均匀设计法在优化青霉素1~＃、2~＃菌种培养基配方中的应用

我们将均匀设计法与传统正交设计法相结合，通过实验成功地优化青霉素菌种配方，筛选培养基。（仅ｕ／ｍｌ这一项就比对照１＃配方高２０．７５％，比２＃配方高３１．８４％）。     

均匀设计及其应用（Ⅲ）

均匀设计及其应用（Ⅲ）方开泰第三章均匀设计表的构造本章介绍均匀设计表的构造和使用表的来源，其中涉及到均匀度的度量。在理解了表的构造原理冬我们就能比较灵活地运用均匀设计，故本章也介绍均匀设计这方面的知识。§１均匀设计表的构造定义１：每一个均匀设计表是一...     

混料均匀设计

本文详细讨论了获得混料均匀设计表的三种方法——变换法、迭代法和循环拉丁方型方法。作为迭代法的结果,在附录,本文给出了试验次数为4≤n≤11的改进后的混料均匀设计表。     

设计效应在复杂样本设计中的应用研究——以我国住户调查为例

本文首先给出并分析了影响复杂抽样设计效率的要素构成,明确了设计效应在抽样误差量度方面所具有的优势;其次,针对设计中的诸多要素,建立不同要素组合设计效应模型和综合设计效应模型,构建了对复杂抽样设计进行有效分析的理论分析框架;最后,以我国住户调查为例,给出设计效应在我国复杂样本设计中的应用。     

区组大小为 4 的二重超单可分解的可分组设计

自 1992 年 Gronau 和 Mullin 提出超单设计的概念以来, 很多研究者参与了超单设计的研究. 超单设计在编码等方面也有广泛的应用. 超单可分组设计是超单设计的重要组成部分. 本文我们主要研究区组大小为4 的二重超单可分解的可分组设计, 并基本解决了此类设计的存在性问题.     

六点七边图的λ-填充与λ-覆盖

λKv为λ重v点完全图,G为有限简单图.λKv的一个G-设计(G-填充设计,G-覆盖设计),记为(v,G,λ)-GD((v,G,λ)-PD,(v,G,λ)-CD),是指一个序偶(X,B),其中X为Kv的顶点集,B为Kv中同构于G的子图的集合,称为区组集,使得Kv中每条边恰好(至多,至少)出现在B的λ个区组中.一个填充(覆盖)设计称为最大(最小)的,如果没有其它的填充(覆盖)设计有更多(更少)的区组.本文中,我们构作了三个六点七边图的最大填充与最小覆盖.     

均匀设计及其应用

均匀设计及其应用方开泰编者按：最近内刊上记者以标题“我国独创的“均匀设计”在国际领先，其社会经济效益不可估量”报导了均匀设计在飞航导弹及国民经济的应用及其潜在的重要作用，建议在我国采取计划推广与市场推广相结合的办法．本刊很高兴邀请均匀设计的发明人之一...     

均匀设计方法在望目特性参数设计中的应用

1.引言。 参数设计是是日本田口玄一博土(Dr.Genichi Taguchi)创立的优化方法。主要内容为探求参数的最佳搭配,提高产品性能的稳定性。 均匀设计是我国王元教授和方开泰教授共同提出的。其关键是将数论方法应用于试验设计,以均匀分散为标准,使试验点均匀地分布在试验范围内,使每个试验点有充分的代表性。这样,均匀设计的试验点比正交设计的试验点分布得更均匀,又由于不再考虑“整齐可比”性,而大大减少了试验次数,也就大大减少了试验费用。     

一个六点七边图的填充与覆盖

$\lambda{K_v}$为$\lambda$重$v$点完全图, $G$ 为有限简单图. $\lambda {K_v}$ 的一个 $G$-设计 ( $G$-填充设计, $G$-覆盖设计), 记为 ($v,G,\lambda$)-$GD$(($v,G,\lambda$)-$PD$, ($v,G,\lambda$)-$CD$), 是指一个序偶($X,\calB$)，其中 $X$ 为 ${K_v}$ 的顶点集， $\cal B$ 为 ${K_v}$ 中同构于 $G$的子图的集合, 称为区组集,使得 ${K_v     

λKv的最大K2,3填充设计和最小K2,3覆盖设计

对于一个有限简单图G,λK_v的G-设计(G-填充,G-覆盖),记为(v,G,λ)-GD((v,G,λ)-PD,(v,G,λ)-CD),是一个(X,B),其中X是K_v的顶点集,B是K_v的子图族,每个子图(称为区组)均同构于G,且K_v中任一边都恰好(最多,至少)出现在B的λ个区组中.一个填充(覆盖)设计称为是最大(最小)的,如果没有其它的这种填充(覆盖)设计具有更多(更少)的区组.本文对于λ>1确定了(v,K_2,3,λ)-GD的存在谱,并对任意λ构造了λK_v的最大K_2,3-填充设计和最小K_2,3-覆盖设计.     

