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相似文献
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1.
本文研究了电感耦合等离子体原子发射光谱分析Kalman滤波法测定高纯氧化铕中的14种其他稀土杂质的方法。Kalman滤波法有效地消除光谱干扰,可利用受干扰的光谱灵敏线,因而可提高灵敏度,是一种在大量基体存在下测定痕量杂质的有效方法。  相似文献   

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本文研究了电感耦合等离子体原子发射光谱分析Kalman滤波法测定高纯氧化铥中的14种其他稀土杂质的方法。Kalman滤波法有效地消除光谱干扰,可利用受干扰的光谱灵敏线,因而可提高灵敏度,是一种在大量基体存在下测定痕量杂质的有效方法。  相似文献   

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本文研究了电感耦合等离子体原子发射光谱分析Kalman滤波法测定高纯氧化铕中的14种其他稀土杂质的方法。Kalman滤波法有效地消除光谱干扰,可利用受干扰的光谱灵敏线,因而可提高灵敏度,是一种在大量基体存在下测量痕量杂质的有产方法。  相似文献   

4.
皮棉杂质透射检测及成像目标增强方法   总被引:2,自引:0,他引:2       下载免费PDF全文
郏东耀  丁天怀 《物理学报》2005,54(9):4058-4064
由于皮棉中白色或无色的杂质与皮棉反射特性相似,现有的光谱反射成像检测方法具有一定 的局限性.对皮棉杂质的光透射成像检测方法进行深入研究.在分析杂质及棉纤维透射特性基 础上,建立了光透射成像机理模型.研究了光透射成像系统中光源种类、光源能量、棉层厚 度及皮棉运动速度对成像目标的影响.根据棉层中透射光子的传播特性,提出利用高速CCD俘 获非漫射光子及统计滤波处理方法以增强成像目标,并分析了高速CCD曝光时间与成像目标 清晰度的量化关系.结果表明,所提出的光透射检测及成像目标增强方法,可获得清晰的目 标图像特征,检测结果与实际相符,此方法不仅为检测皮棉中各种白色或无色杂质提供一种 有效途径, 而且还可推广到红外及其他波段的成像系统中,对于微弱目标的透射成像检测 提供一种新的思路. 关键词: 皮棉杂质 透射成像 准直线光子 目标增强 统计滤波  相似文献   

5.
含双负缺陷的一维光子晶体耦合腔的杂质带特性   总被引:7,自引:0,他引:7       下载免费PDF全文
利用转移矩阵方法研究了含双负缺陷的一维光子晶体耦合腔的透射谱.计算结果表明,如果改变缺陷的折射率,缺陷模之间的耦合作用将发生改变,使得能隙中的杂质带也随之改变.若这个折射率取适当值,则可以在禁带中同时出现几个尖锐的透射峰和较宽的通带,这种结构可同时用于多通道窄带滤波和宽带滤波. 关键词: 光子晶体 缺陷模 杂质带 滤波  相似文献   

6.
介绍了高纯稀土氧化物中微量稀土杂质的光谱测定方法,本工作用碳粉做缓冲剂,KBH4做载体,用化学方法将大量稀土分离掉,而后对余下微量和稀土杂质进行光谱测定。只要取样量不少于1克,则可测定的纯度为99.99995%的稀土样品。  相似文献   

7.
s—d系统的统一模型与稀磁合金低温杂质电阻的特性   总被引:2,自引:0,他引:2  
本文基于sd混合效应与sd交换效应(包括RKKY关联效应)的统一模型,利用格林函数方法,研究了稀磁合金低温杂质电阻的特性,合理地解释了sd系统中,sd混合模型、sd交换模型及RKKY关联模型各单一的物理效应  相似文献   

8.
Kalman滤波法消除光谱连续背景的研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文研究了Kalman滤波法消除光谱连续背景,以电感耦合等离子体原子发射光谱法测量氧化铽中La,Er,Gd,Dy,Du和Tm为例研究了不同背景情况下的结果。用新息序列的平均平方和正交自相关系数超过出信度极限以外数为评价函数,可评价所估计的背景形状,是一种不用测背景,用计算方法消除光谱连续背景的好方法,本方法不仅适用于电感耦合等离子体原子发射光谱,对分光光度,原子等原则上都可适用。  相似文献   

9.
高纯氧化镧中微量稀土杂质的化学光谱法测定   总被引:3,自引:0,他引:3  
本文介绍了高纯氧化镧中微量稀土杂质的化学光谱测定,将La2O3通过P507萃淋树脂分离富集,将大量基体分离掉,剩下微量的稀土杂质,用C粉吸附后加KBH4做载体进行光谱测定。本方法可测定99.9999%纯度的La2O3中的微量稀土杂质。  相似文献   

10.
在聚变堆条件下,等离子体中杂质将严重影响燃料的浓度,并产生大量的功率损失而倍受关注。普遍用于托卡马克等离子体杂质输运研究的方法是瞬态扰动法,主要以主动注入杂质源来研究杂质的扩散和对流过程。短脉冲型的杂质注入一般可采用快过程的压电阀和激光吹气两种方式,而激光吹气方法是一种不容置疑的最好的杂质输运研究方法,因为杂质的注入时间和注入量都可以得到很好的控制,几乎能研究任何状态的等离子体杂质输运过程并对等离子体参数的扰动最小。杂质输运信息可通过探测杂质离子的辐射来得到,这些辐射主要包括由光谱仪测量的线辐射信号和由软X射线成像技术得到的软X射线辐射信号,通过这些测量可带出杂质分布的空间和时间演化的信息,再利用数值模拟计算编码,重建实验数据,从而得到杂质输运的扩散系数D、对流速度V和约束时间等。  相似文献   

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