定性增长,而且存在一个样品截止厚度。金属锡的RT不稳定性增长对其SG本构模型应变硬化系数和应变硬化指数的变化不敏感,而对压力硬化系数和热软化系数比较敏感。从采用扰动增长法预估材料强度的角度来说,修正压力硬化系数以获得锡合理的材料强度是合理的途径。     

热力学方法在处理XRF数据中的应用

应用热力学方法处理X-射线荧光光谱分析(XRF)数据是1983年文献[1]首次提出。XRF中相对强度R被视为表观活度(即有效浓度),R/X比(相对强度/重量分数)视为表观活度系数γ。应用了lgγ_(B,A)/X_A~(?)=β形式的亚正规溶液方程式来描述和计算A-B二元体系表观活度系数随成份X_A变化的关系。多元体系中XRF的R/X比可根据以下关系式由二元体系已知表观活度系数计算: γ_(A,B,C)……=γ_(A,B)·γ_(A,C)……γ_(B,A,C)……=γ_(B,A)·γ_(B,C)……我们采用文献[2],[3]二元体系数据计算三元系参数,计算结果表明上述关系在允许误差范围内基本能满足要求。由三元系试样的相对强度R和二元系数据计算三元体系未知组分的成分可以用迭代的方法借助微型计算机来实现。为了进一步验证热力学方法处理XRF数据的可行性,我们研制了Cu-Ni-Fe-Zn粉末压片的二元,三元,四元系,含量范围较宽的样品,并测定了各组分的相对强度R。计算结果表明亚正规溶液模型对二元体系获得的结果最好。为了满足分析化学对准确度的要求,我们进一步提出了以下的修正数模(TM-3): 根据上述关系式,用实验数据计算的结果与人工配料组成相比的符合程是令人满意的,且与C-Q方程计算的结果一致。(见表1和表2)     

Ar+17和 Ar+16谱线的电子碰撞展宽

利用修改后伦敦理工大学的UCL扭曲波程序, 本文计算了自由电子与原子或离子的碰撞反应矩阵, 以此得到它的散射矩阵和碰撞强度.利用碰撞强度, 研究电子碰撞对辐射谱线影响.具体地, 以Ar⁺¹⁷和Ar⁺¹⁶的α线和β线为例, 计算了不同电子温度和密度下谱线的展宽和位移.     

液体混合物导热系数预测模型

以质量分数加和法为估算液体混合物导热系数的基础上,考虑液体混合物中各组分导热系数的比值对混合物导热系数的影响,通过回归拟合修正质量加和法,导出了一种相关参数少,适用范围广且精度高的混合物导热系数关联式。利用该关联式计算了二组分及三组分液体混合物的37个物系38组858个导热系数,将计算值与质量加和法、幂律法、陈则韶方程等式计算结果进行比较,其总平均相对偏差为0.29%,最大相对误差不超过2.7%。     

X射线荧光光谱法表征薄膜进展

X射线荧光光谱法表征薄膜样品以其能同时测定样品的组分和厚度等优点,目前在国内外的研究和应用越来越广泛和深入。文章通过从荧光强度理论计算、基体效应和校正方法、分析误差来源及消除、定量分析软件和实际分析应用等几个方面对X射线荧光光谱法表征薄膜样品的研究作了评述。鉴于薄膜样品制备相似标样比较困难,而基本参数法采用非相似标样表征薄膜的准确度较高,因此基本参数法校正薄膜样品的应用比较广泛。重点介绍了基本参数法的荧光强度理论计算公式的发展、计算误差来源以及分析软件应用。展望了X射线荧光光谱法表征薄膜样品的应用前景和发展方向。     

质量衰减系数的计算与应用

质量衰砬系数μｍ是Ｘ射线理论强度计算中一项必需而重要的基本参数，它包括元素本身，元素间和元素对某波长的质量吸收，本文选用四种拟合式，用Ｃ语言编制成程序，任选波长计算与实验值进行比较，确定其精确度，提供给ＦＰ法计算初级和次级激发理论强度。     

变化的理论α影响系数在校正Cr-Fe-Ni不锈钢基体效应中的应用

通过Spectra Plusx射线荧光光谱分析软件计算了7个不锈钢标准样品中的其它元素对Cr的理论α影响系数,发现对Cr有二次激发的增强元素的理论α影响系数随着元素含量的变化变动较大。采用随元素含量的变化而变化的理论α影响系数校正不锈钢中的基体效应,较好地校正了其他元素对Cr的增强效应,并使不锈钢和低合金钢中的Cr含量(0．3％～20．8％)可以通过一条校准曲线进行测量。变化的理论α影响系数可以校正含量变化较大的元素的基体效应,可以适当延伸校准曲线的含量分析范围。采用X射线荧光光谱法测定不锈钢中的Al,Si,P,S,Ti,Cr,Mn,Co,Ni,Cu,AS,Mo,Sn,W,Pb等15个元素的含量,用变化的理论α影响系数校正基体效应,测量结果与湿法化学分析结果相符。     

Influence of Chemical Effect on the Kβ/Kα Intensity Ratios and KβEnergy Shift of Co, Ni, Cu, and Zn Complexes

报导了钴、镍、铜、锌络合物中的化学效应对Kβ/Kα强度比和Kβ能量位移的影响. 实验样品用241Am环状放射源发出的能量为59.5 keV的γ射线激发. 对样品发射的K段X射线进行检测的检测器在5.9 keV处的分辨率为150 eV. 观察了不同配体对钴、镍、铜、锌络合物的Kβ/Kα强度比和Kβ能量转移的影响,并试图解释这些配体的性质对中心原子产生的化学效应. 对实验得到的Kβ/Kα强度比数据,理论计算获得的Kβ/Kα强度比数据及其它实验得到的纯钴、镍、铜、锌的Kβ/Kα强度比数据进行了比较.     

中国实验快堆燃料组件精细功率分布计算

在热工中,需要中子学计算给出燃料组件内各元件棒功率的相对分布。利用蒙特卡罗程序对中国实验快堆（CEFR）燃料组件内元件棒功率分布进行了理论计算分析,并保证计算结果相对统计误差小于0.8%。使用另一个基于六角形节块扩散理论的钠冷快堆中子学设计软件NAS计算得到的结果对蒙特卡罗程序计算结果进行了对比计算。结果表明,蒙特卡罗程序与NAS计算得到的元件棒相对功率分布结果的最大相对偏差小于3%。使用蒙特卡罗程序对CEFR燃料组件内精细功率分布的计算是可靠的,可用于设计计算当中。     

理论α系数在铝硅耐火材料X射线荧光光谱分析中的应用——理学基本参数法程序的应用之一

国内外早已采用熔融法X射线荧光光谱测定耐火材料中主元素,人们普遍认为采用X荧光测定铝硅耐火材料的最终产品,与化学法相比,分析时间要快好几倍。国内在测定铝硅耐火材料时,几乎都是用一套标样的回归法求取经验系数。本文将利用日本理学的基本参数法程序,对理论α系数应用于铝硅耐火材料分析方面进行了探