λKv的最大K2,3填充设计和最小K2,3覆盖设计

对于一个有限简单图G,λKv的G-设计(G-填充,G-覆盖),记为(v,G,λ)-GD((v,G,λ)-PD,(v,G,λ)-CD),是一个(X,B),其中X是Kb的顶点集,B是Kv的子图族,每个子图(称为区组)均同构于G,且Kv中任一边都恰好(最多,至少)出现在B的λ个区组中.一个填充(覆盖)设计称为是最大(最小)的,如果没有其它的这种填充(覆盖)设计具有更多(更少)的区组.本文对于λ>1确定了(v,K2,3,λ)-GD的存在谱,并对任意λ构造了λKv的最大K2,3-填充设计和最小K2,3-覆盖设计.     

均匀设计抽样的偏差

该文证明了均匀设计抽样点集的偏差为O（n－1（lnn）d），另外也证明了随机化均匀设计点集的偏差有同样的阶．最后进行了随机模拟．     

弱相关试验设计

将选择交换向量分量的方法引入蒙特卡诺法,向量搜索速度大大提高,构造出了m×(m-1)维弱相关设计矩阵,只要m≠4k+2,k为正整数,便都包含一个零相关子阵,试验点分布均衡分散,回归系数估计简单且相关性小.给出了一个包含7×3维零相关子阵的7×6维弱相关矩阵的例子.     

关于田口参数设计的专家评论

参数设计（也称稳健设计）是由日本质量专家田口提出的一种质量改进技术．它被认为是一种减少产品（或工艺）波动的经济有效方法．尽管直到１９８０年它才被引入到美国，然而田口有关质量改进思想的形成要追溯到５０年代．虽然当时日本国内田口思想没被普遍认识和接受，但一些公司和质量控制协会已在广泛使用该技术．１９８０年田口接受Ａｏｙａｍａ－ｇａｋｕｉｎ大学的资助并讲授他的质量改进思想．他接触了几个公司和研究院，包括ＡＴ＆Ｔ和Ｘｅｒｏｘ．在此之前美国人对田口思想的反映是持怀疑态度．但他设法吸引了一些人的兴趣．或许是８０年代初期由于对日本人质量实践的广泛关注，这种兴趣逐落增强．在ＡＴ＆Ｔ，Ｘｅｒｏｘ和其它地方及组织如美国供应者协会的一些人的帮助下，推动了田口思想在工业界的应用．由贝尔试验室的质量保证中心组织的１９８４和１９８５年两个Ｈｏｈｏｎｋ会议，在向统计界介绍田口思想以及促进一系列研究方面起了很大的作用．十年来已发现了许多关于四口参数设计思想的讨论和在工业上的许多应用． 现在我们已积累了相当多的经验，全面回顾一下参数设计及有关技术并提供给读者似乎合乎时宜．现已发表了对田口思想进行解释、概括和评论的一些书及文章．然而其中的大多数     

均匀设计及其应用（二）

均匀设计及其应用（二）方开泰第二章均匀设计的应用由于均匀设计要求的试验数较少，我们无法直接估计出各因素的主效应和交互效应，只能通过回归模型来建立试验指标（Ｙ）和各因素之间的关系，利用这种关系来寻求最优工艺条件或最优配方．试验设计的目的通常主要有二个，...     

一种构造E(s~2)最优超饱和设计的方法

本文中我们基于E(s2)最优超饱和设计和区组设计之间存在的对等关系,利用构造区组设计的方法之一－循环设计法,通过最小化ｆｒｍａｘ的进一步区分,对试验次数２４的情形,构造了相应的一系列超饱和设计．同时与现有的一些结果作了比较,验证了我们构造的设计的优良性。     

混料切片试验设计

混料试验设计在众多领域中都有广泛的应用,有时试验者不仅仅需要考虑各混料成分所占比例对响应变量的影响,同时还关心其它被称为过程变量的因素.在实际中,对于这类问题通常使用的设计方案是混料设计和因子设计的组合设计.这种组合设计在过程变量的不同水平组合下,使用的是相同的设计阵,因此空间填充性较差.基于混料球体堆积设计,文章提出了一类新的混料设计,称之为混料切片设计,它的整体设计和所有子设计(过程变量的每一水平组合对应的混料设计)都具有很好的空间填充性,从而比组合设计有更好的模型稳健性.基于同余子群的陪集分解方法,针对过程变量水平组合数的不同情况提出了相应的简单快速的构造算法,文章最后的数值例子解释了算法的可行性和设计的有效性.     

一种构造E（s^2）最优超饱和设计的方法

本文中我们基于Ｅ（ｓ＾２）最优超饱和设计和区组设计对等关系。利用构造区组设计的方法之一,－－循环设计法,通过最小化ｆｒｍａｘ的进一步区分,对试验次数≤２４的情形,构造了相应的一系列超饱和设计,同时与现有的一些结果作了比较,验证了我们构造的设计和优良性。